考题
原子吸收光谱仪在工作过程中出现分析结果偏高的故障时，常见的原因有A、溶液中的固体未溶解B、背景吸收C、标准溶液变质D、空白没有校正E、假吸收
考题
在原子吸收光谱法中,消除背景干扰的影响较理想的方法是采用塞曼效应校正背景。()
此题为判断题(对，错)。
考题
原子吸收测定中,使用塞曼效应校正背景,其校正波长范围广。()
此题为判断题(对，错)。
考题
目前的原子吸收光谱仪上背景校正主要采用（）。A、自吸B、氘灯C、塞曼
考题
原子吸收分光光度计的氘灯背景校正器，可以扣除背景的影响，提高分析测定的灵敏度，其原因是什么？
考题
在原子吸收光谱法中，下列（）的方法不能消除背景干扰的影响。A、用次灵敏线作为分析线B、用氘灯进行校正C、用自吸收进行校正D、用塞曼效应进行校正
考题
下列哪些方法可以用来火焰原子吸收法中进行背景校正（）A、氘灯法B、塞曼法C、同位素法D、“空白溶液”法
考题
在原子吸收法中校正背景干扰的主要方法有（）A、双波长法B、氘灯法C、塞曼效应法D、自吸收法
考题
在火焰原子吸收光度法中进行背景校正的主要方法有哪些？
考题
火焰原子吸收光度法塞曼效应校正背景的光来自同一谱线的（），而且在（）光路上通过原子化器。
考题
火焰原子吸收光度法测定时，氘灯背景校正适合的校正波长范围为（）nm。A、100－200B、220-350C、200-500D、400-800
考题
原子吸收光谱分析法中，背景干扰是怎样产生的？如何抑制和校正光谱背景？简述用氘灯校正背景吸收的原理。
考题
原子吸收分光光度法校正背景干扰的方法有哪些？
考题
简述原子吸收分光光度法分析中，自吸收法校正背景的原理。
考题
火焰原子吸收光度法测定时，氘灯背景校正适合的校正波长范围为（）nm。A、100～200B、220～350C、200～500D、400～800
考题
原子吸收的自吸收扣背景和氘灯扣背景有何不同？
考题
填空题火焰原子吸收光度法塞曼效应校正背景的光来自同一谱线的（），而且在（）光路上通过原子化器。
考题
问答题简述原子吸收分光光度法分析中，自吸收法校正背景的原理。
考题
单选题在石墨炉原子吸收法测量中，如果只有氘灯背景校正器，其校正背景的波长范围是（）。A
190～360nmB
190～500nmC
300nm以下D
400nm以下
考题
单选题火焰原子吸收光谱法对环境样中的元素进行测定时，如果遇有背景干扰，应当使用（）进行校正。A
标准加入法B
背景校正器校正C
试剂空白扣除法
考题
多选题在原子吸收法中校正背景干扰的主要方法有（）A双波长法B氘灯法C塞曼效应法D自吸收法
考题
多选题目前的原子吸收光谱仪上背景校正主要采用（）。A自吸B氘灯C塞曼
考题
问答题原子吸收光谱分析法中，背景干扰是怎样产生的？如何抑制和校正光谱背景？简述用氘灯校正背景吸收的原理。
考题
问答题原子吸收分光光度法校正背景干扰的方法有哪些？
考题
多选题在石墨炉原子吸收光谱法中常用背景校正技术有（）。A邻近波长非吸收线法B氘灯校正器C自吸效应D塞曼效应
考题
问答题在火焰原子吸收光度法中进行背景校正的主要方法有哪些？