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单选题
由被检工件引起的散射线是（）
A

背散射

B

侧面散射

C

正向散射

D

全都是

参考答案

参考解析
解析： 暂无解析
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考题 关于散射线的说法，正确的是()A．是摄影有用的射线B．带有被检体信息C．由光电效应产生D．由康普顿效应产生E．具有直进性的射线
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考题 射线照相检测和超声检测可用于检测被检工件内部和表面的缺陷。A对B错
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考题 像质剂通常用与被检工件材质相同或对射线吸收性能相似的材料制作。
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考题 关于散射线的说法，正确的是（）A、是摄影有用的射线B、带有被检体信息C、由光电效应产生D、由康普顿效应产生E、具有直进性的射线
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考题 选择射线源的首要因素是其对被检工件应具有足够的穿透力。
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考题 射线照相检测较适用于检测被检工件内部的面积型缺陷。
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考题 关于散射线的说法，正确的是（）A、是摄影有用射线B、带有被检体信息C、由光电效应产生D、由康普顿效应产生E、具有直进性的射线
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考题 由被检工件引起的散射线是（）A、背散射B、侧面散射C、正向散射D、全都是
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考题 由于射线源的尺寸、射线源到被检件的距离、被检件到胶片距离等原因，在显示缺陷的边缘轮廓时可能发生缺乏完整的清晰度，这个由于几何原因引起的不清晰度称为（）A、像散效应B、半影C、图像失真度D、图像投影模糊
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考题 在胶片和被检工件确定的前提下，对射线照相影象对比度影响最大的是（）
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考题 通常应将像质计放在工件射线源侧的表面上，并靠近被检工件的边缘。
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考题 X射线机阳极的冷却方式和冷却效果（）。A、会影响X射线管容量B、会改变靶的原子序数C、会烧伤被检工件表面D、以上都不对
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考题 射线照相检测和超声检测可用于检测被检工件内部和表面的缺陷。
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考题 对于一定的射线，被检工件厚度范围大，对比度大时，应采用修正方法是提高（）放置（）和延长（）。
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考题 在阴极射线示波屏上显示的被检工件底面反射信号，称为（）。A、杂波B、始波C、发射脉冲D、底面回波
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考题 单选题由于射线源的尺寸、射线源到被检件的距离、被检件到胶片距离等原因，在显示缺陷的边缘轮廓时可能发生缺乏完整的清晰度，这个由于几何原因引起的不清晰度称为（）A 像散效应B 半影C 图像失真度D 图像投影模糊
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考题 填空题在胶片和被检工件确定的前提下，对射线照相影象对比度影响最大的是（）
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考题 单选题关于散射线的说法，正确的是（）A 是摄影有用射线B 带有被检体信息C 由光电效应产生D 由康普顿效应产生E 具有直进性的射线
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考题 判断题选择射线源的首要因素是其对被检工件应具有足够的穿透力。A 对B 错
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考题 判断题射线照相检测和超声检测可用于检测被检工件内部和表面的缺陷。A 对B 错
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考题 判断题通常应将像质计放在工件射线源侧的表面上，并靠近被检工件的边缘。A 对B 错
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考题 判断题像质剂通常用与被检工件材质相同或对射线吸收性能相似的材料制作。A 对B 错
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考题 单选题在阴极射线示波屏上显示的被检工件底面反射信号，称为（）。A 杂波B 始波C 发射脉冲D 底面回波
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考题 填空题对于一定的射线，被检工件厚度范围大，对比度大时，应采用修正方法是提高（）放置（）和延长（）。
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