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当探头横向移动时，比探头尺寸小的缺陷所产生的信号幅度会发生起伏变化，这个区域称为（）

  • A、远场区
  • B、近场区
  • C、过渡区
  • D、阴影区

参考答案

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考题 按JB／T4730－2005《承压设备无损检测》规定:钢板超声波检测对缺陷边界范围或指示长度测量方法,以下叙述正确的是:() A.用双晶直探头测量时，探头移动方向应与探头发射并接收声波的平面平行B.用双晶直探头或单晶直探头测量缺陷时一探头中心点为缺陷边界点C.用双晶直探头或单晶直探头测量缺陷时，以探头离开缺陷边缘为缺陷边界点D.底面第一次底波B1
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考题 当探头横向移动时，比探头尺寸小的缺陷所产生的信号幅度会发生起伏变化，这个区域称为()A.远场区 B.近场区 C.过渡区 D.阴影区
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考题 利用双晶直探头确定缺陷的边界或指示长度时，探头移动方向应与探头的分割面相垂直。
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考题 A型显示中，横坐标显示是（）A、反射波幅度大小B、探头移动距离C、反射波传播时间D、缺陷尺寸大小
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考题 A型扫描显示中，屏幕上水平显示表示（）A、探头移动距离B、缺陷回波幅度大小C、缺陷大小D、声波传播时间
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考题 单斜探头检测时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是（）A、来自工件表面的杂波B、来自探头的噪声C、工件上近表面缺陷的回波D、耦合剂噪声
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考题 对于超声波检测法中的测长法，在仪器灵敏度一定的条件下，探头沿缺陷长度方向平行移动，当缺陷高度降到规定位置时，探头移动的距离，即为缺陷的指示长度，上述方法被称为相对灵敏度测长法。
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考题 当采用谱分析的方法时，必须采用（）采集和记录声发射信号。A、低频探头B、高频探头C、窄频带探头D、宽频带探头
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考题 A型显示中，横坐标显示是（）。A、反射波幅度大小B、 探头移动距离C、 反射波传播时间（或距离）D、 缺陷尺寸大小
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考题 利用双晶直探头确定缺陷边界或指示长度时,探头移动方向应与探头分割面平行。
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考题 A型扫描显示中，水平基线代表：（）A、超声回波的幅度大小B、探头移动距离C、声波传播时间D、缺陷尺寸大小
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考题 当探头距缺陷水平距离不变时，缺陷比探头尺寸小产生的信号幅度会发生起伏变化，这个区域称为（）。A、远场区B、近场区C、过渡区D、阴影区
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考题 簿的试件或近距离缺陷探伤时，宜采用（）探头.A、大尺寸B、小尺寸C、联合双直
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考题 探伤时加大探头压力，回波幅度增高，这是由于压力所产生的机械能部分转换为声能的结果。
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考题 当示波器的探头开关置为“X10”档，则应将测得信号幅度的数值乘以10。
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考题 单探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是：（）。A、来自工件表面的杂波B、来自探头的噪声C、工件上近表面缺陷的回波D、耦合剂噪声
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考题 THDS-A（哈科所）设备热靶曲线有横向跳变时，则说明故障可能是探头温控板故障。
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考题 判断题对于超声波检测法中的测长法，在仪器灵敏度一定的条件下，探头沿缺陷长度方向平行移动，当缺陷高度降到规定位置时，探头移动的距离，即为缺陷的指示长度，上述方法被称为相对灵敏度测长法。A 对B 错
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考题 单选题单斜探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是（）A 来自工作表面的杂波B 来自探头的噪声C 工作上近表面缺陷的回波D 耦合剂噪声
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考题 单选题单探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是：（）。A 来自工件表面的杂波B 来自探头的噪声C 工件上近表面缺陷的回波D 耦合剂噪声
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考题 判断题利用双晶直探头确定缺陷边界或指示长度时,探头移动方向应与探头分割面平行。A 对B 错
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考题 单选题A型显示中，横坐标显示是（）。A 反射波幅度大小B  探头移动距离C  反射波传播时间（或距离）D  缺陷尺寸大小
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考题 单选题A型扫描显示中，水平基线代表：（）A 超声回波的幅度大小B 探头移动距离C 声波传播时间D 缺陷尺寸大小
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考题 单选题单斜探头检测时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是（）。A 来自工件表面的杂波B 来自探头的噪声C 工件上近表面缺陷的回波D 耦合剂噪声
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考题 多选题簿的试件或近距离缺陷探伤时，宜采用（）探头.A大尺寸B小尺寸C联合双直
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考题 单选题A型显示中，横坐标显示是（）A 反射波幅度大小B 探头移动距离C 反射波传播时间D 缺陷尺寸大小
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考题 单选题当探头横向移动时，比探头尺寸小的缺陷所产生的信号幅度会发生起伏变化，这个区域称为（）A 远场区B 近场区C 过渡区D 阴影区
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