考题
磁粉探伤是利用缺陷部位所形成的漏磁场吸附磁粉从而显示缺陷的方法。（）此题为判断题(对，错)。
考题
通常把磁粉检测时磁粉聚集形成的图像称为（）。A、磁畴B、磁路C、漏磁场D、磁痕
考题
相关显示是由于缺陷漏磁场与磁粉相互作用的结果。
考题
解释磁粉显示时，必须考虑的因素是（）A、磁场的方向B、磁粉显示处的漏磁场强度C、磁粉显示的形状和方向D、以上都是
考题
相关显示是由缺陷产生的漏磁场吸附磁粉形成的，非相关显示不是由漏磁场产生的。
考题
关于磁痕显示的叙述，正确的是（）A、非相关显示不是由漏磁场吸附磁粉磁粉形成的B、表面缺陷磁痕一般宽而模糊、轮廓不清晰C、近表面缺陷磁痕一般浓密清晰、瘦直或弯曲D、以上都不对
考题
磁粉探伤中很少采用直流电磁化是由于（）和（）。A、磁场强度大/吸附磁粉多缺陷显示不清B、电源复杂/退磁困难C、电源复杂/缺陷显示不清D、吸附磁粉多缺陷显示不清/难于清
考题
磁粉探伤的核心在于能够在试件缺陷附近形成足以吸附一定量的磁粉而呈现磁痕的漏磁场
考题
相关显示与非相关显示是由漏磁场形成的磁痕显示，而伪显示不是由漏磁场形成的磁痕显示。
考题
解释磁粉显示时，必须考虑的因素是（）A、磁场的方向B、磁粉显示处的磁场强度C、磁痕的形状和方向D、以上都是
考题
磁粉检测是利用铁磁性材料表面的漏磁场吸附磁粉，来显示不连续性的（）。A、位置B、大小C、形状D、严重程度E、以上全是
考题
当磁场方向与缺陷延伸方向平行时（），发现不了缺陷。A、产生强磁痕显示B、产生弱磁痕显示C、不产生磁痕显示D、模糊的磁痕显示
考题
磁粉探伤是利用缺陷部位所形成的漏磁场吸附磁粉从而显示缺陷的方法。
考题
判断题相关显示是由漏磁场吸附磁粉形成的磁痕显示。A
对B
错
考题
单选题通常把磁粉检测时磁粉聚集形成的图像称为（）。A
磁畴B
磁路C
漏磁场D
磁痕
考题
判断题磁粉探伤是利用缺陷部位所形成的漏磁场吸附磁粉从而显示缺陷的方法。A
对B
错
考题
单选题关于显示说法正确的是（）。A
表面没有缺陷处看到的磁痕肯定是伪显示B
相关显示是由漏磁场吸附磁粉形成的磁痕显示，影响工件的使用性能C
非相关显示不是由漏磁场产生的，影响工件的使用性能D
伪显示不是由漏磁场产生的，影响工件的使用性能
考题
判断题相关显示是由缺陷产生的漏磁场吸附磁粉形成的，非相关显示不是由漏磁场产生的。A
对B
错
考题
单选题磁粉检测是利用铁磁性材料表面的漏磁场吸附磁粉，来显示不连续性的（）。A
位置B
大小C
形状D
严重程度E
以上全是
考题
判断题磁粉探伤的核心在于能够在试件缺陷附近形成足以吸附一定量的磁粉而呈现磁痕的漏磁场A
对B
错
考题
单选题解释磁粉显示时，必须考虑的因素是（）A
磁场的方向B
磁粉显示处的漏磁场强度C
磁粉显示的形状和方向D
以上都是
考题
判断题相关显示是漏磁场与磁粉相互作用的结果A
对B
错
考题
判断题相关显示与非相关显示是由漏磁场形成的磁痕显示，而伪显示不是由漏磁场形成的磁痕显示。A
对B
错
考题
单选题关于磁痕显示的叙述，正确的是（）A
非相关显示不是由漏磁场吸附磁粉磁粉形成的B
表面缺陷磁痕一般宽而模糊、轮廓不清晰C
近表面缺陷磁痕一般浓密清晰、瘦直或弯曲D
以上都不对
考题
单选题解释磁粉显示时，必须考虑的因素是（）A
磁场的方向B
磁粉显示处的磁场强度C
磁痕的形状和方向D
以上都是