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光谱定量分析中,发现工作曲线的低含量部分向上弯曲,可能是由于()引起的,必须进行()加以校正。


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考题 当浓度较高时进行原子发射光谱分析 , 其工作曲线(lg ~lgc)形状为 ( ) A.直线下部向上弯曲B.直线上部向下弯曲C.直线下部向下弯曲D.直线上部向上弯曲

考题 发射光谱定量分析中产生较大背景而又未扣除分析线上的背景 , 会使工作曲线的下部 ( ) A.向上弯曲B.向下弯曲C.变成折线D.变成波浪线

考题 原子吸收光谱定量分析的基本关系式是A=KC,导致标准曲线弯曲的主要因素是()。A.基体效应的存在B.化学干扰C.光谱干扰D.火焰温度

考题 定量分析中产生的系统误差和偶然误差,工作中必须加以清除。

考题 光电光谱定量分析方法有校准曲线法、()以及持久曲线法。

考题 原子吸收光谱定量分析中,()适合于高含量组分的分析。A、工作曲线法B、标准加入法C、紧密内插法D、内标法

考题 原子吸收光谱定量分析中,适合于高含量组分的分析的方法是()。A、工作曲线法B、标准加入法C、稀释法D、内标法

考题 原子吸收光谱定量分析的基本关系式是A=KC,导致标准曲线弯曲的主要因素是()。A、基体效应的存在B、化学干扰C、光谱干扰D、火焰温度

考题 在下列气相色谱定量分析情形中,一定要使用校正因子的是()。A、使用“归一化法”定量分析同系物B、使用“单点外标法”直接比较定量分析组分含量C、使用“内标法”定量分析一种组分的含量D、绘制“内标标准曲线”

考题 在光谱分析中,仪器测得As的比强度值为0.106。求As的含量为多少?已知As的工作曲线方程为C=0.03154I2+0.34426I-0.01029,As的漂移校正系数α=1.3179,β=0.00316。(取两位有效数字)

考题 下列方法中,属于原子光谱定量分析方法的是()A、校正曲线法B、标准加入法C、内标法D、以上都是

考题 当浓度较高时进行原子发射光谱分析,其工作曲线(lgI~lgc)形状为()。A、直线下部向上弯曲B、直线上部向下弯曲C、直线下部向下弯曲D、直线上部向上弯曲

考题 发射光谱定量分析中产生较大背景而又未扣除分析线上的背景,会使工作曲线的下部()。A、向上弯曲B、向下弯曲C、变成折线D、变成波浪线

考题 摄谱法定量分析中,发现工作曲线向浓度轴方向弯曲,可能由于();或()。

考题 在原子发射光谱定量分析中,持久工作曲线法与三标准试样法相比较,前者的优点是(),缺点是()。

考题 光谱定量分析中产生较大背景而又未扣除会使工作曲线的()部分向()弯曲。

考题 当元素含量低时,最后线也就是光谱中的()线,但在含量高时,由于光谱中谱线的()而影响其灵敏度。

考题 在光谱定量分析中,lgI-lgc关系曲线,若上部分向下弯曲,其原因是()A、谱线产生自吸B、光谱干扰C、背景增大D、化学干扰增大

考题 在光谱法中,通常需要测定试样的光谱,根据其特征光谱的波长可以进行定性分析;而光谱的强度与物质含量有关,所以测量其()可以进行定量分析。

考题 摄谱法原子发射光谱用感光板的乳剂特性曲线是表示()与()之间的关系;光电法光谱定量分析是建立在光强的对数与含量的对数成正比。

考题 选用具有自吸的谱线进行原子发射常量进行分析时,其工作曲线会出现()A、直线下部向上弯曲B、直线上部向下弯曲C、直线下部向下弯曲D、直线上部向上弯曲

考题 填空题在光谱法中,通常需要测定试样的光谱,根据其特征光谱的波长可以进行定性分析;而光谱的强度与物质含量有关,所以测量其()可以进行定量分析。

考题 单选题感光板的乳剂特性曲线可以分为四部分,在光谱定量分析中,用来确定曝光量的部分是()A 正常曝光部分B 曝光不足部分C 负感光部分D 曝光过量部分

考题 填空题弯曲零件的尺寸与模具工作零件尺寸不一致是由于弯曲回弹而引起的,校正弯曲比自由弯曲时零件的尺寸精度()。

考题 单选题在光谱定量分析中,lgI-lgc关系曲线,若上部分向下弯曲,其原因是()A 谱线产生自吸B 光谱干扰C 背景增大D 化学干扰增大

考题 填空题摄谱法原子发射光谱用感光板的乳剂特性曲线是表示()与()之间的关系;光电法光谱定量分析是建立在光强的对数与含量的对数成正比。

考题 填空题当元素含量低时,最后线也就是光谱中的()线,但在含量高时,由于光谱中谱线的()而影响其灵敏度。