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探诊适用于

A.牙隐裂

B.牙根折

C.氟牙症

D.合面龋

E.四环素牙

参考答案

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考题 男，41岁。因近来牙齿冷热酸甜敏感不适就诊。患者在酿醋厂工作20年。检查：牙列唇颊面、咬合面等有不同程度牙体硬组织缺损，探诊敏感，温度测验敏感。最可能的诊断为A.牙隐裂B.牙轴质发育不全C.牙酸蚀症D.氟牙症E.龋病
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考题 患者30岁，因左侧下后牙反复肿痛就诊。查：左下5无龋，牙合面磨损可见牙本质暴露，探无反应，叩(+)，X线：根尖病变，根尖孔呈喇叭口状。造成该牙的原因可能为A.磨损B.牙隐裂C.畸形中央尖D.牙合创伤E.釉质发育不全
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考题 患者，男，55岁，喜欢食硬物，右下后牙进食酸痛，无自发痛，检查见：右下第一磨（牙合）面磨耗，探诊敏感。 最可能的诊断是A.龋齿B.牙髓炎C.氟牙症D.牙本质过敏E.釉质发育不全
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考题 世界卫生组织确定的根龋诊断标准是A.牙根面上着色的不平坦区B.底部发软的病损、釉质潜在损害或沟壁软化者C.CPI探针在根面探及软的或皮革样损害D.牙根面上出现的硬的凹陷E.牙根面上探诊时出现疼痛即可诊断为根面龋
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考题 牙隐裂隐裂线不明显时常采用的检查方法是A.探诊B.电活力检测C.碘酊染色D.咬诊E.冷热诊
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考题 X线检查适用于A.牙根折B.牙隐裂C.氟牙症D.龋E.四环素牙
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考题 探诊适用于A.牙根折B.牙隐裂C.氟牙症D.龋E.四环素牙
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考题 探诊时出现卡针现象的龋损是( )A．平滑面浅龋B．平滑面中龋C．窝沟浅龋D．根面中龋E．牙骨质龋
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考题 X线片检查适用于A.牙隐裂B.牙根折C.氟牙症D.龋病E.四环素牙
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考题 探诊适用于A.牙隐裂B.牙根折C.氟牙症D.龋病E.四环素牙
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考题 前牙邻面白垩色或黄褐色，探诊有粗糙感A.四环素牙B.氟牙症C.釉质发育不全D.浅龋E.遗传性乳光牙本质根据下列临床表现，可诊断为
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考题 患者因上前牙有白色斑要求治疗。检查：1 1唇面有白垩斑，探光滑，硬。余(-)该患牙诊断为()A.浅龋B.釉质发育不全C.氟牙症D.四环素牙E.以上均有可能
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考题 诊断邻面龋最准确的方法是A．视诊B．探诊C．温度刺激试验D．染色法E．咬合翼片
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考题 属于牙体慢性损伤的组别是A．磨损、氟牙症、牙内陷B．楔状缺损、牙脱位、四环素牙C．牙隐裂、楔状缺损、磨损D．畸形中央尖、牙内陷、四环素牙E．氟牙症、磨损、牙脱位
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考题 有垂直的叩痛提示（ ）A．根尖周炎B．早期牙髓炎C．牙隐裂D．深龋E．氟牙症
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考题 X线检查适用于A.牙隐裂B.牙根折C.氟牙症D.合面龋E.四环素牙
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考题 患者，男性，70岁。左上后牙咀嚼时有敏感症状。检查见合面磨耗明显，叩(一)，探诊敏感，冷诊(一)，无松动。诊断为A.浅龋B.中龋C.牙本质过敏D.逆行性牙髓炎E.可复性牙髓炎
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考题 牙隐裂检查时最有帮助的检查为A.视诊B.探诊C.X线D.涂碘染色 牙隐裂检查时最有帮助的检查为A.视诊B.探诊C.X线D.涂碘染色E.温度测验
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考题 邻面龋最可靠的检查方法为A.叩诊 B.视诊 C.探诊 D.X线检查 E.温度试验
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考题 A.冠龋的诊断标准 B.牙周病流行病学诊断标准 C.牙髓炎诊断标准 D.氟牙症诊断标准 E.根龋的诊断标准用CPI探针在牙根面探及软的或皮革样的损害属于哪项诊断标准
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考题 牙隐裂隐裂线不明显时常采用的检查方法A.冷热诊 B.探诊 C.咬诊 D.碘酊染色 E.电活力检测
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考题 邻面早期龋损，最好用的帮助诊断的方法是A.视诊 B.温度刺激试验 C.叩诊 D.探诊 E.翼片
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考题 患者男，26岁，因上前牙牙面黑色横纹数年要求美齿修复。查体：唇面中央一横纹，与周围分界清晰，探针可探人，探痛(一)最可能的诊断 A.氟牙症 B.楔状缺损 C.四环素牙 D.釉质发育不全 E.中龋
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考题 探诊适用于（）A、牙隐裂B、牙根折C、氟牙症D、龋病E、四环素牙
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考题 X线片检查适用于（）A、牙隐裂B、牙根折C、氟牙症D、龋病E、四环素牙
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考题 单选题探诊适用于（）A 牙隐裂B 牙根折C 氟牙症D 龋病E 四环素牙
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考题 单选题X线片检查适用于（）A 牙隐裂B 牙根折C 氟牙症D 龋病E 四环素牙
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