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一般认为( )由设备变差(即系统内变差)引起。

A.重复性
B.再现性
C.精密度
D.准确度

参考答案

参考解析
解析:
更多 “一般认为( )由设备变差(即系统内变差)引起。A.重复性 B.再现性 C.精密度 D.准确度” 相关考题
考题 剩余变差是指()。A.随机因素影响所引起的被解释变量的变差B.解释变量变动所引起的被解释变量的变差C.被解释变量的变差中,回归方程不能做出解释的部分D.被解释变量的总变差与回归平方和之差E.被解释变量的实际值与回归值的离差平方和

考题 回归变差(或回归平方和)是指()。A.被解释变量的实际值与平均值的离差平方和B.被解释变量的回归值与平均值的离差平方和C.被解释变量的总变差与剩余变差之差D.解释变量变动所引起的被解释变量的变差E.随机因素影响所引起的被解释变量的变差

考题 对积分环节进行位置负反馈校正,校正后系统的()。 A、稳定性变好,但稳态性变差B、稳定性变差,但稳态性变好C、快速性变好,稳态性也变好D、快速性变差,稳定性也变差

考题 条件变差与随机误差相当时,可以认为条件变差对试验结果有显著影响;当条件变差明显小于试验的随机误差时,可以认为条件变差对试验结果无显著影响。

考题 提高加氢裂化系统分馏塔塔顶温度将使所有产品的闪点指标(),但是冷指标如倾点和冰点将()。A、变差 变差B、变差 改善C、改善 改善D、改善 变差

考题 对于控制测量系统的变差应该显示有效的分辩率并且与制造过程变差相比要小。

考题 电力互感器运行变差由()引起。A、环境温度B、剩磁C、临近效应D、运行方式

考题 测量分析可将各种来源的变差量化,如来自()。测量分析也可将来自测量系统的变差作为总过程变差、或总容许变差的一部分予以描述。A、测量人员的变差B、测量结果的变差C、测量仪器自身的变差D、测量过程的变差

考题 提高异构脱蜡系统分馏塔塔顶温度将使所有产品的闪点指标(),但是冷指标如倾点和冰点将()A、变差 变差B、变差 改善C、改善 改善D、改善 变差

考题 剩余变差是指()。A、随机因素影响所引起的被解释变量的变差B、解释变量变动所引起的被解释变量的变差C、被解释变量的变差中,回归方程不能做出解释的部分D、被解释变量的总变差与回归平方和之差E.被解释变量的实际值与回归值的离差平方和

考题 船舶由浅水进入深水,水深由浅变深则其旋回性和追随性的变化是:()A、旋回性变差,追随性变好B、旋回性变好,追随性变差C、旋回性和追随性变差D、旋回性和追随性变好

考题 关于总变差的说法正确的是()。A、等于已释变差和未释变差之差B、等于已释变差与误差之差C、等于已释变差和误差之和D、等于已释变差和未释变差之和

考题 降低系统的增益将使系统的()A、稳定性变差B、稳态精度变差C、超调量增大D、稳态精度变好

考题 系统的开环增益K增大,则一般系统()。A、稳定性改善B、稳定性变差C、稳态误差增大D、稳态误差减小E、快速性变差F、快速性变好

考题 测量系统的()通常被称为测量设备的变差。

考题 以下哪种原因可能导致测量结果的变差() 。A、零件的变差B、测量人内部变差C、测量仪器的变差D、测量环境导致的变差

考题 测量系统的变差只能是由普通原因而不是特殊原因造成。

考题 以下公式错误的是()。A、 测量系统的偏倚=测量值-真值(或约定真值)B、 TV(总变差)2=EV(测量设备的变差)2+PV(零件的变差)2C、 GRR(测量系统变差)2=EV(测量设备的变差)2+AV(评价人的变差)2D、 ndc(区别分类数)=1.41*(PV/GRR)

考题 RR分析在以下范围内时是可接受的()。A、大于公差带宽度B、小于过程总变差的30%C、小于过程总变差的10%D、小于过程总变差

考题 对于二阶系统,加大增益将使系统的()A、稳态性变差B、稳定性变差C、瞬态性变差D、快速性变差

考题 在声波时差曲线上:渗透性砂岩的声波时差中等,一般在200—260微秒/米之间,曲线变化平缓,有时呈平台状。一般情况下时差(),渗透性();时差(),则渗透性()。A、变大、变好、变小、变差B、变大、变差、变小、变好C、变小、变好、变小、变好D、变小、变差、变小、变差

考题 填空题测量系统的()通常被称为测量设备的变差。

考题 多选题以下哪种原因可能导致测量结果的变差()。A零件的变差B测量人内部变差C测量仪器的变差D测量环境导致的变差

考题 单选题关于总变差的说法正确的是()。A 等于已释变差和未释变差之差B 等于已释变差与误差之差C 等于已释变差和误差之和D 等于已释变差和未释变差之和

考题 单选题降低系统的增益将使系统的()A 稳定性变差B 稳态精度变差C 超调量增大D 稳态精度变好

考题 单选题以下公式错误的是()。A  测量系统的偏倚=测量值-真值(或约定真值)B  TV(总变差)2=EV(测量设备的变差)2+PV(零件的变差)2C  GRR(测量系统变差)2=EV(测量设备的变差)2+AV(评价人的变差)2D  ndc(区别分类数)=1.41*(PV/GRR)

考题 单选题对于二阶系统,加大增益将使系统的()A 稳态性变差B 稳定性变差C 瞬态性变差D 快速性变差