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单选题
颅内压监测的常用部位为()
A

侧脑室或硬脑膜外

B

第四脑室

C

第三脑室

D

蛛网膜下腔

E

颅内任何部位


参考答案

参考解析
解析: 颅内压监测的方法:以脑室导管法最常用,其次为硬膜外或硬膜下置管法。
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考题 导管法监测颅内压把导管置于A、硬膜下B、硬膜外C、脑实质D、蛛网膜下腔E、脑室

考题 中脑水管阻塞导致() A.不可能形成脑疝B.颅内压无降低C.第四脑室和侧脑室积水D.第三脑室和侧脑室积水E.第三脑室和第四脑室积水

考题 ICU最常用的颅内压监测方法是 A、硬膜外测压B、蛛网膜下腔测压C、脑室内测压D、头部硬膜下测压E、头部硬膜外测压

考题 颅内压监测的常用部位为A.颅内任何部位 B.第四脑室或硬膜下 C.第三脑室或室间孔 D.侧脑室或硬脑膜外 E.硬膜外腔或蛛网膜下腔

考题 脑脊液产生的部位是()A、第三脑室B、第四脑室C、蛛网膜下腔D、侧脑室脉络丛

考题 目前,颅内压监护最常用的指标为硬膜下监测和脑室内监测。

考题 目前最常用的颅内压监测法是()A、脑室内压力测定B、蛛网膜下腔压力测定C、硬膜外压力测定D、脑实质内压力测定E、颅内压波形

考题 常用的颅内压监测方法有A、硬脑膜外测压法B、脑室内置管测压法C、硬脑膜下测压法D、蛛网膜下腔测压法

考题 早产儿颅内出血的好发部位是()A、硬脑膜下出血B、脑实质出血C、颅底出血D、脑室周围-脑室内出血E、原发性蛛网膜下腔出血

考题 中脑水管阻塞导致( )A、不可能形成脑疝B、颅内压无降低C、第四脑室和侧脑室积水D、第三脑室和侧脑室积水E、第三脑室和第四脑室积水

考题 下述各部位的颅内肿瘤中,最早引起颅内压增高的是()A、额、顶部肿瘤B、垂体区肿瘤C、侧脑室内肿瘤D、第三、四脑室及导水管附近的肿瘤E、脑干肿瘤

考题 颅内压监测的部位有()A、脑室内B、硬脑膜下C、硬膜外D、鼻窦E、额窦

考题 颅内压监测的常用部位为()。A、侧脑室或硬脑膜外B、第四脑室或硬膜下C、第三脑室或室间孔D、硬膜外间隙或蛛网膜下间隙E、颅内任何部位

考题 脑脊液产生的主要部位()A、第三脑室脉络丛B、第四脑室脉络丛C、侧脑室脉络丛D、蛛网膜下腔E、蛛网膜颗粒

考题 脑脊液及其循环的具体途径是()A、侧脑室→中脑水管→第三脑室→室间孔→第四脑室→第四脑室正中孔和外侧孔→蛛网膜下隙→蛛网膜颗粒→硬脑膜窦→入血B、第三脑室→中脑水管→第四脑室→第四脑室正中孔和外侧孔→侧脑室→室间孔→蛛网膜下隙→蛛网膜颗粒→硬脑膜窦→入血C、第三脑室→侧脑室→室间孔→中脑水管→第四脑室→第四脑室正中孔和外侧孔→蛛网膜下隙→蛛网膜颗粒→硬脑膜窦→入血D、侧脑室→室间孔→第三脑室→中脑水管→第四脑室→第四脑室正中孔和外侧孔→蛛网膜下隙→蛛网膜颗粒→硬脑膜窦→入血E、第三脑室→中脑水管→侧脑室→室间孔→第四脑室→第四脑室正中孔和外侧孔→蛛网膜下隙→蛛网膜颗粒→硬脑膜窦→入血

考题 单选题颅内压监测的常用部位为()A 侧脑室或硬脑膜外B 第四脑室或硬膜下C 第三脑室或室间孔D 硬膜外间隙或蛛网膜下间隙E 颅内任何部位

考题 单选题中脑水管阻塞导致( )A 不可能形成脑疝B 颅内压无降低C 第四脑室和侧脑室积水D 第三脑室和侧脑室积水E 第三脑室和第四脑室积水

考题 单选题导管法监测颅内压把导管置于()A 硬膜下B 硬膜外C 脑实质D 蛛网膜下腔E 脑室

考题 多选题常用的颅内压监测方法有A硬脑膜外测压法B脑室内置管测压法C硬脑膜下测压法D蛛网膜下腔测压法

考题 单选题脑脊液及其循环的具体途径是()。A 侧脑室→中脑水管→第三脑室→室间孔→第四脑室→第四脑室正中孔和外侧孔→蛛网膜下隙→蛛网膜颗粒→硬脑膜窦→入血B 第三脑室→中脑水管→第四脑室→第四脑室正中孔和外侧孔→侧脑室→室间孔→蛛网膜下隙→蛛网膜颗粒→硬脑膜窦→入血C 第三脑室→侧脑室→室间孔→中脑水管→第四脑室→第四脑室正中孔和外侧孔→蛛网膜下隙→蛛网膜颗粒→硬脑膜窦→入血D 侧脑室→室间孔→第三脑室→中脑水管→第四脑室→第四脑室正中孔和外侧孔→蛛网膜下隙→蛛网膜颗粒→硬脑膜窦→入血E 第三脑室→中脑水管→侧脑室→室间孔→第四脑室→第四脑室正中孔和外侧孔→蛛网膜下隙→蛛网膜颗粒→硬脑膜窦→入血

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