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对于面板门限效应检验，Hansen（1999）构建了LR统计量，该LR统计量服从卡方分布。

参考答案和解析
包络检波且小信噪比
更多 “对于面板门限效应检验，Hansen（1999）构建了LR统计量，该LR统计量服从卡方分布。” 相关考题
考题 meta分析中要求效应大小对应样本统计量服从什么分布( ) A、正态分布B、二项分布C、指数分布D、泊松分布E、超几何分布
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考题 格兰杰非因果性检验可以利用()完成。 A、F统计量B、LR统计量C、LM统计量D、Wald统计量
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考题 考虑下述文法，S为开始符号 G1[S]：S→A A→aAb | ab G2[S] S→AA→aA |a| 下列结论中为真的是(28)。A．G1是LR(0)文法，G2不是LR(1)文法B．G2是LR(0)文法，G1不是LR(1)文法C．G2是LR(1)文法，G1不是LR(1)文法D．G1和G2都是LR(1)文法
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考题 对于LR(0)分析法,语法分析栈中存放的状态是识别规范句型()的DFA状态。 A.前缀B.活前缀C.LR(0)项目D.句柄
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考题 SFP 接口链路状态指示灯红灯 1s 亮 1s 灭表示()A:lr 链路正常B:光模块收发异常C:lr 链路上 的射频模块存在硬 件故障D:lr 失锁或 lr 链路上 RRU 存在驻波
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考题 小样本情况下，当总体服从正态分布，总体方差未知时，总体均值检验的统计量为( )
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考题 检验某个频数分布是否服从正态分布时，需采用() A.Z检验 B.t检验 C.卡方检验 D.F检验
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考题 估计总体方差的置信区间时，其检验统计量服从( )。A.正态分布 B.t分布 C. 分布 D.F分布
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考题 在大样本时，样本比例会近似服从正态分布。检验统计量用Z统计量，其基本形
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考题 LR200，LR300属于哪类雷达（），LR400属于（）。
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考题 LR-MODE照明继电器控制模式，模式选择2时，为（）。A、仅在关门到位时，电梯停靠LR-T秒后LR继电器输出B、即使在开门时，电梯停靠LR-T秒后LR继电器输出C、在关门到位时，电梯停靠LR-T分后LR继电器输出D、即使在开门时，电梯停靠LR-T分后LR继电器输出
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考题 构造LR分析器的任务就是产生LR分析表。
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考题 LR（1）分析表构造的思想和方法是构造其他LR分析表的基础。
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考题 多样本计量资料比较，当分布类型不清时选择（）。A、t检验B、u检验C、秩和检验D、卡方检验E、方差分析
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考题 游程检验统计量在大样本情况下服从（）A、卡方分布B、正态分布C、二项式分布
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考题 若某随机变量服从正态分布，应该选择的检验统计量为（）。
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考题 统计量常用的分布是（）。A、卡方分布B、t分布C、F分布D、随机分布E、抽样分布
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考题 t检验统计量服从自由度为ν的t分布。
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考题 在两样本t检验中，t检验统计量服从自由度为n1+n2-2的t分布。
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考题 符号检验检验统计量在零假设下服从（）A、泊松分布B、正态分布C、二项式分布
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考题 配对Wilcoxon秩检验统计量在大样本情况下服从（）A、卡方分布B、正态分布C、二项式分布
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考题 单选题游程检验统计量在大样本情况下服从（）A 卡方分布B 正态分布C 二项式分布
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考题 单选题估计总体方差的置信区间时，其检验统计量服从（ ）。A 正态分布B t分布C X²分布D F分布
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考题 单选题符号检验检验统计量在零假设下服从（）A 泊松分布B 正态分布C 二项式分布
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考题 单选题对四格表资料作卡方检验时，若有一个实际数字为0，则（）。A 不能作卡方检验B 必须用校正卡方检验C 还不能决定是否可计算卡方统计量作检验D 不必计算校正卡方统计量E 还不能确定是否需要作校正
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考题 单选题配对Wilcoxon秩检验统计量在大样本情况下服从（）A 卡方分布B 正态分布C 二项式分布
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考题 多选题统计量常用的分布是（）。A卡方分布Bt分布CF分布D随机分布E抽样分布
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考题 单选题多样本计量资料比较，当分布类型不清时选择（）。A t检验B u检验C 秩和检验D 卡方检验E 方差分析
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