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问答题
二次电子像景深很大,样品凹坑底部都能清楚地显示出来,从而使图像的立体感很强,其原因何在?

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考题 二次电子的产额随样品的倾斜度而变化,倾斜度最小,二次电子产额()。A、最少B、最多C、中等

考题 关于扫描式电镜,下列哪项有误A、20世纪60年代才正式问世B、景深长,成像具有强烈立体感C、电子扫描标本使之产生二次电子,经收集放大后成像D、标本无需经超薄切片即可观察E、适于观察细胞的内部构造

考题 透射电镜的反差取决于样品对的散射能力A、二次电子B、入射电子C、样品质量厚度D、样品重量E、样品性质

考题 下面对透射电镜描述不正确的是A、利用泛光式电子束和透射电子成像B、观察细胞内部超微结构C、发展最早D、性能最完善E、景深长、图像立体感强

考题 从镜头像方主点到像方焦点的距离,称做像方()。 A.焦距B.焦身C.景深D.焦点

考题 在近距离拍摄时,由于像距增加,而使景深变短。如要得理想的清晰范围,比须采用比相机景深表还要大的光圈。

考题 顶底复吹转炉底部供气元件损坏的原因有():A、气泡反击B、水锤冲刷C、凹坑熔损D、以上三种都有

考题 什么是凹坑?其产生的原因和防止方法有哪些?

考题 扫描电子显微镜景深长,成像具有较强的立体感,可用于观察核孔复合体等精细结构。

考题 以下关于扫描显微镜的描述,不正确的是()。A、分辨率为6~10mmB、工作原理和光学显微镜相似,但采用电子束照明C、镜筒内为真空环境D、用来观察样品的表面结构E、扫描电镜图像有很大的立体感觉

考题 所有切割的图像组合成一个玻璃状的三维图像,不丢失任何信息,通过灰阶、亮度和对比度的调节,将感兴趣区清楚地显示出来,称之为()。A、表面成像B、透明成像C、动态三维成像D、四维成像

考题 通过光线的不同效果增加()A、立体感B、空间感C、质感D、景深

考题 从镜头像方主点到像方焦点的距离,称做像方()。A、焦距B、焦身C、景深D、焦点

考题 晶面上因溶蚀而形成的凹坑,称之为()。A、生长丘B、生长凹坑C、晶面蚀像D、凹坑

考题 判断题扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。A 对B 错

考题 单选题关于扫描式电镜,下列哪项有误()A 20世纪60年代才正式问世B 景深长,成像具有强烈立体感C 电子扫描标本使之产生二次电子,经收集放大后成像D 标本无需经超薄切片即可观察E 适于观察细胞的内部构造

考题 单选题关于扫描电子显微镜,下列哪项有误()A 20世纪60年代才正式问世B 景深长,成像具有强烈立体感C 电子扫描标本使之产生二次电子,经收集放大后成像D 适于观察细胞的内部构造E 分辨力为3nm左右

考题 名词解释题二次电子及二次电子像

考题 问答题二次电子像反映试样的形貌像用什么衬度解释?

考题 问答题简述扫描电镜中二次电子像的成像原理。

考题 单选题透射电镜的反差取决于样品对()的散射能力。A 二次电子B 入射电子C 样品质量厚度D 样品重量E 样品性质

考题 问答题二次电子像主要反映试样的什么特征?

考题 填空题二次电子的产额随着样品的倾斜度的变化而变化,倾斜度越小,二次电子产额越()。

考题 单选题从镜头像方主点到像方焦点的距离,称做像方()。A 焦距B 焦身C 景深D 焦点

考题 单选题通过光线的不同效果增加()A 立体感B 空间感C 质感D 景深

考题 问答题二次电子像的衬度和背射电子像的衬度各有啥特点?

考题 单选题下面对透射电镜描述不正确的是()。A 利用泛光式电子束和透射电子成像B 观察细胞内部超微结构C 发展最早D 性能最完善E 景深长、图像立体感强