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图像质量的客观测量方法分为（）。

A、均方差和峰值躁比 B、峰值躁比和相对评估 C、均方差和相对评估 D、相对评估和绝对评估

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考题 下面关于方差分析的描述那项不正确A．方差分析可以用于多组均数的比较B．方差分析可以用于两组均数的比较C．方差分析不可以用于两组均数的比较D．两组均数，比较时，方差分析与t检验等价E．方差分析比￡检验具有更广的适用性
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考题 图像质量的评估方法主要分（ ）两类。A．主观评价和相对评估 B．绝对评估和客观测量 C．主观评价和客观测量 D．相对评估和绝对评估
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考题 关于方差，错误的一项是A．总体方差是个常数B．总体方差是利用算术均数的定义采定义的C．样本方差也有标准差D．可能比标准差大，也可能比标准差小E．若有两组样本量相同的资料，极差大，方差也一定大
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考题 图像质量的评估方法主要分两类：（64） 。A. 均方差和峰值信噪比 B. 主观评价和客观测量 C. 均方差和相对评估 D. 相对评估和绝对评估
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考题 LTE上行采用SCFDMA是为了( )A.降低峰均比B.增大峰均比C.降低峰值D.增大均值
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考题 系列的均方差和回归线的均方误有什么区别?
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考题 两样本均数的t检验,()。 A.要求两组均数相近B.要求两组方差齐性C.对均数和方差没有要求D.要求均数和方差相近E.对资料没有要求
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考题 关于方差分析的捕述，下列错误的是A.方差分析可以用于多组均数的比较B.方差分析可以用于两组均数的比较C.方差分析不可以用于两组均数的比较D.两组均数比较时，方差分析与t检验等价E.方差分析比t检验具有更广的适用性
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考题 在正交试验中，对试验结果进行方差分析时，方差分析表中的表头内容包括( )。A．数据来源B．偏差平方和及其自由度C．因素水平表D．均方和及F比E．水平数
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考题 两组设计两样本均数比效的t检验公式中，位于分母位置上的是:A、两样本均数之差B、两样本均数之差的方差C、两样本均数之差的标准误D、两样本均数方差之差E、两样本均数标准误之差
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考题 说明某事件发生的频率或强度指标是（）。A、构成比B、相对比C、率D、均数E、方差
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考题 方差分析的前提条件是（）。A、资料服从正态分布B、各总体方差相同C、各样本方差相同D、各总体均数不等E、各样本均数和方差都相同
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考题 下面关于方差分析的描述那项不正确（）。A、方差分析可以用于多组均数的比较B、方差分析可以用于两组均数的比较C、方差分析不可以用于两组均数的比较D、两组均数比较时，方差分析与t检验等价E、方差分析比t检验具有更广的适用性
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考题 LTE上行采用SC-FDMA是为了（）A、降低峰均比B、增大峰均比C、降低峰值D、增大均值
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考题 狭义遗传率是指（）。A、遗传方差占表型方差的百分比B、上位方差占表型方差的百分比C、加性方差占表型方差的百分比D、显性方差占表型方差的百分比
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考题 方差分析的基本思想是把总方差分解成各个方差的和，然后分析各项方差的大小与占比。
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考题 信度可以被定义为一组测量分数的（）方差和实得分数方差的比。
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考题 方差分析的基本思想和要点是（）A、组间均方大于组内均方B、组内均方大于组间均方C、不同来源的方差必须相等D、两方差之比服从F分布E、总变异及其自由度可按不同来源分解
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考题 对于二项分布，理论上其均数与方差的关系是（）A、均数等于方差B、均数大于方差C、均数小于方差D、均数等于标准差E、无确定关系
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考题 LTE上行采用SCFDMA是为了A、降低峰均比B、增大峰均比C、降低峰值D、增大均值
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考题 使用JT-1型晶体管特性图示仪每项测试完毕，应将（），然后关闭电源.A、“峰值电压”置于最小位置B、“阶梯电流和电压”置于最小位置C、“峰值电压”和“阶梯电流和电压”均置于最小位置D、“峰值电压”和“阶梯电流和电压”均置于最大位置
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考题 多选题在正交试验中，对试验结果进行方差分析时，方差分析表中的表头内容包括(　　)。A变差来源B偏差平方和及其自由度C因素水平表D均方和及F比E因子数
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考题 单选题狭义遗传率是指（）。A 遗传方差占表型方差的百分比B 上位方差占表型方差的百分比C 加性方差占表型方差的百分比D 显性方差占表型方差的百分比
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考题 单选题LTE上行采用SCFDMA是为了A 降低峰均比B 增大峰均比C 降低峰值D 增大均值
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考题 单选题说明某事件发生的频率或强度指标是（）。A 构成比B 相对比C 率D 均数E 方差
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考题 单选题LTE上行采用SC-FDMA是为了（）A 降低峰均比B 增大峰均比C 降低峰值D 增大均值
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考题 多选题方差分析的前提条件是（）。A资料服从正态分布B各总体方差相同C各样本方差相同D各总体均数不等E各样本均数和方差都相同
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