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IP中记录X线能量的物质是()

  • A、荧光物质
  • B、感光物质
  • C、发光物质
  • D、辉尽性荧光物质
  • E、卤化银

参考答案

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考题 导致X线行进中衰减的原因是()A.X线频率B.X线波长C.X线能量D.物质和距离E.X线是电磁波

考题 有关特征X线的解释,错误的是A、高速电子与靶物质轨道电子作用的结果B、特征X线的质与高速电子的能量有关C、特征X线的波长由跃迁的电子能量差决定D、靶物质原子序数较高特征X线的能量大E、70kVp以下不产生K系特征X线

考题 导致X线行进中衰减的原因是:()。 A.X线频率B.线波长C.X线能量D.物质和距离E.X线照射量

考题 关于X线减弱特点的叙述,错误的是A.强度与距离平方成反比B.X线通过物质后,质和量都发生改变C.X线通过物质,低能光子被吸收少D.X线通过物质后射线平均能量提高E.X线的能量影响衰减

考题 下列说法中错误的是A、X线能量增加,光电作用的百分数下降B、入射光子能量越大,X线穿透力越强C、物质密度越高,衰减越小D、原子序数越高的物质,吸收X射线愈多E、人体组织对X线衰减不同形成影像对比

考题 对连续X线在物质中衰减的叙述,错误的是A.低能X线光子更易被吸收B.透过物质后的射线平均能量提高C.透过物质后平均能量接近最高能量D.透过物质后的射线量减少而质不变E.窗口滤过板滤过的是低能X线光子

考题 对X线吸收与衰减的叙述,错误的是A.X线强度与距离平方成反比B.X线与物质相互作用被吸收而衰减C.X线透过物质后,质和量都有改变D.透过物质后的射线平均能量降低E.透过物质后的平均能量接近它的最高能量

考题 关于射线能量与原子序数对衰减的影响,叙述错误的是 A、在X线诊断能量范围内,X线能量增加,光电作用的比例下降B、原子序数提高,则光电作用增加C、对于低原子系数的物质,当X线能量增加时,衰减减少D、对于高原子系数物质,当X线能量增加时,衰减可能增加E、对于高原子系数物质,当X线能量增加时,衰减一定减少

考题 X线衰减特点的叙述,错误的是A.X线强度与距离平方成反比B.X线通过物质后质和量都发生改变C.X线通过物质时低能光子被吸收的少D.X线通过物质后射线平均能量提高E.X线的能量影响衰减

考题 与X线质无关的是A.管电压B.X线量C.X线光子能量D.对物质的穿透力S 与X线质无关的是A.管电压B.X线量C.X线光子能量D.对物质的穿透力E.半价层厚度

考题 在影响X线减弱的因素中,错误的是A.射线能量越高,衰减越少 B.物质密度越高,衰减越小 C.电子数多的物质更容易衰减射线 D.原子序数越高的物质,吸收X线越多 E.入射光子能量越大,X线穿透力越强

考题 CR系统用成像板(IP)来接收X线的模拟信息,然后经过模/数转换来实现影像的数字化。对IP的曝光过程就是信息采集。 关于CR的信息采集叙述错误的是()A、IP具有与胶片相同的结构B、IP成为影像记录的载体C、光激励荧光体的晶体结构"陷阱"中存储吸收的X线能量D、IP以俘获电子的形式存储的能量形成潜影E、随着时间的推移,俘获的信号会呈指数规律逐渐消退

考题 关于X线减弱特点的叙述,错误的是()A、强度与距离平方成反比B、X线通过物质后,质和量都发生改变C、X线通过物质,低能光子被吸收少D、X线通过物质后射线平均能量提高E、X线的能量影响衰减

考题 对连续X线在物质中衰减的叙述,错误的是()A、低能X线光子更易被吸收B、透过物质后的射线平均能量提高C、透过物质后平均能量接近最高能量D、透过物质后的射线量减少而质不变E、X线管窗口滤过板可滤过低能X线光子

考题 导致X线衰减的原因是()A、物质和距离B、X线不可见C、X线波长短D、X线能量大E、X线是电磁波

考题 导致X线行进中衰减的原因是()A、X线频率B、X线波长C、X线能量D、物质和距离E、X线是电磁波

考题 单选题IP中记录X线能量的物质是()A 荧光物质B 感光物质C 发光物质D 辉尽性荧光物质E 卤化银

考题 单选题对连续X线在物质中衰减的叙述,错误的是(  )。A 低能X线光子更易被吸收B 透过物质后的射线平均能量提高C 透过物质后平均能量接近最高能量D 透过物质后的射线量减少而质不变E 窗口滤过板滤过的是低能X线光子

考题 单选题影响X线物质吸收衰减的因素中,错误的是(  )。A X线能量B 吸收物质的原子序数C 物质密度D 物质面积E 每克物质的电子数

考题 单选题对连续X线在物质中衰减的叙述,错误的是()A 低能X线光子更易被吸收B 透过物质后的射线平均能量提高C 透过物质后平均能量接近最高能量D 透过物质后的射线量减少而质不变E X线管窗口滤过板可滤过低能X线光子