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数控系统中，插补周期小于采样周期。

参考答案和解析
前者是后者的整数倍
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考题 一般而言,数据采样的插补周期T与插补运算时间关系为()。 A、前者大于后者B、前者小于后者C、两者等于D、两者大小不确定
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考题 采用数据采样插补(亦称时间分割法)时,插补周期和位置反馈采样周期的关系是:()。 A、后者大于前者B、后者是后前者的整数倍C、两者必须相等D、前者是后者的整数倍
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考题 高精度数控系统使用的插补算法是( )。 A.脉冲增量插补B.数据采样插补C.脉冲采样插补D. 数据增量插补
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考题 数控加工编制中的插补误差与机床的数控系统插补不一样。（）
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考题 数据采样插补适用于（）数控系统。
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考题 简述数控系统的插补概念？
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考题 所谓插补就是根据输入线型和速度的要求，（）。A、实时分配各轴在每个插补周期内的位移量B、计算各轴下一插补周期的位移量C、实时计算刀具相对与工件的合成进给速度
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考题 影响数控系统差补精度的主要因素是（）A、最小脉冲电量B、伺服系统类型C、插补算法D、插补周期
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考题 影响数控系统插补精度的主要因素是（）A、变最小脉冲当量B、伺服系统类型C、插补算法D、插补周期
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考题 属于数控系统的插补方法有（）。A、扩展DDA法B、数字积分法C、半径插补法D、直径插补法E、SDI插补法
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考题 DAS的信号采样周期应（）。A、小于信号周期；B、大干信号周期；C、小于信号周期的1/2；D、大于信号周期的1/2。
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考题 数控技术中常用的插补算法可归纳为（）插补法和（）插补法，前者用于（）数控系统，后者用于（）数控系统。
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考题 闭环数控系统中，采样系统的采样周期T应满足（）
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考题 数字增量插补法在每个插补周期输出一个数字量（或称为指令位移增量），数字增量插补是用（）被插补曲线的过程。
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考题 伺服采样周期应大于等于插补周期，而且应是插补周期的整数倍。
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考题 关于插补周期的描述，（）是正确的。A、插补周期必须大于插补运算一次的时间B、插补周期越大，非线性插补的误差越大C、插补周期越大，非线性插补的误差越小D、考虑非线性插补误差，插补周期与允许的进给速度成正比
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考题 关于数控铣床的插补原理，描述错误的是（）。A、数控系统计算刀具运动轨迹的过程称为插补B、圆弧插补的过程中数控系统把轨迹拆分成若干微小直线段C、插补过程中的坐标进给是根据判别结果，使刀具沿坐标轴移动0.01mmD、数控系统最常用的插补原理是逐点比较法
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考题 通常数控系统除了直线插补外，还有（）。A、正弦插补B、圆弧插补C、抛物线插补
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考题 判断题数控加工编制中的插补误差与机床的数控系统插补不一样。（）A 对B 错
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考题 多选题关于插补周期的描述，（）是正确的。A插补周期必须大于插补运算一次的时间B插补周期越大，非线性插补的误差越大C插补周期越大，非线性插补的误差越小D考虑非线性插补误差，插补周期与允许的进给速度成正比
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考题 判断题伺服采样周期应大于等于插补周期，而且应是插补周期的整数倍。A 对B 错
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考题 单选题一般而言，数据采样的插补周期T必须（）插补运算时间。A 大于B 小于C 等于
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考题 填空题数控技术中常用的插补算法可归纳为（）插补法和（）插补法，前者用于（）数控系统，后者用于（）数控系统。
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考题 填空题闭环数控系统中，采样系统的采样周期T应满足（）
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考题 多选题采用时间分割法时，插补周期和位置反馈采样周期的关系是：（）A前者大于后者B后者大于前者C两者必须相等D前者是后者的整数倍
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考题 填空题数字增量插补法在每个插补周期输出一个数字量（或称为指令位移增量），数字增量插补是用（）被插补曲线的过程。
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考题 单选题插补周期与位置反馈采样周期（）。A 相同；B 不相同；C 可以相同，也可以不相同
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考题 单选题所谓插补就是根据输入线型和速度的要求，（）A 实时分配各轴在每个插补周期内的位移量B 计算各轴下一插补周期的位移量C 实时计算刀具相对与工件的合成进给速度D 计算各轴下一插补周期的合成进给速度
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