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采用GPS技术进行地籍碎部测量,在相同的时间内,一台流动站大约是一台全站仪工作效率的 倍。


参考答案和解析
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考题 边长为5~10km的地籍各等级基本控制网优先采用():A.导线测量B.常规静态测量C.GPS-RTK动态定位D.GPS快速静态定位

考题 GPS测设宜采用静态相对定位的有( )。A.大地测量 B.控制测量 C.变形测量 D.工程测量 E.碎部测量

考题 现阶段,我国地籍管理研究的主要内容不包括(  )。A.GPS测量技术 B.地籍档案与信息管理 C.土地统计 D.地籍测量

考题 必须用勘丈值确定界址点位置的情况包括(  )。A.采用图解勘丈法进行地籍细部测量 B.采用部分解析法进行地籍细部测量 C.采用解析法进行地籍细部测量 D.采用部分解析法进行地籍控制测量 E.采用解析法进行地籍控制测量

考题 以下关于地籍要素测量的叙述,正确的是()。A、地籍要素测量宜采用全解析法B、可根据城镇实际情况,采用GPS-RTK或全站仪极坐标法进行地籍要素测量C、采用GPS-RTK测量时,尽量避免在高大房屋或树下等信号弱的地方采集数据D、采用全站仪测量时,尽量选择距离测站点较近的已知点进行定向

考题 变更地籍调查与测量的技术、方法与初始地籍调查与测量相同。

考题 地籍细部测量是在()和()测量的基础上进行的地籍测量工作。

考题 边长为5~10km的地籍各等级基本控制网优先采用()。A、导线测量B、常规静态测量C、GPS-RTK动态定位D、GPS快速静态定位

考题 现阶段我国地籍管理研究的主要内容包括()。A、土地权属调查B、GPS测量技术C、土地登记D、土地统计E、地籍信息系统

考题 地籍测量的核心是()。A、GPS控制测量B、面积汇总统计C、地籍细部测量D、绘制宗地图

考题 关于全野外数字地籍测量时碎部点测量的特点,下列说法错误的一项是()A、数字地籍测量是记录碎部点的坐标、编码、点号和连接信息B、只有极坐标法一种方法可以进行碎部点测量C、碎部点测量可以在图根控制点测量后进行,也可以与图根控制点测量同时进行D、碎部点测量不受图幅的限制,分幅由软件自动完成

考题 地籍测量的核心()。A、GPS控制测量B、面积汇总统计C、地籍细部测量D、绘制宗地图

考题 变更地籍测量的技术、方法与初始地籍测量()。A、类似B、完全不同C、相同D、差别很大

考题 使用全站仪确定碎部点平面位置需要测量()。A、斜距B、棱镜高C、碎部点垂直角D、碎部点方向角

考题 地形测量使用全站仪测定碎部点高程,计算仪器站与碎部点的高差需要测量的数据有()。A、棱镜高B、碎部点的垂直角值C、仪器高D、碎部点的水平角值

考题 GPS系统提供的定位精度是()m,而为得到更高的定位精度,通常采用差分GPS技术,即将一台GPS接收机安置在基准站上进行观测。A、1B、3C、10

考题 地籍控制测量的布网原则是先局部后整体,先碎部后控制。

考题 根据建立控制网的手段不同,控制网测量分为()。A、地籍细部测量B、地面控制网测量C、GPS控制网测量D、控制测量E、日常地籍测量

考题 现阶段,我国地籍管理研究的主要内容不包括()。A、GPS测量技术B、地籍档案与信息管理C、土地统计D、地籍测量

考题 地籍控制测量中,()控制网可以一次整体布设完成,也可采用GPS网或导线网的形式布设。A、首级B、加密C、地籍D、图根

考题 必须用勘丈值确定界址点位置的情况包括()。A、采用图解勘丈法进行地籍细部测量B、采用部分解析法进行地籍细部测量C、采用解析法进行地籍细部测量D、采用部分解析法进行地籍控制测量E、采用解析法进行地籍控制测量

考题 使用GPT-2000全站仪进行碎部点三维坐标测量之前,应进行哪些基本操作?

考题 单选题GPS系统提供的定位精度是()m,而为得到更高的定位精度,通常采用差分GPS技术,即将一台GPS接收机安置在基准站上进行观测。A 1B 3C 10

考题 多选题以下关于地籍要素测量的叙述,正确的是()。A地籍要素测量宜采用全解析法B可根据城镇实际情况,采用GPS-RTK或全站仪极坐标法进行地籍要素测量C采用GPS-RTK测量时,尽量避免在高大房屋或树下等信号弱的地方采集数据D采用全站仪测量时,尽量选择距离测站点较近的已知点进行定向

考题 单选题变更地籍测量的技术、方法与初始地籍测量()。A 类似B 完全不同C 相同D 差别很大

考题 判断题变更地籍调查与测量的技术、方法与初始地籍调查与测量相同。A 对B 错

考题 多选题必须用勘丈值确定界址点位置的情况包括()。A采用图解勘丈法进行地籍细部测量B采用部分解析法进行地籍细部测量C采用解析法进行地籍细部测量D采用部分解析法进行地籍控制测量E采用解析法进行地籍控制测量

考题 多选题地形测量使用全站仪测定碎部点高程,计算仪器站与碎部点的高差需要测量的数据有()。A棱镜高B碎部点的垂直角值C仪器高D碎部点的水平角值