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接触式测量零件表面粗糙度的主要方法是()。

  • A、触针法
  • B、传感器法
  • C、测头法
  • D、触头法

参考答案

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考题 表面粗糙度轮廓的测量方法主要有哪些?() A.比较法B.触针法C.光切法D.干涉法

考题 减小低压电器触头接触电阻的方法有很多,下列哪种处理方法是不正确的。() A、选择电阻系数小的材料做触头B、减小触头的接触面积C、保持触头表面清洁,避免聚集尘埃D、在动触头上安装触头弹簧

考题 与触头接触电阻无关的因素是()。 A、触头压力B、触头超程C、接触面形式D、表面清洁状况

考题 真空断路器的触点常采取()。A桥式触头B指形触头C瓣形触头D对接触头E滚动式触头

考题 测量接地电阻可以判断DL接触电阻是否超标,可以发现()A、触头表面氧化B、DL触头间残存机械杂物或多次开断短路电流后有碳化物C、触头接触压力下降D、触头有效接触面积减小

考题 使用百分表时,测杆的触头应()被测零件的表面。A、平行;B、垂直;C、接触于;D、靠近。

考题 按钮接触头弹簧失效会造成()后果。A、触头烧损B、触头表面有尘垢C、触头接触不良D、触头间短路

考题 采用触针式表面粗糙度测量仪测量时,触引的测量力必须保证它与工件轻微接触,否则会划伤工件表面。

考题 大型焊接结构件通常采用的磁化方法是()。A、夹头通电法和绕电缆法B、磁轭法和中心导体法C、触头法和线圈法D、磁轭法和触头法

考题 大型焊接结构件通常采用的磁化方法()。A、夹头通电法和线圈法B、磁轭法和中心导体法C、触头法和绕电缆法D、磁轭法和触头法

考题 大型铸锻件应选用()较好。A、工件端头接触通电法B、支杆触头接触通电法C、夹钳通电法D、线圈法

考题 下列磁化方法中,不直接把电流通入零件的是()A、芯棒法;B、纵向通电法;C、磁轭法;D、触头法;E、磁通贯通法;F、A,C和E都是

考题 影响触头接触电阻的因素有()、触头材料、接触形式、触头表面情况及化学腐蚀等。

考题 下列()不属于交流接触器触头过热式灼伤的主要原因。A、触头接触压力不足B、电源电压过低C、触头溶焊D、触头磨损

考题 低压断路器常采用()。DW系列和部分DZ系列断路器装有辅助触头。A、螺旋式触头B、桥式触头C、接触式触头D、对接头式触头E、插入式触头

考题 采用接触式方法测量零件表面粗糙度时,触针随零件表面轮廓形状做垂直摆动。通过()将这一几何摆动量转换成电信号输出。A、转换装置B、放大装置C、传感器件D、处理装置

考题 按工件被测表面和量具测头的接触与否,分为直接测量法和间接测量法。

考题 ()是在工厂里过去常用的测量表面粗糙度的方法,用眼睛或放大镜,对被测表面与粗糙度样板比较,或用手摸,靠感觉来判断表面粗糙度的情况,对粗糙度参数值较大情况,给个大概的光切法判断。A、触针法B、样板比较法C、光切法D、干涉法

考题 ()可在实验室中用双管显微镜测量,它的测量准确度较高,但它适用对Rz,Ry以及较为规则的表面测量,不适用于测量粗糙度较高的表面及不规则表面。A、光切法B、样板比较法C、干涉法D、触针法

考题 当电器动触头与静触头在接触过程中,从动触头与静触头相接触开始至动触头止时为止,动触头在静触头表面的()距离称为研距。

考题 在电器动触头与静触头的接触过程中,从动触头与静触头相接触开始至动触头静止时为止,动触头在静触头表面的研磨距离称为超程。

考题 接触器动触头与静触头在闭合过程中,从动触头与静触头相接触开始至移动触头静止时为止,动触头在静触头表面滑动的距离称为()。A、超程B、研距C、开距D、接触距离

考题 影响断路器触头接触电阻的因素有触头表面加工状况、触头表面氧化程度和()。A、触头间的压力B、触头间的接触面积.C、触头插入深度D、触头的材质

考题 单选题大型焊接结构件通常采用的磁化方法()。A 夹头通电法和线圈法B 磁轭法和中心导体法C 触头法和绕电缆法D 磁轭法和触头法

考题 单选题大型焊接结构件通常采用的磁化方法是()。A 夹头通电法和绕电缆法B 磁轭法和中心导体法C 触头法和线圈法D 磁轭法和触头法

考题 多选题触头的结构形式有()A点接触触头B桥式触头C指形触头D面接触触头

考题 单选题接触器动触头与静触头在闭合过程中,从动触头与静触头相接触开始至移动触头静止时为止,动触头在静触头表面滑动的距离称为()。A 超程B 研距C 开距D 接触距离