考题
检验标准：铝型材A面如出现黑线，黑线长度＜（）宽度＜（）不超过2处A、＜10mm；＜0.5mmB、＜20mm；＜0.5mmC、＜10mm；＜0.2mmD、＜20mm；＜0.2mm
考题
在铸件射线照相底片上发现呈现宽度不等、有许多断续分支锯齿形黑线（一个或多个）的显示，这很可能是（）A、冷裂纹B、冷隔C、热撕裂D、型芯偏移
考题
底片上的出现宽度不等，有许多断续分枝的锯齿形黑线，它可能是（）A、裂纹B、未溶合C、未焊接D、咬边
考题
TDB18AE设备存在两种类型的存储器，分别是DOC卡和（）A、FLASHB、RAMDISKC、ATAD.CF
考题
调整白平衡应该使用（）测试卡。A、灰度卡B、星型C、多波群D、清晰度
考题
蒙塞尔色系的三要素分别是（）。A、对比度B、明度C、色相D、灰度
考题
常被用于验证环境辨视条件的工具之一是灰度卡，检验员若能清晰看到灰度卡上（）的黑线，就可认定辨视能力足够
考题
18%中性灰卡中的黑线宽度为（）A、0.4mmB、0.8mmC、1.0mmD、0.1mm
考题
射线底片上呈现为宽度不等、有许多断续分支的锯齿形黑线的一个或多个显示是（）A、冷裂纹B、冷隔C、热撕裂D、型心偏移
考题
射线底片上，沿焊缝熔合区边缘的宽度不等的黑线是：（）A、咬边B、未熔合C、气孔D、疏松
考题
在铸件射线照相底片上发现有清晰的黑线或长度和宽度不等、轮廓光滑分明的黑色条带，这很可能是（）A、疏松B、偏析C、冷隔D、撕裂
考题
等位基因位于（）A、DNA两条链上B、联会时形成的四分体上C、两条非同源染色体上D、两条姐妹染色单体上
考题
若计算机屏幕上每个像素的灰度级为256，则刷新存储器每个单元的宽度是（）A、256位B、16位C、8位D、7位
考题
一组数15，18，19，20，22，24，26，27，28，29，32的上四分位数值和下四分位数值分别是（）A、28，19B、29，20C、28，20
考题
TDB18AE设备存在两种类型的存储器，分别是DOC卡和（ ）A、FLASHB、RAMDISKC、ATAD、CF
考题
ATM传输时，AAL2PATH业务类型是怎么定义（）A、两条R99业务，两条H业务，类型分别是RT、RT、RT、NRTB、两条R99业务，两条H业务，类型分别是RT、NRT、RT、UBRC、两条R99业务，两条H业务，类型分别是RT、UBR、RT、UBRD、两条R99业务，两条H业务，类型分别是RT、RT、NRT、NRT
考题
一束单色光垂直入射在光栅上，衍射光谱中共出现5条明纹；若已知此光栅缝宽度与不透明部分宽度相等，那么在中央明纹一侧的两条明纹分别是第（）级和第（）级谱线。
考题
网卡的性能主要取决于它的（）A、总线宽度和卡上内存B、内存C、总线宽度D、接口类型
考题
甬台温、台金线收费站站码的前二位分别是（）。A、19；18B、12；18C、17；18D、19；12
考题
单选题底片上的出现宽度不等，有许多断续分枝的锯齿形黑线，它可能是（）A
裂纹B
未溶合C
未焊接D
咬边
考题
单选题网卡的性能主要取决于它的（）A
总线宽度和卡上内存B
内存C
总线宽度D
接口类型
考题
单选题射线底片上呈现为宽度不等、有许多断续分支的锯齿形黑线的一个或多个显示是（）A
冷裂纹B
冷隔C
热撕裂D
型心偏移
考题
单选题射线底片上，沿焊缝熔合区边缘的宽度不等的黑线是：（）A
咬边B
未熔合C
气孔D
疏松
考题
填空题常被用于验证环境辨视条件的工具之一是灰度卡，检验员若能清晰看到灰度卡上（）的黑线，就可认定辨视能力足够
考题
单选题在铸件射线照相底片上发现呈现宽度不等、有许多断续分支锯齿形黑线（一个或多个）的显示，这很可能是（）A
冷裂纹B
冷隔C
热撕裂D
型芯偏移
考题
单选题在铸件射线照相底片上发现有清晰的黑线或长度和宽度不等、轮廓光滑分明的黑色条带，这很可能是（）A
疏松B
偏析C
冷隔D
撕裂
考题
单选题若计算机屏幕上每个像素的灰度级为256，则刷新存储器每个单元的宽度是（）A
256位B
16位C
8位D
7位