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填空题
硬盘大多采用()磁道伺服。

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考题 硬盘的一个主要性能指标是容量,硬盘容量的计算公式为( )A.磁道数×面数×盘片数B.磁道数×扇区数×盘片数C.磁道数×面数×扇区数×扇区内字节数D.磁道数×面数×扇区数×盘片数×扇区内字节数

考题 硬盘存储器容量取决于硬盘的磁头数、柱面数和每磁道的______。

考题 硬盘格式化时,被划分成一定数量的同心圆磁道,其中最外圈的磁道为()。 A、0磁道B、39磁道C、1磁道D、80磁道

考题 假设某单碟硬盘的每一面有8192个磁道,每个磁道有2048个扇区,每个扇区的容量为512字节,则该硬盘的容量为【 】GB(保留整数部分)。

考题 关于硬盘0磁道的叙述,正确的是( )。A.硬盘0磁道是盘面最内侧的磁道B.0磁道上记录着最重要的系统信息C.如0磁道被破坏,其他保存完好的磁道上的文件也是可以读出来的D.0磁道是用于定位的磁道

考题 某硬盘共有17个盘片,32个记录面,每个记录面上有2100个磁道,每个磁道分为64个扇区,每个扇区为256字节,则该硬盘的存储容量为(4)。硬盘的道密度随着磁道由外向内而(5),硬盘的位密度随着磁道由外向内而(6)。A.1050MBB.1024MBC.5120MBD.628.5MB

考题 某硬盘中共有9个盘片,16个记录面,每个记录面上有2100个磁道,每个磁道分为64个扇区,每扇区为512字节,则该硬盘的存储容量为(18)MB,磁道的位密度随着磁道从内向外而(19)。A.590.6B.9225C.1050D.9450

考题 硬盘的磁道伺服缺陷的一般表现为()A、开机后无法找到硬盘。B、分区过程非正常中断。C、格式化过程无法完成。D、用检测工具检测时,中途退或死机。

考题 硬盘不能启动,转软盘启动后,转硬盘系统不能识别硬盘,可能是()A、硬盘的分区表丢失B、硬盘中文件太多C、硬盘的碎片太多D、硬盘口磁道损坏

考题 硬盘盘片上各磁道长度不同,若每圈磁道的存储容量相同,那么内圈磁道的存储密度比外圈磁道的存储密度高。

考题 硬盘的转速是指()。A、硬盘在接到读写指令后磁头移到指定磁道所需的时间B、是指在单位时间内系统从硬盘读取的数据量C、是指磁头从一磁道转移到另一磁道的时间D、是指盘片每分钟的转数

考题 硬盘低级格式化 low level format简称低格,也称硬盘物理格式化 physical format。它的作用是检测硬盘磁介质,划分磁道,为每个磁道划分扇区,并根据用户选定的交叉因子安排扇区在磁道中的排列顺序等

考题 在机械硬盘中,离主轴最近的硬盘是0磁道。

考题 硬盘大多采用()磁道伺服。

考题 硬盘的主要故障包含()A、磁道伺服缺陷B、磁道组件缺陷C、系统信息错乱D、电子线路缺陷

考题 目前大多数数控机床的伺服系统均采用半闭环伺服系统。

考题 开机后,无法正引导,在DOS下屏幕显示“0trackbad”指()A、系统坏不能正常启动B、硬盘没有连接正确C、软驱的0磁道坏D、硬盘的0磁道损坏

考题 硬盘固件部分保存在硬盘的电路板上的芯片中,部分保存在硬盘的()。A、末磁道B、负磁道C、0磁道D、1磁道

考题 硬盘固件保存在()。A、电路板控制芯片B、硬盘的负磁道C、硬盘的0磁道D、电路板BIOS芯片

考题 硬盘的主引导记录位于()。A、0磁道0柱面0扇区B、0磁道0柱面1扇区C、0磁道1柱面1扇区D、0磁道1柱面1扇区

考题 光盘的转动是恒定线速度的,而软硬盘的转动是恒定角速度的,软硬盘采用扇区、簇、磁道作地址,光盘采用()作地址。

考题 判断题硬盘盘片上各磁道长度不同,若每圈磁道的存储容量相同,那么内圈磁道的存储密度比外圈磁道的存储密度高。A 对B 错

考题 多选题硬盘的磁道伺服缺陷的一般表现为()A开机后无法找到硬盘。B分区过程非正常中断。C格式化过程无法完成。D用检测工具检测时,中途退或死机。

考题 判断题在机械硬盘中,离主轴最近的硬盘是0磁道。A 对B 错

考题 多选题硬盘的主要故障包含()A磁道伺服缺陷B磁道组件缺陷C系统信息错乱D电子线路缺陷

考题 单选题硬盘的转速是指()。A 硬盘在接到读写指令后磁头移到指定磁道所需的时间B 是指在单位时间内系统从硬盘读取的数据量C 是指磁头从一磁道转移到另一磁道的时间D 是指盘片每分钟的转数

考题 填空题光盘的转动是恒定线速度的,而软硬盘的转动是恒定角速度的,软硬盘采用扇区、簇、磁道作地址,光盘采用()作地址。