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某电子产品的寿命服从指数分布，为估计该产品的MTBF，进行定时截尾寿命试验，即试验进行到规定的时间停止，在对产品的MTBF进行区间估计时，必须用到的量有( )。
A.投入寿命试验的产品数
B.所有投入试验产品的试验时间总和，即累计试验时间
C.正态分布临界值
D. x2的分布临界值
E.发生的故障数
A.投入寿命试验的产品数
B.所有投入试验产品的试验时间总和，即累计试验时间
C.正态分布临界值
D. x2的分布临界值
E.发生的故障数
参考答案
参考解析
解析：设定时截尾试验时间为T*，出现的故障数为r，于是MTBF的点估计值θ为θ=
自由度为2r +2的x2分布的γ分位点。所以，在对产品的MTBF进行区间估计时，必须用到的量有出现的故障数r和x2的分布临界值。
自由度为2r +2的x2分布的γ分位点。所以，在对产品的MTBF进行区间估计时，必须用到的量有出现的故障数r和x2的分布临界值。
更多 “某电子产品的寿命服从指数分布，为估计该产品的MTBF，进行定时截尾寿命试验，即试验进行到规定的时间停止，在对产品的MTBF进行区间估计时，必须用到的量有( )。 A.投入寿命试验的产品数 B.所有投入试验产品的试验时间总和，即累计试验时间 C.正态分布临界值 D. x2的分布临界值 E.发生的故障数” 相关考题
考题
下列关于可靠性鉴别试验的说法，不正确的是( )。A．θ0、θ1，分别是MTBF检验的上限值和下限值B．定时截尾的可靠性鉴定试验的时间越短，风险越高C．同样风险的情况下，鉴别比越小，试验时间越短D．定时截尾的可靠性鉴定试验只要求累计试验时间，试验的产品数可视情况自定
考题
某系统由A、B、C 3个子系统串联而成，它们的寿命均服从指数分布，其中子系统A、B的MTBF分别是200h、400h。现要求系统的MTBF在100h以上，则子系统C的MTBF至少为(3)h。A．50B．200C．400D．700
考题
一系统由A、B、C三个子系统串联而成，它们的寿命均服从指数分布，其中A、B的MTBF分别是200h、400h。现要求系统的MTBF在100h以上，则子系统C的MTBF至少为(3)h。A．50B．200C．400D．700
考题
某可修复产品故障的发生服从指数分布Exp(λ),故障率λ= 0.002/h，则该产品的平均故障间隔时间MTBF=( )。
A.50 h B. 200 h
C.500 h D.2 000 h
考题
某电子产品由4个部件组成，其中某个部件故障就会导致该产品故障，若假定故 障的发生时间服从指数分布，并已知每个部件的故障率分别为：λ1 =0. 000 7/h，λ2 = 0.000 4/h, λs=0. 000 3/h, λ4 =0. 0001/h。
该电子产品的MTBF为（ ）。
A. 3 333 h B. 2 500 h
C, I 429 h D. 667 h
考题
在产品的失效时间服从指数分布，f(t)=λ﹣λt,λ＞0时,有( )。
A.R(t)=1－e－λt
B.MTBF=1/λ
C. MTTF=MTBF
D.失效率为λ
E. MTBF=MTTR
考题
某产品寿命服从指数分布，即f（t）＝λe﹣u（t≥0）， 则下列说法中，正确的有（）。
A.该产品的可靠度函数为1－e﹣u
B.该产品的不可靠度函数为e﹣u
C.该产品的可靠度函数为e﹣u
D.该产品的故障率为λ
E.该产品的MTBF＝= 1/λ
考题
关于寿命试验时间的错误说法是（）。A、在受试产品没有出现故障时，试验的最长工作时间应是规定寿命值的15倍。B、在受试产品没有出现故障时，试验的最长工作时间应是规定寿命值的1.5倍。C、对于寿命鉴定试验要持续到要求的寿命时终止。D、如果试验时间较长，针对较好或较差产品可采用序贯截尾方法来减少试验时间
考题
单选题下列关于可靠性鉴别试验的说法，不正确的是（ ）。A
θ0、θ1分别是MTBF检验的上限值和下限值B
定时截尾的可靠性鉴定试验的时间越短，风险越高C
同样风险的情况下，鉴别比越小，试验时间越短D
定时截尾的可靠性鉴定试验只要求累计试验时间，试验的产品数可视情况自定
考题
判断题寿命服从指数分布的机件N个，进行无替换定时截尾寿命试验。到停止试验时刻为止，已有k（k＜N）个机件发生故障。则这k个机件故障时间的总和（T）与故障数（k）的比值，就等于该机件的平均寿命。A
对B
错
考题
判断题对于寿命服从正态分布的产品，工作时间t=MTBF时，尚有50%的可能正常工作。A
对B
错
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