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微型计算机散热不畅将导致元器件损坏,实验表明,温度每升高()系统可靠性降低15%。

  • A、1℃
  • B、5℃
  • C、10℃

参考答案

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考题 1mol理想气体经绝热可逆膨胀后,系统温度将() A、升高B、降低C、不变D、可能升高也可能降低

考题 测试表明,排烟温度每升高12-15℃,锅炉效率就会下降() A.1%B.2%C.5%D.0.50%

考题 小型元件焊接中,一般要用镊子夹持元器件,这耐镊子还起着()作用 A、降低焊接点温度B、帮助元器件散热C、提高焊接质量

考题 当电子元器件和集成电路上吸附尘埃过多时,将会降低其散热能力;当元器件内落入导电尘埃后,会使元器件间的绝缘性能降低,严重时会造成()。 A.温度过高B.温度降低C.腐蚀D.短路

考题 温度对酶促反应速率的影响表明,在适宜温度范围内,温度每升高10℃,反应速率可提高(  )。 A.1~2倍 B.3倍 C.3~4倍 D.5倍

考题 给水温度升高时,将导致锅炉主汽温度()A、降低B、升高C、不变D、无主汽温度无关

考题 环境散热能力(),着火温度将()。A、强;升高B、弱;升高C、强;降低D、弱;不变

考题 排烟温度每升高12~15℃,排烟热损失将提高()。A、0.5%B、1%C、1.5%D、2.2%

考题 脑部温度每降低1℃,脑代谢可降低10%,颅内压可降低5%。

考题 以下哪一个会导致进气系统渗漏().A、密封垫损坏B、进气管堵塞C、进气温度升高D、进气温度降低

考题 大气温度随高度的变化规律是高度每升高1000米时()A、温度升高5℃B、温度降低5℃C、温度降低6.5℃D、温度降低9.5℃

考题 输电线路下的工频电场强度可以通过升高杆塔高度来降低,一般线路每升高1m,磁感应强度降低()左右。A、5%-10%B、10%-%15C、15%-20%D、20%-25%

考题 往复压缩机压缩机出口系统压力降低,导致压缩机()。A、入口温度降低B、出口温度降低C、出口温度升高D、入口压力升高

考题 变换反应中,一般CO每降低1%,温度升高()℃。A、6B、10C、60D、15

考题 温度降低,会使反应速度加快,根据实验,温度每升高10℃,反应速度将加快2-3倍

考题 茶叶保存应注意温度的控制。温度平均每升高10℃,茶叶褐变速度将增加()倍。A、3—5B、2—3C、1—2D、1.0

考题 测试表明,排烟温度每升高12-15℃,锅炉效率就会下降()A、1%B、2%C、5%D、0.50%

考题 在一定温度范围内,反应速度随温度升高而加快,一般来说,温度每升高(),反应速度大约增加一倍?A、1℃B、2℃C、5℃D、10℃E、15℃

考题 高热可使机体新陈代谢增加,体温每升高1℃,新陈代谢将增加()A、5%B、10%C、15%D、20%E、25%

考题 当电子元器件和集成电路上吸附尘埃过多时,将会降低其散热能力;当元器件内落入导电尘埃后,会使元器件间的绝缘性能降低,严重时会造成()。A、温度过高B、温度降低C、腐蚀D、短路

考题 温度每升高10°C,电子计算机的可靠性下降()。

考题 排烟温度每降低12~15℃,排烟热损失约可减少()。A、1%B、3%C、5%D、10%

考题 单选题微型计算机散热不畅将导致元器件损坏,实验表明,温度每升高()系统可靠性降低15%。A 1℃B 5℃C 10℃

考题 单选题测试表明,排烟温度每升高12-15℃,锅炉效率就会下降()A 1%B 2%C 5%D 0.50%

考题 单选题热熔胶在罐内温度每升高10度,寿命会降低()。A 1/2B 1/4C 3/4

考题 填空题温度每升高10°C,电子计算机的可靠性下降()。

考题 单选题当电子元器件和集成电路上吸附尘埃过多时,将会降低其散热能力;当元器件内落入导电尘埃后,会使元器件间的绝缘性能降低,严重时会造成()。A 温度过高B 温度降低C 腐蚀D 短路