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一般说来，缺陷越薄，对声波的反射越差，当能得到最大反射时，缺陷厚度最小的尺寸等于()
A.四分之一波长
B.二分之一波长
C.一个波长
D.二分之一波长的奇数倍
B.二分之一波长
C.一个波长
D.二分之一波长的奇数倍
参考答案
参考解析
解析：
更多 “一般说来，缺陷越薄，对声波的反射越差，当能得到最大反射时，缺陷厚度最小的尺寸等于()A.四分之一波长 B.二分之一波长 C.一个波长 D.二分之一波长的奇数倍” 相关考题
考题
假如某零件生产流程,客户对该零件的尺寸非常关注,当客户的规格已经确定时,请问该过程的标准差、西格玛水平、缺陷之间的关系是:()
A.标准差越大时，西格玛水平越低，超出规格限的缺陷品越多.B.标准差越大时，西格玛水平越低，超出规格限的缺陷品越少C.标准差越大时，西格玛水平越高，超出规格限的缺陷品越多D.标准差越大时，西格玛水平越高，超出规格限的缺陷品越少
考题
当射源（或焦点）尺寸一定时，被透工件的缺陷尺寸越小，则（）A、影像放大率Mf数越小，因而缺陷越难发现B、影像放大率Mf数越大，而缺陷越难观察C、形状修正系数σ越大，因而缺陷检出率越低D、以上都不是
考题
在确定缺陷当量时，通常在获得缺陷的最高回波时加以测定，这是因为：（）A、只有当声束投射到整个缺陷发射面上才能得到反射回波最大值B、只有当声束沿中心轴线投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值C、只有当声束垂直投射到工件内缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值D、人为地将缺陷信号的最高回波规定为测定基准
考题
单选题在确定缺陷当量时，通常在获得缺陷的最高回波时加以测定，这是因为：（）A
只有当声束投射到整个缺陷发射面上才能得到反射回波最大值B
只有当声束沿中心轴线投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值C
只有当声束垂直投射到工件内缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值D
人为地将缺陷信号的最高回波规定为测定基准
考题
判断题在同样的检测条件下，当自然缺陷的反射回波，与某人工规则反射体的反射回波等高时，则该人工规则反射体的尺寸，就是此自然缺陷的实际尺寸。A
对B
错
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