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测定粉体粒径的常用方法有

A.电感应法

B.显微镜法

C.筛分法

D.沉降法

E.水飞法


参考答案

更多 “ 测定粉体粒径的常用方法有A.电感应法B.显微镜法C.筛分法D.沉降法E.水飞法 ” 相关考题
考题 有关粉体粒径测定的错误表述是( )。A.库尔特记数法可用于测定混悬剂、乳剂、脂质体的粒径B.沉降法适用于100μm以下的粒子的测定C.筛分法常用于45μm以上的粒子的测定D.用显微镜法测定时,一般需测定200~500个粒子E.沉降法是在液体中进行测定,库尔特记数法是直接在同体状态下进行测定

考题 有关粉体粒径测定的不正确表述是( )。A.用显微镜法测定时,一般需测定200~500个粒子B.沉降法适用于100μm以下粒子的测定C.筛分法常用于45μm以上粒子的测定D.中国药典中的九号筛的孔径大于一号筛的孔径E.工业筛用每一英寸长度上的筛孔数目表示

考题 直接测定粒径为0.5~500μm的粉体。宜用下列哪种方法( )A、显微镜法B、筛选法C、沉降法D、电测法E、吸附法

考题 采用哪种方法可测定粉体比表面积( )A.沉降法B.筛分法C.显微镜法D.库尔特记数法E.气体吸附法

考题 粒子径的测定方法有A、比色法B、显微镜法C、库尔特计数法D、沉降法E、筛分法

考题 粒子径的测定方法( )。A.比色法B.显微镜法C.库尔特记数法D.沉降法E.筛分法

考题 有关粉体粒径测定的正确表述是A.用显微镜法测定时,一般需测定200~500个粒子B.沉降法适用于100μm以下粒子的测定C.筛分法常用于45μm以上粒子的测定D.沉降法和库尔特计数法都是在液体中进行测定E.粉体粒径的测定方法有显微镜法、库尔特计数法、沉降法和筛分法

考题 粉体比表面积的测定方法A.筛分法B.沉降法C.压汞法D.气体吸附法E.库尔特计数法

考题 下列方法中可测定粉体比表面积的是( )A.沉降法B.筛分法C.显微镜法D.库尔特计数法E.气体吸附法

考题 在实验中欲测混悬剂中的粒子的粒径,可以选用下列哪些方法( )A.光学显微镜法B.筛分法C.库尔特计数法D.溶剂法E.沉降法

考题 测定粉体比表面积的方法是() A、显微镜法B、筛分法C、库尔特计数法D、沉降法E、BET法

考题 粒子径的测定方法有A.比色法B.显微镜法C.库尔特记数法D.沉降法E.筛分法

考题 直接测定粉体比表面积的方法是A、沉降法B、筛分法C、显微镜法D、气体吸附法E、库尔特记数法

考题 测定粒径的方法( )A.电感应B显微镜法C 筛分法D沉降法E水飞法

考题 采用哪种方法可测定粉体比表面积( )。A.沉降法B.筛分法C.显微镜法D.库尔特计数法E.气体吸附法

考题 测定粉体比表面积可采用的方法是 A、沉降法B、筛分法C、显微镜法D、气体吸附法E、库尔特记数法

考题 采用下列哪种方法可测定粉体比表面积A.沉降法B.筛分法C.显微镜法D.库尔特记数法E.气体吸附法

考题 测定分体粒径的常用方法有A.电感应法B.沉降法C.筛分法D.显微镜法E.水飞法

考题 直接测定粒径为0.5~500μm的粉体,宜用A.显微镜法B.筛选法C.沉降法D.电测法E.直接测量法

考题 粉体粒径的测定方法有()A、水飞法B、沉降法C、筛析法D、显微镜法E、参比法

考题 如何测定粉体的比表面积()A、沉降法B、气体吸附法C、筛分法D、显微镜法

考题 直接测定粒径为0.5~500μm的粉体,宜用()A、显微镜法B、筛选法C、沉降法D、电测法E、直接测量法

考题 物体粒子测定的方法有()。A、筛分法B、显微镜法C、库尔特计数法D、沉降法E、过滤法

考题 粉尘粒径分布的测定方法有显微镜法、筛分法、细孔通过法和()。

考题 多选题粉体粒径的测定方法有()A水飞法B沉降法C筛析法D显微镜法E参比法

考题 单选题直接测定粒径为0.5~500μm的粉体,宜用()A 显微镜法B 筛选法C 沉降法D 电测法E 直接测量法

考题 单选题如何测定粉体的比表面积()A 沉降法B 气体吸附法C 筛分法D 显微镜法