考题
分辨力随探测灵敏度的提高而增高。（）此题为判断题(对，错)。
考题
对有加强层的焊缝作斜平行扫查探测焊缝横向缺陷时，应()A.保持灵敏度不变
B.适当提高灵敏度
C.增加大折射角探头探测
D.以上B和C
考题
使用聚焦透镜能提高灵敏度和分辨力，但减小了探测范围。
考题
对有加强层的焊缝作斜平行扫查探测焊缝横向缺陷时，应（）A、保持灵敏度不变B、适当提高灵敏度C、增加大折射角探头探测D、以上b和c
考题
一般声束指向角越小，则主声束越窄，声能量越集中，从而可以提高对缺陷的分辨能力以及准确判断缺陷的位置。
考题
一般指向角（），探测灵敏度就越高，可以提高对缺陷的分辨力和准确判断缺陷的位置。A、越小B、越大C、越宽D、以上都不对
考题
超声波的半扩散角大，超声能量集中，声束的指向性好，检测灵敏度高，对缺陷定位准确。
考题
一般来说探头指向角越小（）从而可以提高对缺陷的分辨力和准确判断缺陷的位置。A、 主声束越窄B、 声能量越集中C、 探测灵敏度越高D、 以上都对
考题
一般来说探头指向角越小，主声束越窄，从而可以提高对缺陷的（）和准确判断缺陷的位置。A、分辨力B、性质C、趋向D、当量
考题
一般（），主声束越窄，声能量越集中，则探测灵敏度就越高。A、 指向角越小B、 指向角越大C、 水平距离越远D、 频率越低
考题
若须对一个与探测面成一定倾斜角度的缺陷正确评价，为使波束垂直射及缺陷的最大表面，则要（）。A、改变频率B、调整波束入射角C、打磨探测面D、提高探伤灵敏度
考题
在全向比幅测向系统中，测向天线越多，相应地：（）。A、测角精度和分辨力越高B、测角精度越高、分辨力不变C、分辨力越高、测角精度不变D、测角精度和分辨力不变
考题
对有加强高的焊缝作斜平行扫查探测焊缝横向缺陷时，应（）。A、保持灵敏度不变B、适当提高灵敏度C、增加大K值探头探测D、以上B和C
考题
单选题对有余高的焊缝作斜平行扫查探测焊缝横向缺陷时，应（）A
保持灵敏度不变B
适当提高灵敏度C
增加大K值探头探测D
以上B和C
考题
单选题一般指向角（），探测灵敏度就越高，可以提高对缺陷的分辨力和准确判断缺陷的位置。A
越小B
越大C
越宽D
以上都不对
考题
单选题若须对一个与探测面成一定倾斜角度的缺陷正确评价，为使波束垂直射及缺陷的最大表面，则要（）。A
改变频率B
调整波束入射角C
打磨探测面D
提高探伤灵敏度
考题
判断题超声波的半扩散角大，超声能量集中，声束的指向性好，检测灵敏度高，对缺陷定位准确。A
对B
错
考题
单选题一般来说探头指向角越小（），从而可以提高对缺陷的分辨力和准确判断缺陷的位置。A
主声束越窄B
声能量越集中C
探测灵敏度越高D
以上都对
考题
判断题使用聚焦透镜能提高灵敏度和分辨力，但减小了探测范围。A
对B
错
考题
判断题一般声束指向角越小，则主声束越窄，声能量越集中，从而可以提高对缺陷的分辨能力以及准确判断缺陷的位置。A
对B
错
考题
判断题分辨力随探测灵敏度的提高而增高。A
对B
错
考题
判断题指向角越小，方向性越好，探测灵敏度越高。A
对B
错
考题
单选题在全向比幅测向系统中，测向天线越多，相应地：（）。A
测角精度和分辨力越高B
测角精度越高、分辨力不变C
分辨力越高、测角精度不变D
测角精度和分辨力不变
考题
单选题关于DSA设备平板探测器的设计。其提高反映了平板探测器对X线的灵敏度优于影像增强器-摄像机系统的技术指标是（）。A
空间分辨力B
密度分辨力C
量子转换效率D
高对比度分辨力E
时间分辨力
考题
单选题对有加强层的焊缝作斜平行扫查探测焊缝横向缺陷时，应（）A
保持灵敏度不变B
适当提高灵敏度C
增加大折射角探头探测D
以上b和c
考题
单选题一般（），主声束越窄，声能量越集中，则探测灵敏度就越高。A
指向角越小B
指向角越大C
水平距离越远D
频率越低