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关于不合格品率控制图的说法，正确的有（ ）。
A.子组大小可以不相等
B.子组大小相等时控制限为凹凸状，无法判异
C.多用于控制产品外观瑕疵点的变化
D.用于分析过程不合格品率的波动
E.理论基础是指数分布
参考答案
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考题
有关P图的叙述正确的是()。
A.p控制图的统计控制状态是指过程的不合格品率为一常数p，且各个产品的生产是独立的B.如果ni变化不大，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制C.当ni变化较大时，可采用标准化变量的方法D.若ni不全相等，则p控制图的Lc、LP和UCLP是凹凸状的
考题
某公司每天都从当天生产的过程中随机抽取一个样本，检验其不合格品数。过去一个月中每天抽取的样本量(子组大小)为150，240，…，360。为控制产品的不合格品率，应采用( )。A．X-R控制图B．np控制图C．p控制图D．c控制图
考题
抽取子组绘制控制图时，应做到( )。A．子组内产品尽量在短间隔内抽取B．子组样本量越小判断越准确C．过程稳定性好，子组间隔可以扩大D．子组间隔越大越好E．均值一极差图通常取的子组大小为4或5
考题
下列关于p图的描述正确的有( )。A．P图的统计基础是泊松分布B．如果ni变化不大，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线C．当ni变化较大时，可采用标准化变量的方法D．若ni不全相等，则p控制图的LCLp和UCLp是凹凸状的E．p图是控制过程的合格品率p的控制图
考题
在p控制图中，若每个子组ni不全相等，则p控制图的上下控制线是凹凸状，对此 GB/T 4091—2001提出的解决方法有( )。A．当ni变化不大时，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线B．当ni变化较大时，可采用标准化变量的方法C．选样本量充分大，使得每个子组平均有一个不合格品D．不标出LCL控制线E．不标出UCL和LCL控制线
考题
关于常规计量控制图与P图的对比，正确的有（ ）。A.计量控制图子组大小要求较大B.计量控制图子组大小要求较小C.计量控制图要求、测量出具体量值D.计量控制图适用于控制多个特性的场合E.P图更为灵敏
考题
下列有关p图的叙述正确的有( )。A．P图的统计基础是泊松分布B．如果ni变化不大，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线C．当ni变化较大时，可采用标准化变量的方法D．若ni不全相等，则户控制图的LCLp和UCLp是凹凸状的E．p图是控制过程的合格品率P的控制图
考题
关于p控制图的说法，正确的有（ ）。A.P图是控制生产过程的加工时间的控制图B.P图是控制生产过程的不合格品率的控制图C.P图中的各个子组大小可以不相等D.P图的统计基础是二项分布E.P图的统计基础是泊松分布
考题
关于极差控制图的说法，正确的有（ ）。A.极差的计算公式为子组中最大值与最小值的差B.当子组样本量大于10时，不适宜使用极差控制图C.极差控制图主要用于分析分布中心的波动D.极差控制图计算简便E.在分析阶段与均值控制图联合使用时，应先分析均值控制图
考题
关于P控制图的说法，正确的有（ ）。A.用于控制过程的不合格品率B.当每个子组的大小不同时，常规P图的控制限呈凹凸状C.如果每个子组的大小都等于n，则n越大，控制限越宽D.统计基础为二项分布E.当用标准化打点值的方法时，上下控制限为±3
考题
均值一标准差控制图和其他计量控制图相比，（ ）。
A.均值一标准差图更适用于抽样困难，检验成本大的场合
B.标准差图更准确地反映过程波动的变化
C.当子组大小大于10时不适于使用标准差控制图
D.均值图分析过程中心的波动较单值图更灵敏
E.均值—极差图的子组大小应大于均值—标准差图的子组大小
考题
下列关于p图的描述正确的有（ ）。A. p图的统计基础是泊松分布
B.如果ni变化不大，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线
C.当ni变化较大时，可采用标准化变量的方法
D.若ni不全相等，则p控制图的LCLp和UCLp是凹凸状的
E. p图是控制过程的合格品率p的控制图
考题
下列选择适宜控制图进行过程监控的做法中，正确的有（ ）。
A.对于产品质量稳定、均匀的过程可以选用单值图
B.计量控制图的检出力高于计数控制图
C.计量控制图与计数控制图具有相同的控制时效性
D.使用X-R图时样本量（子组大小）宜取4或5
E.使用p图和u图时样本量（子组大小）必须为常数
考题
关于绘制控制图的说法，正确的有（ ）。
A.分析用X－s控制图的子组个数一般取20~25个
B.子组大小和抽样频率的确定应遵从合理子组原则
C.样本点的绘制应按发生的先后顺序进行
D.只要控制用控制图判异，就应该重新绘制
E.只要分析用控制图判稳，就应该转为控制用控制图监控过程
考题
某公司每天都从当天生产的过程中随机抽取一个样本，检验其不合格品数。过去一个月中每天抽取的样本量（子组大小）为150，240，…，360。为控制产品的不合格品率，应采用（ ）。
A. -R控制图 B.np控制图 C. p控制图 D. c控制图
考题
下列关于p控制图的叙述中，正确的有（ ）。[2008年真题]
A. p图是控制生产过程的加工时间的控制图
B. p图是控制生产过程的不合格品率的控制图
C. p图中的各个子组大小可以不相等
D. p图的统计基础是二项分布
E. p图的统计基础是泊松分布
考题
关于p控制图的说法，正确的有（）。
A. p图是控制生产过程的加丁时间的控制图
B. p图是控制生产过程的不合格品率的控制图
C. p图中的各个子组大小可以不相等
D. p图的统计基础是二项分布
E.p图的统计基础是泊松分布
考题
在p控制图中，若每个子组不全相等，则P控制图的上下控制线是凹凸状，对此GB/T 4091—2001提出的解决方法有（ ）。
A.当ni 变化不大时，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线
B.当ni 变化较大时，可采用标准化变量的方法
C.选样本量充分大，使得每个子组平均有一个不合格品
D.不标出LCL控制线
E.不标出UCL和LCL控制线
考题
关于极差控制图的说法，正确的有（）。
.极差的计算公式为子组中最大值与最小值的差
B.当子组样本量大于10时，不适宜使用极差控制图
C.极差控制图主要用于分析分布中心的波动
D.极差控制图计算简便
E.在分析阶段与均值控制图联合使用时，应先分析均值控制图
考题
多选题在p控制图中，若每个子组ni不全相等，则p控制图的上下控制线是凹凸状，对此GB/T 4091—2001提出的解决方法有（ ）。A当ni变化不大时，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线B当ni变化较大时，可采用标准化变量的方法C选样本量充分大，使得每个子组平均有一个不合格品D不标出LCL控制线E不标出UCL和LCL控制线
考题
多选题均值-标准差控制图和其他计量控制图相比，( )。A均值-标准差图更适用于抽样困难，检验成本大的场合B标准差图更准确地反映过程波动的变化C当子组大小大于10时不适于使用标准差控制图D均值图分析过程中心的波动较单值图更灵敏E均值-极差图的子组大小应大于均值-标准差图的子组大小
考题
多选题下列关于p图的描述正确的有（ ）。Ap图的统计基础是泊松分布B如果ni变化不大，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线C当ni变化较大时，可采用标准化变量的方法D若ni不全相等，则p控制图的LCLp和UCLp是凹凸状的Ep图是控制过程的合格品率P的控制图
考题
多选题利用控制图控制铸件的砂眼数，每次抽取的子组大小相同，可使用的控制 图有( )。ApBcCuDX-Rs
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