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对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是
A．主观性颗粒质量——肉眼观察获得的颗粒状况
B．客观性颗粒质量——物理学检查的颗粒状况
C．常用的检测方法有RMS的测量
D．常用的检测方法有维纳频谱的测量
E．MTF用来测量颗粒度
参考答案
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考题
关于照片斑点(噪声)的说法错误的是( )。A.照片肉眼能见到有颗粒聚集的区域，称做斑点(噪声)B.卤化银颗粒尺寸大约1~2 μm，肉眼是看不到的C.X线照片斑点主要是量子斑点形成的D.量子斑点就是X线量子的统计涨落在照片上记录的反映E.假若X线量子数无限多，单位面积里的量子数就会因位置不同而不同
考题
关于X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是A.主观性颗粒质量—肉眼观察获得的颗粒状况B.客观性颗粒质量—物理学检查的颗粒状况C.常用的检测方法有RMS的测量D.常用的检测方法有维纳频谱的测量E.MTF用来测量颗粒度
考题
所谓X线照片噪声,是指A.荧光体颗粒B.乳剂银颗粒C.银颗粒、荧光体颗粒组合SX
所谓X线照片噪声，是指A.荧光体颗粒B.乳剂银颗粒C.银颗粒、荧光体颗粒组合D.X线照片斑点E.X线照片的颗粒度
考题
有关X线胶片卤化银颗粒的叙述，错误的是A．卤化银颗粒在感光材料中是最大的B．晶体颗粒大，感光度高C．晶体颗粒小，分辨率高D．晶体颗粒分布不均匀时，颗粒性好E．晶体颗粒大小不一时，宽容度大
考题
关于胶片颗粒性及颗粒度的描述，错误的是A．胶片颗粒性是胶片的影像质量参数之一B．胶片经曝光、显影加工后，形成影像银粒的大小及分布状态称胶片颗粒性C．表示颗粒性的量度值为颗粒度D．颗粒度小的胶片，照片影像细腻、清晰度高E．颗粒度主要受量子斑点的影响，而与增感屏的结构斑点无关
考题
关于X线照片颗粒度的叙述，错误的是A．物理测定值为颗粒度B．X线量了斑点影响照片颗粒性C．X线照片上颗粒聚集的区域，称噪声D．增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素E．量子斑点是X线量子的统计涨落在照片上的记录
考题
关于X线照片颗粒度的叙述，错误的是A．物理测定值为颗粒度B．X线量子斑点影响照片颗粒性C．X线照片上颗粒聚集的区域，称噪声D．增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素E．量子斑点是X线量子的统计涨落在照片上记录
考题
与照片颗粒性无关的因素是A.胶片对比度B.胶片感色性C.胶片卤化银颗粒
与照片颗粒性无关的因素是A.胶片对比度B.胶片感色性C.胶片卤化银颗粒D.X线量子斑点(噪声)E.增感屏荧光体尺寸和分布
考题
关于颗粒剂的制备工艺，正确的是A.制软材→制湿颗粒→干燥→整粒→质量检查B.制湿颗粒→制软材→干燥→整粒→质量检查C.制湿颗粒→干燥→制软材→整粒→质量检查D.制软材→制湿颗粒→整粒→干燥→质量检查E.制软材→干燥→制湿颗粒→整粒→质量检查
考题
关于胶片颗粒性及颗粒度的描述，错误的是（）A、胶片颗粒性是胶片的影像质量参数之一B、胶片经曝光、显影加工后，形成影像银粒的大小及分布状态称胶片颗粒性C、表示颗粒性的量度值为颗粒度D、颗粒度小的胶片，照片影像细腻、清晰度高E、颗粒度主要受量子斑点的影响，而与增感屏的结构斑点无关
考题
关于照片斑点（噪声）的说法错误的是（）A、照片肉眼能见到有颗粒聚集的区域，称做斑点（噪声）B、卤化银颗粒尺寸大约1~2μm，肉眼是看不到的C、X线照片斑点主要是量子斑点形成的D、量子斑点就是X线量子的统计涨落在照片上记录的反映E、假若X线量子数无限多，单位面积里的量子数就会因位置不同而不同
考题
关于X线照片颗粒度的叙述，正确的是（）.A、照片图像粗糙或砂砾状效果称为颗粒性B、物理测定值为颗粒度C、照片上一定区域内大量集中的不规则的颗粒为斑点D、量子斑点是X线量子的统计涨落的记录E、以上全是
考题
有关X线胶片卤化银颗粒的叙述，错误的是（）A、卤化银颗粒在感光材料中是最大的B、晶体颗粒分布不均匀时颗粒性好C、晶体颗粒大小不一，宽容度大D、晶体颗粒小，分辨率高E、晶体颗粒大，感光度高
考题
单选题有关X线胶片卤化银颗粒的叙述，错误的是（ ）。A
卤化银颗粒在感光材料中是最大的B
晶体颗粒分布不均匀时颗粒性好C
晶体颗粒大小不一，宽容度大D
晶体颗粒小，分辨率高E
晶体颗粒大，感光度高
考题
单选题对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是（）A
主观性颗粒质量-肉眼观察获得的颗粒状况B
客观性颗粒质量-物理学检查的颗粒状况C
常用的检测方法有RMS的测量D
常用的检测方法有维纳频谱的测量E
MTF用米测量颗粒度
考题
单选题关于胶片颗粒性及颗粒度的描述，错误的是（）A
胶片颗粒性是胶片的影像质量参数之一B
胶片经曝光、显影加工后，形成影像银粒的大小及分布状态称胶片颗粒性C
表示颗粒性的量度值为颗粒度D
颗粒度小的胶片，照片影像细腻、清晰度高E
颗粒度主要受量子斑点的影响，而与增感屏的结构斑点无关
考题
单选题对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是（ ）。A
主观性颗粒质量——肉眼观察获得的颗粒状况B
客观性颗粒质量——物理学检查的颗粒状况C
常用的检测方法有RMS的测量D
常用的检测方法有维纳频谱的测量E
MTF用来测量颗粒度
考题
单选题关于X线照片颗粒度的叙述，错误的是（ ）。A
物理测定值为颗粒度B
X线量子斑点影响照片颗粒性C
X线照片上颗粒聚集的区域，称噪声D
增感屏斑点是造成照片斑点的主要因素E
量子斑点是X线量子的统计涨落在照片上的记录
考题
单选题所谓X线照片噪声，是指（ ）。A
荧光体颗粒B
乳剂银颗粒C
银颗粒、荧光体颗粒组合D
X线照片斑点E
X线照片的颗粒度
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