考题
射线检测适用于检测体积型缺陷，而面积性缺陷的检出率受多种因素的影响。此题为判断题(对，错)。
考题
射线检测是依靠射线照射在工件上，透射后的射线强度根据物质的种类、厚度和密度而变化，利用射线的照相作用、荧光作用等特性，将这个变化记录在胶片上，经显影后形成底片的黑度变化，根据底片黑度的变化可了解工件内部结构状态，达到检查出缺陷的目的。下列关于射线检测的说法中不正确的是（ ）A.对体积型缺陷（气孔、夹渣类）检出率高
B.面积性缺陷（裂纹、未熔合类）如果照相角度不适当，容易漏检
C.适宜检验角焊缝，不适宜检验对接焊缝
D.检测成本高、速度慢；射线对人体有害
考题
检出小缺陷地能力叫做（）A、射线照相对比度B、射线照相灵敏度C、射线照相密度D、射线照相分辨率
考题
渗透检验能否检出表面开口缺陷主要取决于开口处的（）和（）
考题
指出小口径管对接焊缝射线照相缺陷检出的不利因素，并提出改进措施。
考题
裂纹类面状缺陷的可检出性不仅取决于射线照相影像质量的三参数，还取决于缺陷本身的三参数即（）、（）和（）。
考题
射线探伤的优点是：（）。A、检测结果有直接记录B、可以获得缺陷的真实图像C、面积型缺陷的检出率比体积型缺陷的检出率高D、适宜检验较薄的工件而不适宜较厚的工件
考题
什么是使用象质计的局限性（）A、不能提供射线照相检验灵敏度的永久性证据B、不能比较两种不同透照技术的质量高低C、不能提供可检出缺陷尺寸的质量指示D、不能验证所用透照工艺的适当性
考题
从可检出最小缺陷的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）A、底片成象颗粒度B、底片上缺陷图像不清晰度C、底片上缺陷图像对比度D、以上都是
考题
从可检出最小缺陷尺寸的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）A、胶片粒度B、底片上缺陷影像的不清晰度C、底片上缺陷影像的对比度D、以上都是
考题
裂纹类面状缺陷的检出率，不仅取决于底片的灵敏度，还取决于（）。A、缺陷自身的高度B、缺陷宽度C、缺陷与射线束的角度D、以上都是
考题
射线检测对哪类缺陷的检出率受照相角度影响，容易漏检（）A、面积型缺陷
考题
涡流探伤灵敏度在很大程度上取决于试验频率，试验频率越高，表面缺陷的检出能力（）；试验频率越低，内部缺陷的检出能力（）.
考题
曝光过程中，试样或胶片偶然移动或使用焦距变小（）。A、产生射线照相底片对比度低B、不可能检出大缺陷C、产生射线照相底片不清晰D、产生发灰的射线照片
考题
从可检测的最小缺陷尺寸的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）。A、 胶片的粒度大小B、 曝光时间C、 底片黑度D、 以上都对
考题
决定可检出缺陷在射线透照方向最小尺寸（缺陷深度）的是影像的（）。A、对比度B、不清晰度C、颗粒度D、以上都是
考题
体积状缺陷的可检出性主要取决于射线照相对比度细小缺陷的可检出性还取决于胶片的（）。A、大小B、颜色C、重量D、清晰度
考题
从可检测的最小缺陷尺寸的意义上说，射线照相灵敏度取决于底片上缺陷影响的对比度。
考题
裂纹类面状缺陷的可检出性不仅取决于射线照相影像质量的三参数，还取决于缺陷的（）。A、深度B、宽度C、与射线束的角度D、以上都对
考题
单选题从可检出最小缺陷的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）A
底片成象颗粒度B
底片上缺陷图像不清晰度C
底片上缺陷图像对比度D
以上都是
考题
填空题渗透检验能否检出表面开口缺陷主要取决于开口处的（）和（）
考题
单选题射线检测对哪类缺陷的检出率受照相角度影响，容易漏检（）A
面积型缺陷
考题
单选题裂纹类面状缺陷的检出率，不仅取决于底片的灵敏度，还取决于（）。A
缺陷自身的高度B
缺陷宽度C
缺陷与射线束的角度D
以上都是
考题
单选题从可检测的最小缺陷尺寸的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）。A
胶片的粒度大小B
曝光时间C
底片黑度D
以上都对
考题
填空题涡流探伤灵敏度在很大程度上取决于试验频率，试验频率越高，表面缺陷的检出能力（）；试验频率越低，内部缺陷的检出能力（）.
考题
单选题检出小缺陷地能力叫做（）A
射线照相对比度B
射线照相灵敏度C
射线照相密度D
射线照相分辨率
考题
单选题从可检出最小缺陷尺寸的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）A
胶片粒度B
底片上缺陷影像的不清晰度C
底片上缺陷影像的对比度D
以上都是