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有关CT剂量电离室辐射测量的叙述,错误的是()
- A、电离室的放置必须平行于患者的纵轴
- B、电离室应该与X射线束垂直
- C、电离室须放置在专用的体模外测量
- D、对体模的每个插孔需依次分别测量
- E、通常取各插孔测量的平均值作为一次扫描的剂量
参考答案
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考题
关于剂量的测量方法说法错误的是A、吸收剂量最直接最基本的方法是量热法B、常用的热释光剂量片为LiFC、半导体探测器又称为固体电离室D、自由空气电离室可以作为现场使用的剂量仪E、自由空气电离室属于直接绝对测量的标准仪器
考题
CT辐射防护中,局部剂量测量常用X线 毫安秒为A.80mAsB.100mAsC.120mAs
CT辐射防护中,局部剂量测量常用X线 毫安秒为A.80mAsB.100mAsC.120mAsD.150mAsE.200mAs
考题
关于X线剂量的理解,错误的是()A、扫描层数越薄,X线剂量越小B、X线剂量大小是CT图像质量保证C、增加X线剂量可减少图像噪声D、内耳CT扫描需用较大的X线剂量E、病人所受辐射量与扫描层数有关
考题
关于电离室空气吸收剂量校准因子ND的描述,错误的是()A、依赖于电离室的几何形状B、依赖于电离室的制作材料C、与电离室的比释动能校准因子NK有关D、与照射量校准因子NX有关E、与吸收剂量校准因子Cλ,CE有关
考题
用电离室测量水中吸收剂量时,引入有效测量点的概念是由于电离室()A、对注量产生扰动B、室壁的空气非等效性C、中心电极的空气非等效性D、空腔中未达到电子平衡E、空腔内电离辐射的注量梯度变化
考题
对半导体剂量计的描述,不正确的是()A、N型硅晶体适合辐射剂量测量B、适于测量半影区剂量分布C、直接测量电子束深度剂量曲线D、比标准电离室更灵敏,体积更小E、剂量响应随温度改变会发生变化
考题
关于场所剂量仪的叙述,正确的是()A、工作在电流模式下的电离室适合高剂量率测量B、正比计数器比电离室具有更高的灵敏度C、中子测量仪中热中子和lOD、GM计数器广泛应用于极低辐射水平的测量E、GM计数器对高能光子表现出很强的能量依赖性
考题
对辐射剂量计的描述中,不正确的是()A、电离室有良好的能量响应B、胶片剂量计的空间分辨率高,不会对射束造成扰动C、热释光剂量计有较好的组织等效性,可用于点剂量测量D、半导体剂量计的灵敏度高,需要外臵偏压E、电离室用于射束剂量校准
考题
关于剂量验证测量描述错误的是()。A、点剂量测量仪主要有电离室、热释光剂量仪和半导体剂量仪B、点剂量仪可以适用于剂量梯度非常大的区域C、二维剂量的测量方法为胶片剂量分析和电子照射野剂量测量D、胶片测量仪不适于测量绝对剂量分布E、EPID在高剂量区对验证实际剂量分布可起关键作用
考题
单选题以下的那一选择项是正确的()A
电离室测量与电离室的工作电压无关;电离室测量时不具有方向性B
电离室测量与电离室的工作电压有关;电离室测量时不具有方向性C
电离室测量与电离室的工作电压无关;电离室测量时具有方向性D
电离室测量与电离室的工作电压有关;电离室测量时具有方向性E
电离室测量与电离室的灵敏体积无关;电离室测量时不具有方向性
考题
单选题关于CT剂量指数测量方法的叙述,错误的是:()A
电离室的放置应平行于患者纵轴B
电离室的放置应与X射线束平行C
电离室须放置在专用体模内测量D
体模各部位所测的射线剂量不同E
常用体模为直径16cm和32cm两种
考题
单选题用电离室测量水中吸收剂量时,引入有效测量点的概念是由于电离室()A
对注量产生扰动B
室壁的空气非等效性C
中心电极的空气非等效性D
空腔中未达到电子平衡E
空腔内电离辐射的注量梯度变化
考题
单选题对半导体剂量计的描述,不正确的是()A
N型硅晶体适合辐射剂量测量B
适于测量半影区剂量分布C
直接测量电子束深度剂量曲线D
比标准电离室更灵敏,体积更小E
剂量响应随温度改变会发生变化
考题
单选题对辐射剂量计的描述中,不正确的是()A
电离室有良好的能量响应B
胶片剂量计的空间分辨率高,不会对射束造成扰动C
热释光剂量计有较好的组织等效性,可用于点剂量测量D
半导体剂量计的灵敏度高,需要外臵偏压E
电离室用于射束剂量校准
考题
单选题用电离室测量高能X线剂量是,有效测量点位于()A
电离室中心前方的0.5r处B
电离室中心前方的0.55r处C
电离室中心前方的0.6r处D
电离室中心前方的0.65r处E
电离室中心前方的0.7r处
考题
单选题有关CT剂量电离室辐射测量的叙述,错误的是()A
电离室的放置必须平行于患者的纵轴B
电离室应该与X射线束垂直C
电离室须放置在专用的体模外测量D
对体模的每个插孔需依次分别测量E
通常取各插孔测量的平均值作为一次扫描的剂量
考题
多选题电离辐射吸收剂量的测量方法有()A电离室法B胶片剂量仪法C化学剂量计法D水模体测量法E半导体剂量仪法
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