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()约束是用来约束两个平面同向定位的。


参考答案和解析
A
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考题 割平面法每切割压缩一次都要再增加()。A、约束式B、切割约束式C、压缩约束式D、扩展约束式

考题 割平面法若达不到整数要求条件,则针对某个变量()。 A、减少一条约束直线B、增加一条约束直线C、增加一个割平面D、增加两个对应割平面

考题 在平面机构中,一个高副引入两个约束。A对B错

考题 向心轴承的约束反力是:()A、通过轴心方向不定B、沿着约束离开轴心C、与轴线平面垂直并通过轴心D、沿轴线平面法向指向约束

考题 在平面机构中,一个高副引入两个约束。

考题 ()约束定位两个面或两个基准面,面对面的贴合,两个平面的垂直方向为反向。A、“匹配”B、“对齐”C、“插入”D、“相切”

考题 ()可以用来定义用户定义完整性。A、UNIQUE约束B、CHECK约束C、NULL约束D、触发器

考题 以下几种关于装配约束的描述正确的是()。A、配合对齐约束,用来配合或对齐零件特征,如面、边、轴B、角度约束,用来指定两个部件之间特定角度,如面、边、轴C、相切约束,用于定义两个部件之间的相切关系,如面、边、圆D、插入约束,用于插入零部件的另一个零部件中,如轴与轴,面与面

考题 在平面机构中,具有两个约束的运动副是低副,具有一个约束的运动副是高副。

考题 在平面机构中,若引入一个高副,将引入一个约束,而引入一个低副将引入两个约束。运动副约束数与相对自由度数的关系是().

考题 固定铰支座有两个约束,分别是()和垂直约束。A、自由约束B、水平约束C、固定约束

考题 具有两个自由度和一个约束条件的移动副是平面低副。

考题 平面机构中若引入一个高副将带入()个约束,而引入一个低副将带入()个约束。平面机构中约束数与自由度数的关系是()

考题 在平面机构中,具有两个约束的运动副是()副,具有一个约束的运动副是()副。

考题 平面机构中若引入一个高副将带入()个约束,而引入一个低副将带入()个约束。平面机构中约束数与自由度数的关系是_约束数+自由度数=3。

考题 在平面机构中,平面低副提供()个约束,平面高副提供()个约束。

考题 在平面机构中,平面低副提供()个约束,平面高副提供1个约束。

考题 Pro/E中()约束定位两个面或两个基准面,面对面的贴合,两个平面的垂直方向为反向。A、“匹配”B、“对齐”C、“插入”D、“相切”

考题 ()约束可使两个平面共平面,两条轴线共轴线、两个点对齐。A、“匹配”B、“对齐”C、“插入”D、“相切”

考题 平面力系中,固定端的约束反力的画法是()。A、一个约束反力B、一个约束力偶C、二个正交的约束反力D、二个正交的约束反力和一个约束力偶

考题 单选题对于平面对象,将两个对象定位,使它们共面并且法线方向相同的约束类型为()。A 平行B 角度C 对齐D 配对

考题 单选题()可以用来确定单一草图元素的几何特征,或创建两个或多个草图元素之间的几何特征关系,包括约束和自动约束两种类型。A 尺寸标注B 几何约束C 镜像草图D 连接草图

考题 多选题以下几种关于装配约束的描述正确的是()。A配合对齐约束,用来配合或对齐零件特征,如面、边、轴B角度约束,用来指定两个部件之间特定角度,如面、边、轴C相切约束,用于定义两个部件之间的相切关系,如面、边、圆D插入约束,用于插入零部件的另一个零部件中,如轴与轴,面与面

考题 单选题()约束可使两个平面共平面,两条轴线共轴线、两个点对齐。A “匹配”B “对齐”C “插入”D “相切”

考题 判断题在平面机构中,一个高副引入两个约束。A 对B 错

考题 单选题向心轴承的约束反力是:()A 通过轴心方向不定B 沿着约束离开轴心C 与轴线平面垂直并通过轴心D 沿轴线平面法向指向约束

考题 填空题对草图进行合理的约束是实现草图参数化的关键所在,草图约束包括三种类型:()、()和定位约束。

考题 单选题Pro/E中()约束定位两个面或两个基准面,面对面的贴合,两个平面的垂直方向为反向。A “匹配”B “对齐”C “插入”D “相切”