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以下属于射线拍片时使用的相关器材是（）

  • A、增感屏
  • B、光照计
  • C、像质计
  • D、暗袋

参考答案

更多 “以下属于射线拍片时使用的相关器材是（）A、增感屏B、光照计C、像质计D、暗袋” 相关考题
考题 电焊焊道射线检测中，焊冠及背面套板不能磨平时，在像质计下面应置何物？（）A、铅增感屏B、铅字C、与被照物相同射线吸收系数材料的垫片D、以上都是
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考题 阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比（）A、阶梯孔型像质计更灵敏些B、丝型像质计更灵敏些C、两者灵敏性相同D、以上都不是
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考题 使用孔洞型像质计作焊缝射线检测时应加垫片，其作用为（）A、改善像质计影像B、降低电子发射C、模拟焊缝的补强高度D、增强影像
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考题 下述有关像质计特质的叙述中，不正确的是（）A、像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B、像质计形状与尺寸都是已知的C、像质计和试件一起成像，而用来鉴定试件品质的重要工具D、像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较
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考题 以下有关放置像质计的说法正确的是（）A、原则上每一张射线底片都应放置像质计B、周向曝光技术中，在至少每隔120º的位置上放置一个像质计C、像质计一般放在射线底片的两端，像质计最细的金属丝应靠近端头处D、以上都对
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考题 最广泛使用的像质计型式主要是（）A、丝型像质计B、阶梯孔型像质计C、平板孔型像质计D、以上都是
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考题 使用金属增感屏所得到的底片像质最佳，其增感系数也最小。
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考题 胶片射线照相时，象质计通常放在（）A、增感屏和胶片之间B、胶片侧工件表面C、射源侧工件表面D、B和C都有可能
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考题 下列关于增感屏使用的叙述中，哪种是正确的？（）A、用荧光增感屏进行X射线照相时，曝光时间可以显著缩短，但底片的像质较差B、荧光增感屏的增感作用不如铅箔增感屏C、用铅箔增感屏时，若X射线管的管电压太高，会产生磷光现象D、用荧光增感屏进行X射线照相时，曝光时间虽然较长，但底片的像质较好
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考题 工业射线照相用的像质计大致有（）A、金属丝型像质计B、孔型像质计C、槽型像质计D、以上都是
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考题 射线照相灵敏度的绝对灵敏度就是（）A、射线照片上可发现的最小缺陷尺寸B、射线照片上可识别的像质计最小细节尺寸C、对所有像质计统一规定的像质指数D、以上都不是
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考题 以下有关对比试验的说法正确的是（）A、像质计应放置在近射线源一侧的工件表面B、如因工件形状的关系像质计只能放在近胶片一侧工件表面时，可通过对比试验进行修正C、像质计应横跨焊缝放置D、以上都对
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考题 射线照相法是利用X、γ射线穿透工件，以（）作为记录信息的无损检测方法。A、像质计B、胶片C、评定尺D、增感屏
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考题 常用的像质计是（）。A、 槽式像质计B、 线形像质计C、 孔形像质计D、 以上都是
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考题 在射线透照探伤中，底片黑度值可用（）测定。A、透度计B、黑度计C、黑度片D、增感屏
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考题 射线照相检验，透度计通常放在（）。A、增感屏和胶片之间B、被检物体靠近射线源的一侧C、被检物体靠近胶片的一侧D、增感屏和被检物体之间
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考题 单选题在射线透照探伤中，底片黑度值可用（）测定。A 透度计B 黑度计C 黑度片D 增感屏
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考题 单选题电焊焊道射线检测中，焊冠及背面套板不能磨平时，在像质计下面应置何物？（）A 铅增感屏B 铅字C 与被照物相同射线吸收系数材料的垫片D 以上都是
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考题 单选题胶片射线照相时，象质计通常放在（）A 增感屏和胶片之间B 胶片侧工件表面C 射源侧工件表面D B和C都有可能
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考题 单选题最广泛使用的像质计型式主要是（）A 丝型像质计B 阶梯孔型像质计C 平板孔型像质计D 以上都是
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考题 单选题射线照相检验，透度计通常放在（）。A 增感屏和胶片之间B 被检物体靠近射线源的一侧C 被检物体靠近胶片的一侧D 增感屏和被检物体之间
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考题 问答题在射线检测诊断中最广泛使用的像质计是哪三种？
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考题 单选题工业射线照相用的像质计大致有（）A 金属丝型像质计B 孔型像质计C 槽型像质计D 以上都是
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考题 单选题阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比（）A 阶梯孔型像质计更灵敏些B 丝型像质计更灵敏些C 两者灵敏性相同D 以上都不是
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考题 单选题使用孔洞型像质计作焊缝射线检测时应加垫片，其作用为（）A 改善像质计影像B 降低电子发射C 模拟焊缝的补强高度D 增强影像
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考题 多选题以下属于射线拍片时使用的相关器材是（）A增感屏B光照计C像质计D暗袋
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考题 单选题下述有关像质计特质的叙述中，不正确的是（）A 像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B 像质计形状与尺寸都是已知的C 像质计和试件一起成像，而用来鉴定试件品质的重要工具D 像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较
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