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DF检验存在的一个问题是，当序列存在（ ）阶滞后相关时DF检验才有效。

A.1
B.2
C.3
D.4

参考答案

参考解析
解析：DF检验存在一个问题：当序列存在1阶滞后相关时才有效，但大多数时间序列存在高级滞后相关，直接使用DF检验法会出现偏误。
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考题 DF检验是在ADF的检验基础上进行拓展得到的检验方法。
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考题 DW检验不适用一下列情况的序列相关检验（）。A、高阶线性自回归形式的序列相关B、一阶非线性自回归的序列相关C、移动平均形式的序列相关D、正的一阶线性自回归形式的序列相关E、负的一阶线性自回归形式的序列相关
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考题 若计算的DW统计量为2，则表明该模型（）A、不存在一阶序列相关B、存在一阶正序列相关C、存在一阶负序列相关D、存在高阶序列相关
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考题 DW检验不适用于下列情况下的序列相关检验（）A、随机误差项具有高阶序列相关B、样本容量太小C、含有滞后被解释变量的模型D、正的一阶线性自相关形式E、负的一阶线性自相关形式
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考题 卡方（χ2）检验在（）时须作连续性矫正。A、自由度df=∞B、自由度1df=1C、独立性检验D、适合性检验
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考题 在给定的显著性水平之下，若DW统计量的下和上临界值分别为dL和du，则当dLA、 存在一阶正自相关B、 存在一阶负相关C、 不存在序列相关D、 存在序列相关与否不能断定
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考题 在给定的显著性水平之下，若DW统计量的下、上临界值分别为dL和dU，则当dL〈DW〈dU时，可认为随机误差项（）。A、存在一阶正自相关B、存在一阶负相关C、不存在序列相关D、存在序列相关与否不能断定
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考题 当DW＝4时，说明（）。A、不存在序列相关B、不能判断是否存在一阶自相关C、存在完全的正的一阶自相关D、存在完全的负的一阶自相关
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考题 以下有关DF检验的说法正确的有（）。A、DF检验的零假设是“被检验时间序列平稳”B、DF检验的零假设是“被检验时间序列非平稳”C、DF检验是单侧检验D、DF检验是双侧检验E、DF检验包含序列差分的滞后项
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考题 用滞后的被解释变量作解释变量，模型随机干扰项必然存在序列相关，这时D-W检验就不适用了。
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考题 当随机误差项存在自相关时，单位根检验采用的是（）。A、DF检验B、ADF检验C、EG检验D、DW检验
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考题 多选题DW检验不适用于下列情况下的序列相关检验（）A随机误差项具有高阶序列相关B样本容量太小C含有滞后被解释变量的模型D正的一阶线性自相关形式E负的一阶线性自相关形式
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考题 单选题当两总体方差不齐时，以下哪种方法适用于两样本总体均数比较？（　　）A t检验B t′检验C u检验（假设是大样本时）D F检验E χ2检验
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考题 单选题回归模型进行自相关检验，直接用DW检验，那么DW的值接近于几，检验是否有效：（）-[DW=0时，残差序列存在完全正自相关，DW=（0，2）时，残差序列存在正自相关，DW=2时，残差序列无自相关，DW=（2，4）时，残差序列存在负自相关，DW=4时，残差序列存在完全负自相关。]A 1B 2C 3D 4
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考题 单选题相关系数显著性检验常用的方法是（）A t-检验和u-检验B t-检验和X2-检验C t-检验和F检验D F检验和X2-检验
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考题 判断题DF检验可用于存在高阶滞后相关的时间序列。（　　）A 对B 错
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考题 多选题以下均为检验两个平均数或比例、相关系数的差异显著性的常用方法是（）AZ检验Bt检验C卡方检验DF检验
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考题 单选题一组平行测定数据，要判断其中是否存在可疑值，应采用（）A t检验法B F检验法C Grubbs检验法D F检验加t检验法
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