考题
单模光纤本征因素对连接损耗影响最大的是模场直径。此题为判断题(对，错)。
考题
单模光纤连接损耗的产生原因中，影响最大的本征因素是模场直径，当采用熔接法接续时，影响连接损耗的外界因素主要是轴向倾斜，轴心错位，纤芯变形。此题为判断题(对，错)。
考题
产生光纤接头损耗的光纤本征因素有两光纤芯径失配、同心度不良、数值孔径失配等,造成漏光。()
此题为判断题(对，错)。
考题
因本征因素单模影响光纤连接损耗最大的是( )。A.模场直径B.数值孔径C.光纤线径D.纤芯相对折射率差
考题
产生光纤接头损耗的光纤本征因素有:两端光纤轴向偏移,纵向间隙,端面分离,轴向倾斜,光纤端面不整齐和污染。()
此题为判断题(对，错)。
考题
影响单模光纤连接损耗最大的是（）。A、纵向分离B、轴向倾斜C、纤芯变形
考题
对单模光纤来讲，外界因素主要是轴心错位和轴向倾斜对连接损耗影响最大。
考题
产生光纤接头损耗的光纤本征因素有：两端光纤轴向偏移，纵向间隙，端面分离，轴向倾斜，光纤端面不整齐和污染。
考题
光纤的损耗包括本征损耗和非本征损耗，其中对本征损耗影响较大的是（）。A、本征吸收和光纤微弯B、本征吸收和瑞利散射C、原子缺陷吸收和瑞利散射D、光纤弯曲和波导散射
考题
单模光纤连接时，外界因素中（）对连接损耗影响最大。A、熔接温度B、纤芯变形C、光纤轴心错位和轴向倾斜
考题
单模光纤本征因素中对连接损耗影响最大的是（）不匹配。A、数值孔径NAB、模场直径C、光纤几何参数D、光纤截止波长
考题
单模光纤连接损耗的产生原因中，影响最大的本征因素是（ ），当采用熔接法接续时，影响连接损耗的外界因素主要是轴向倾斜，（）（）
考题
单模光纤本征因素对连接损耗影响最大的是模场直径。
考题
因本征因素影响多模光纤连接损耗最大的是（）。A、纤芯相对折射率差B、光纤芯径C、包层外径D、数值孔径
考题
因本征因素单模影响光纤连接损耗最大的是（）。A、模场直径B、数值孔径C、光纤线径D、纤芯相对折射率差
考题
用单模OTDR 模块对多模光纤进行测量时，以下（）结果不正确。A、光纤长度B、光纤损耗C、光接头损耗D、回波损耗
考题
单模光纤（1550nm、1310nm）波长的每根光纤的最大接头损耗双向平均，应小于等于0.08db／个，中继段内光缆接头平均损耗，应小于等于（）／个。
考题
光纤接续时应用OTDR进行监测，由于单模光纤对 （）波长微弯损耗敏感，光缆的接头损耗应以该波长监测数值为准。"
考题
产生光纤接头损耗的光纤本征因素有：两光纤芯径失配，同心度不良，数值孔径失配等，造成漏光。
考题
判断题产生光纤接头损耗的光纤本征因素有：两光纤芯径失配，同心度不良，数值孔径失配等，造成漏光。A
对B
错
考题
判断题产生光纤接头损耗的光纤本征因素有：两端光纤轴向偏移，纵向间隙，端面分离，轴向倾斜，光纤端面不整齐和污染。A
对B
错
考题
判断题对单模光纤来讲，外界因素主要是轴心错位和轴向倾斜对连接损耗影响最大。A
对B
错
考题
填空题单模光纤（1550nm、1310nm）波长的每根光纤的最大接头损耗双向平均，应小于等于0.08db／个，中继段内光缆接头平均损耗，应小于等于（）／个。
考题
单选题光纤连接损耗的非本征因素是指（）引起的光纤连接损耗。A
非本征因素B
接续技术C
接续损耗D
本征因素