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锻件中缺陷的取向通常为平行于晶粒流向。()
此题为判断题(对,错)。
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考题
方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向可能是()A.平行且靠近探测面
B.与声束方向平行
C.与探测面成较大角度
D.平行且靠近底面
考题
变形过程中晶粒会产生择优取向,通常会导致材料的力学性能各向异性。
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