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单选题
下列有关系统容积灵敏度的描述，错误的是（）。
A
反映SPECT断层成像的计数效率
B
对均匀体源成像，系统容积灵敏度为总体积内所有断层计数之和与源的放射性浓度之比
C
与源模型的大小形状无关
D
核素的能量、衰减、散射会影响灵敏度
E
晶体厚度、准直器的类型会影响灵敏度
参考答案
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更多 “单选题下列有关系统容积灵敏度的描述，错误的是（）。A 反映SPECT断层成像的计数效率B 对均匀体源成像，系统容积灵敏度为总体积内所有断层计数之和与源的放射性浓度之比C 与源模型的大小形状无关D 核素的能量、衰减、散射会影响灵敏度E 晶体厚度、准直器的类型会影响灵敏度” 相关考题
考题
下列有关断层均匀性的描述，错误的是A、指对均匀体源所成的断层图像中放射性分布的均匀性B、断层图像的均匀性比γ相机平面图像的均匀性好C、重建过程对非均匀性有放大作用D、实际上是SPECT对核素在体内三维分布能否真实再现的指标E、断层均匀性与重建算法及总计数有关
考题
下列有关系统容积灵敏度的描述，错误的是A、反映SPECT断层成像的计数效率B、对均匀体源成像，系统容积灵敏度为总体积内所有断层计数之和与源的放射性浓度之比C、与源模型的大小形状无关D、核素的能量、衰减、散射会影响灵敏度E、晶体厚度、准直器的类型会影响灵敏度
考题
下列有关系统平面灵敏度的描述，错误的是A、描述探头对源的响应能力B、指某一探头对特定点源的灵敏度C、用单位活度在单位时间内的计数表示D、系统平面灵敏度也称灵敏度E、与准直器的类型、窗宽、源的种类及形状有关
考题
下列有关断层对比度的描述，错误的是A、反映系统对小病灶的探测能力B、断层对比度与病灶的大小有关C、空间分辨率影响对比度的大小D、不同的重建算法、选用不同的滤波函数及截止频率对对比度也有影响E、对比度一断层图像内病灶平均计数／断层图像内本底平均计数
考题
下列有关断层空间分辨率的描述，错误的是A、包含3个方向的分辨率：x方向、y方向、z方向B、用点源或线源的扩展函数在不同断层中的半高宽( FWHM)来表示C、分有散射和无散射两种情况D、FWHM越大，分辨率越高E、准直器的类型、衰减校正、散射、晶体厚度、重建算法等都会影响空间分辨率
考题
下列有关断层对比度的描述，错误的是（）。A、反映系统对小病灶的探测能力B、断层对比度与病灶的大小有关C、空间分辨率影响对比度的大小D、不同的重建算法、选用不同的滤波函数及截止频率对对比度也有影响E、对比度=断层图像内病灶平均计数／断层图像内本底平均计数
考题
关于SPECT的均匀性校正，正确的说法有（）A、均匀性校正可改善断层图像的线性B、如校正不当，断层图像上会产生同心圆状的伪影C、采集校正泛源图像的计数必须使象素计数的统计涨落小于1％D、均匀性校正可提高SPECT的灵敏度E、均匀性校正可改善SPECT的计数率特性
考题
有关半导体探测器灵敏度的描述，不正确的是（）A、用硅晶体制成的半导体探测器比相同体积的空气电离室的灵敏度高B、在钻-60伽玛辐射场中，N型半导体探测器的灵敏度比P型半导体探测器的灵敏度受累积剂量的影响要小C、照射野的大小会影响半导体探测器的灵敏度D、环境温度会影响半导体探测器的灵敏度E、剂量率会影响半导体探测器的灵敏度
考题
下列有关超声仪灵敏度的描述，错误的是（）A、灵敏度越高的仪器接收回波的质量越高B、调高超声的分辨力也能提升仪器灵敏度C、超声仪的灵敏度与探头无关D、超声仪的灵敏度与显示器无关E、超声仪的灵敏度与图像存储器无关
考题
下列关于散射分数的描述，错误的一项是（）。A、PET系统对散射计数的敏感程度，散射分数越小，系统剔出散射符合的能力越强B、散射分数有断层散射分数和系统散射分数C、某一断层面i的散射分数SFi等于该断层中散射计数与总计数之比D、散射分数计算时总计数为真符合、散射符合计数、随机符合计数之和E、系统的散射分数SF等于所有断层面的散射分数SFi的平均
考题
采用薄膜电容器作为检测器的线外线气体分析器，其光学系统的灵敏度与切光片的调制频率之间的关系是（）A、增加调制频率的改变不会影响其灵敏度B、适当减少调制频率会提高其灵敏度C、增加调制频率会增加其灵敏度D、调制频率的改变不会影响其灵敏度
考题
对采用薄膜电容器作为检测器的红外线分析器，其光学系统的灵敏度与切光片的调制频率之间的关系是：（）A、调制频率的改变不会影响其灵敏度B、增加调制频率会提高其灵敏度C、适当减少调制频率会提高其灵敏度
考题
下列有关PET探测器的描述正确的是（）A、探测器模块中各晶体单元的切割均匀一致B、晶体厚，则能量分辨率提高，灵敏度下降C、晶体单元的表面面积小，则灵敏度提高，空间分辨率下降D、探测器环的直径决定了系统的轴向视野的大小E、同一环中探测器模块数量越多，系统的断层分辨率越高
考题
多选题关于SPECT的均匀性校正，正确的说法有（）A均匀性校正可改善断层图像的线性B如校正不当，断层图像上会产生同心圆状的伪影C采集校正泛源图像的计数必须使象素计数的统计涨落小于1％D均匀性校正可提高SPECT的灵敏度E均匀性校正可改善SPECT的计数率特性
考题
单选题下列有关断层均匀性的描述，错误的是（）。A
指对均匀体源所成的断层图像中放射性分布的均匀性B
断层图像的均匀性比γ相机平面图像的均匀性好C
重建过程对非均匀性有放大作用D
实际上是SPECT对核素在体内三维分布能否真实再现的指标E
断层均匀性与重建算法及总计数有关
考题
单选题下列有关断层对比度的描述，错误的是（）。A
反映系统对小病灶的探测能力B
断层对比度与病灶的大小有关C
空间分辨率影响对比度的大小D
不同的重建算法、选用不同的滤波函数及截止频率对对比度也有影响E
对比度=断层图像内病灶平均计数／断层图像内本底平均计数
考题
单选题下列关于散射分数的描述，错误的一项是（）。A
PET系统对散射计数的敏感程度，散射分数越小，系统剔出散射符合的能力越强B
散射分数有断层散射分数和系统散射分数C
某一断层面i的散射分数SFi等于该断层中散射计数与总计数之比D
散射分数计算时总计数为真符合、散射符合计数、随机符合计数之和E
系统的散射分数SF等于所有断层面的散射分数SFi的平均
考题
单选题下列有关系统平面灵敏度的描述，错误的是（）。A
描述探头对源的响应能力B
指某一探头对特定点源的灵敏度C
用单位活度在单位时间内的计数表示D
系统平面灵敏度也称灵敏度E
与准直器的类型、窗宽、源的种类及形状有关
考题
单选题有关半导体探测器灵敏度的描述，不正确的是（）A
用硅晶体制成的半导体探测器比相同体积的空气电离室的灵敏度高B
在钻-60伽玛辐射场中，N型半导体探测器的灵敏度比P型半导体探测器的灵敏度受累积剂量的影响要小C
照射野的大小会影响半导体探测器的灵敏度D
环境温度会影响半导体探测器的灵敏度E
剂量率会影响半导体探测器的灵敏度
考题
单选题下列有关PET探测器的描述正确的是（）。A
探测器模块中各晶体单元的切割均匀一致B
晶体厚，则能量分辨率提高，灵敏度下降C
晶体单元的表面面积小，则灵敏度提高，空间分辨率下降D
探测器环的直径决定了系统的轴向视野的大小E
同一环中探测器模块数量越多，系统的断层分辨率越高
考题
单选题下列有关断层空间分辨率的描述，错误的是（）。A
包含3个方向的分辨率：x方向、y方向、z方向B
用点源或线源的扩展函数在不同断层中的半高宽（FWHM）来表示C
分有散射和无散射两种情况D
FWHM越大，分辨率越高E
准直器的类型、衰减校正、散射、晶体厚度、重建算法等都会影响空间分辨率
考题
单选题显像时，常选用哪种类型的准直器？（ ）A
低能高分辨准直器B
低能高灵敏度准直器C
高能高灵敏度准直器D
中能高灵敏度准直器E
中能高分辨准直器
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