晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为()A.垂直法B.斜射法C.表面波法D.K型扫查

题目内容（请给出正确答案）

晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为()

A.垂直法

B.斜射法

C.表面波法

D.K型扫查

参考答案

考题探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法，称为斜射法。（）此题为判断题(对，错)。

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考题超声波探伤时施加耦合剂的主要原因是()。 A、润滑接触面，尽量减少探头的磨损;B、排除探头与探测面间的空气;C、晶片与探测面直接接触时就不会产生振动;D、使探头可靠地接触;

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考题探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法是() A、斜射法B、水浸法C、接触法D、穿透法

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考题超声波探伤时施加耦合剂的主要目的是() A、润滑接触面尽量减少探头磨损B、排除探头与探测面间的空气C、晶片与探测面直接接触时就不会振动D、使探头可靠地接地

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考题关千颈椎前后位摄影，以下错误的是A.被检者仰卧于摄影床上或立于摄影架前B.身体正中矢状面垂直探测器并重合于探测器中线C.双臂置于身旁，头稍上仰，听彝线垂直于探测器D.探测器上缘平外耳孔，下缘平胸骨颈静脉切迹E.中心线向脚端倾斜10°?15°角，经甲状软骨射入探测器

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考题焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测()A.平行于探测面的缺陷 B.与探测面倾斜的缺陷 C.垂直于探测面的缺陷 D.不能用斜探头检测的缺陷

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考题方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是()A.平行且靠近探测面 B.与声束方向平行 C.与探测面成较大角度 D.平行且靠近底面

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考题投影面平行面同时垂直于两个投影面，而投影面垂直面只垂直于一个投影面。

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考题 39、防止影像变形的措施不正确的是A．以任意的中心线方向和角度照射B．被照体尽量靠近探测器C．中心线垂直于探测器D．中心线通过被检部位并垂直于探测器E．使被照体平行于探测器

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