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1、()是在程序控制温度下,测量物质在可忽视负荷的尺寸随温度变化的一种技术。

A.差热分析

B.差示扫描量热分析

C.热重分析

D.热膨胀分析


参考答案和解析
错误
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考题 在程序控制温度下,测量物质和参比物质的温度差与温度(或时间)之间的关系的方法称为A.热重法B.差热分析法C.差示扫描量热法D.重量分析法E.差示分光光度法

考题 (15分)(注意:在试题卷上作答无效)材料的电阻率ρ随温度变化的规律为ρ=ρ0(1+at),其中α称为电阻温度系数,ρ0是材料在t=0 ℃时的电阻率.在一定的温度范围内α是与温度无关的常数。金属的电阻一般随温度的增加而增加,具有正温度系数;而某些非金属如碳等则相反,具有负温数系数.利用具有正负温度系数的两种材料的互补特性,可制成阻值在一定温度范围内不随温度变化的电阻.已知:在0 ℃时,铜的电阻率为1.7×10 –8 Ω?m,碳的电阻率为3.5×10 -5Ω?m,附近,在0 ℃时,.铜的电阻温度系数为3.9×10 –3 ℃-1,碳的电阻温度系数为-5.0×10-4℃-1.将横截面积相同的碳棒与铜棒串接成长1.0 m的导体,要求其电阻在0 ℃附近不随温度变化,求所需碳棒的长度(忽略碳棒和铜棒的尺寸随温度的变化).

考题 在程序控制温度下,测量待测物质与参比物质的温度差(△T)与温度之间关系的技术称为( )。A.热重法B.差热分析法C.差示扫描量热法D.重量分析法E.差示分光光度法

考题 现代热分析是指在()之下,测量物质的物理性质随温度变化的一类技术.

考题 热重分析(ThermogravimetricAnalysis,GTG或或TGA)是指在程序控制温度下测量待测样品的质量与温度变化关系的一种()技术,用来研究材料的热稳定性和组分。 A.光谱分析B.电化学分析C.色谱分析D.热分析

考题 在程序控制温度下,测量待测物质与参比物质的温度差(△T)与温度之间关系的方法称为A.热重法B.差示热分析法C.差示扫描量热法D.重量分析法E.差示分光光度法

考题 变形是( )。 A、结构在荷载、温度变化、支座移动、制造误差等因素影响下引起的尺寸和形状的改变B、结构在荷载、温度变化、支座移动、制造误差等因素影响下引起的尺寸的改变C、结构在荷载、温度变化、支座移动、制造误差等因素影响下引起形状的改变D、结构在荷载、温度变化、支座移动、制造误差等因素影响下引起的位置的改变

考题 在程序控制温度下,测量电物质的质量与温度关系的方法称为A.B.C.D.E.

考题 在程序控制温度下,测量待测物质与参比物(不发生相变与化学变化的惰性物质)的温度差(△T)与温度(或时间)间关系的方法称为A.B.C.D.E.

考题 在程序控制温度下,测量待测物质与参比物质的温度差(△T)与温度之间关系的技术称为()A热重法B差热分析法C差示扫描量热法D重量分析法E差示分光光度法

考题 电子平直仪测量精度在温度骤变的情况下会产生偏差,因此,在温度变化较大的情况下,应将仪器在测量环境中放置至少()分钟后在开始测量。

考题 在大尺寸测量中,温度影响更为突出,因此必须严格控制温度的变化。

考题 金属在固态温度下随温度的变化由一种晶格转变为另一种晶格的现象,称为金属的()A、变相B、同素异构转变C、固溶转变

考题 金属在()下,随温度的变化,由一种晶格转变为另一种晶格的现象,称为同素异构转变。

考题 金属在固态下随温度的改变由一种晶格转变为另一种晶格的变化称为()。

考题 金属在()的改变,由一种晶格转变为另一种晶格的现象,称为同素异构转变。A、液态下随温度B、固态下随温度C、固态下随结构D、液态下随结构

考题 在焊接热源作用下,焊件上某点的()过程称焊接热循环。A、温度随时间变化B、速度随时间变化C、温度随热场变化D、温度随速度变化

考题 ()温度计是把温度的变化通过测温元件转化为热电势的变化来测量温度的,而()温度计是利用金属导体的电阻值随温度变化而变化的特性来进行温度测量的。

考题 差示扫描量热仪的原理:在规定的气氛及程度温度控制下,测量输入到()的热流速率差随温度和/或时间变化的关系。

考题 油品的粘度是随其温度的升高而减小的。而润滑油往往是在环境温度变化较大的条件下使用的,所以要求()。A、它的粘度随温度变化的幅度不要太大B、它的粘度随温度变化的幅度不要太小C、它的粘度随温度的增高而增高D、它的粘度随温度的降低而降低

考题 光伏电池在固定温度下,短路电流随辐照度有明显变化。固定照度下,开路电压随温度变化。

考题 热负荷图不包括()。A、热负荷延续时间图B、热负荷随室外温度变化图C、热负荷随时间变化图D、热负荷随室内温度变化图

考题 热电阻是利用物质在温度变化时自身电阻也随着发生变化的特性来测量温度的。

考题 电阻温度计是根据其电阻值随温度变化而变化这一原理测量温度的。

考题 热电阻是利用导体或半导体的电阻随温度变化而变化的特性来测量温度的一种感温元件。

考题 填空题对于同一物系,KA值随温度面变,在恒定温度下的KA值随溶质A的变化而变,只有在()条件下的KA值才可近似视为常数。

考题 填空题现代热分析是指在()之下,测量物质的物理性质随温度变化的一类技术.

考题 判断题热分析是在程序控制温度下,测量物质的物理性质与温度之间的关系的一类技术。A 对B 错