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多选题
对使用电口承载的E1/T1进行环回测试，测试E1/T1端口是否正常。环回测试的类型有（）
A
本端环回
B
不环回
C
远端环回
D
物理环回
参考答案
参考解析
解析：
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考题
ONU端口环回测试时,一般不进地测试的是()?
A.端口环回检测（ONU两个端口之间环回）B.ONU的UNI口与OLT上联口环回C.端口自环检测（单端口环回）D.双ONU端口环回检测（两ONU之间端口环回）
考题
通讯测试命令通过选择测试单板和类型，测试单板不同模块与网管的通讯状态。一下通讯测试中，不支持的是（）。A、NCP业务处理环回B、MCU业务处理环回C、网管F口环回D、MCU S口环回和NCP Qx接口环回
考题
北京希电公司生产的PCM复用设备进行单台测试时，把主E1接口用同轴电缆做环，或将功能设置开关的第7位设为ON（本端环回），设备的（）接口连接误码测试仪，测试设备的V.35接口是否正常。A、V.24B、V.35C、RS232D、E1
考题
LOS表示（），LOF表示（），RLP表示（），RAL表示（）。A、本地E1链路告警，远端E1链路告警，帧失步，远端环回及误码仪测试指示灯B、本地E1链路告警，远端环回及误码仪测试指示灯，帧失步，远端E1链路告警C、本地E1链路告警，帧失步，远端E1链路告警，远端环回及误码仪测试指示灯D、本地E1链路告警，帧失步，远端环回及误码仪测试指示灯，远端E1链路告警
考题
发现一条E1电路出现故障时，一般情况下不会采用的处理方式有？A、更换E1接口板B、网管上环回，在DDF架挂2M测试仪检查C、对端机房现场硬件环回，本端DDF架挂2M测试仪检查D、更换E1端口
考题
ONU端口环回测试时，一般不进地测试的是（）？A、端口环回检测（ONU两个端口之间环回）B、ONU的UNI口与OLT上联口环回C、端口自环检测（单端口环回）D、双ONU端口环回检测（两ONU之间端口环回）
考题
（华为）关于启动基站E1环回测试的描述，下面说法中正确的是（）A、主要包括远端环回测试和负荷环回测试两种方式B、远端环回：进入芯片就环回回去，不做任何处理C、负荷环回：信号进入到芯片内部，经过编解码后再环回出去D、远端环回：进入芯片就环回回去，但要做一些简单处理。
考题
M600中，通讯测试命令通过选择测试单板和类型，测试单板不同模块与网管的通讯状态。一下通讯测试中，不支持的是（）A、NCP业务处理环回B、MCU业务处理环回C、网管F口环回D、MCUS口环回和NCPQx接口环回
考题
北京希电公司生产的PCM复用设备进行成对测试时，两台设备主E1接口互联，将一端设备的V.35接口用环回头做环，另一端设备的（）接口连接误码测试仪，测试设备的V.35接口是否正常。A、V.24B、V.35C、RS232D、E1
考题
单选题北京希电公司生产的PCM复用设备进行单台测试时，把主E1接口用同轴电缆做环，或将功能设置开关的第（）位设为ON（本端环回），设备的V.24接口连接误码测试仪，测试设备的V.24接口是否正常。A
1B
3C
5D
7
考题
多选题（华为）关于启动基站E1环回测试的描述，下面说法中正确的是（）A主要包括远端环回测试和负荷环回测试两种方式B远端环回：进入芯片就环回回去，不做任何处理C负荷环回：信号进入到芯片内部，经过编解码后再环回出去D远端环回：进入芯片就环回回去，但要做一些简单处理。
考题
单选题MIS故障处理的手段说法错误的是（）A
硬件环回，挂误码仪测试；硬件环回，网管测试；软环回，网管测试。B
硬件环回，挂误码仪测试；硬件环回，网管测试。C
硬件环回，挂误码仪测试；软环回，网管测试。D
硬件环回，网管测试；硬件环回，网管测试；软环回，网管测试。
考题
填空题对于2M端口告警，可通过（）环回和（）环回配合测试断定故障段落。
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