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受探测方向限制的缺陷类型是()。
A.平面型缺陷
B.球型缺陷
C.密集型缺陷
D.点状缺陷
参考答案
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考题
根据JB/T4730-2005《承压设备无损检测》规定:相邻缺陷在同一直线上时,若其间距小于其中较小缺陷长度时,应作为一条缺陷处理,以两缺陷长度和作为其指示长度,其同一直线的含义是:()
A.相邻缺陷长度任意方向连成一直线。B.相邻缺陷长度方向在探测面投影连成一直线。C.相邻缺陷长度方向在垂直探测面投影连成一直线。D.相邻缺陷长度方向在一定宽度范围内连成一直线。
考题
现代无损检验技术已成为新兴的综合性的应用技术,不仅______,而且______。
A.探测表面缺陷/探测内部缺陷B.探测缺陷/定量评定缺陷C.探测缺陷/定性评定缺陷D.定性评定缺陷/定量评定缺陷
考题
2、产品缺陷类型包括:()。A.生产缺陷B.设计缺陷C.警示缺陷D.存储缺陷
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