考题
使用OTDR测试GPON光缆质量时,波形图如下,则说明可能的原因是()。
A.发生断纤现象B.有熔接点现象C.光纤跳纤点D.光纤发生弯折现象
考题
光纤通道的衰减原因有（ ）。光纤损耗;连接器的接头损耗;尾纤损耗;永久性熔接损耗
考题
光纤熔接时，有轴偏现象的原因有（）。A、光纤端面不清洁B、光纤推进过长C、光纤端面倾斜
考题
光纤熔接机可根据被接光纤的类型不同分为（）。A、单模光纤熔接机B、多模光纤熔接机C、单纤熔接机D、多纤熔接机
考题
下列属于光纤熔接方法的有：（）A、铁丝熔接方式B、自放电熔接方式C、氢氧加热熔接方式D、空气预放电熔接方式
考题
熔接光纤时，在熔接机的自动处理进程中，不得强行退出操作，光纤熔接后（）后方可取纤。
考题
光纤接续时质量不良，可能光纤在熔接时产生了（）A、轴偏移B、气泡C、鼓包D、端面污染
考题
常用的光缆接续工具仪表有（）A、光纤熔接机B、OTDRC、米勒钳D、光纤切割刀
考题
熔接光纤时，在熔接机的自动处理进程中，不得强行退出操作，光纤熔接后（）方可取纤。
考题
光纤熔接时，有轴偏现象的原因有（）。A、光纤放置偏离B、光纤端面不清洁C、光纤推进过长D、光纤端面倾斜E、V型槽内有异物
考题
光纤接续中熔接法的原理是利用高压放电产生的（）使光纤断面局部熔化而接续在一起。光纤包层中掺有杂质的原因是（）。
考题
在OTDR曲线上可能会产生（）。该现象是由于在熔接点之后的光纤比熔接点之前的光纤产生更多的后向散光而形成的。A、正增现象B、正增益现象C、负增益现象D、正溢现象
考题
在OTDR曲线上可能会产生（ ）。该现象是由于熔接点之后的光纤比熔接点之前的光纤产生更多的后向散光而形成。A、正增现象B、正增益现象C、正溢现象
考题
光纤接续的方法有：熔接、活动连接、机械连接三种，在工程中大都采用熔接法。
考题
熔接机的作用有：（）A、完成光纤的对芯B、熔接C、推定熔接损耗功能
考题
光纤的熔接步骤有（）。A、去松套管；B、清洁；C、去涂覆层；D、制备端面；E、扩展孔径；F、熔接；
考题
在OTDR曲线上可能会产生（ ）。该现象是由于熔接点之后的光纤比熔接点之前的光纤产生更多的后向散光而形成。A、负增益现象B、正增现象C、正增益现象D、正溢现象
考题
单选题在OTDR曲线上可能会产生（）。该现象是由于在熔接点之后的光纤比熔接点之前的光纤产生更多的后向散光而形成的。A
正增现象B
正溢现象C
负增益现象D
正增益现象