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进行基准重合时的工序尺寸计算，应从（　）道工序算起。

  • A、最开始第四
  • B、任意
  • C、中间第三
  • D、最后一

参考答案

更多 “进行基准重合时的工序尺寸计算，应从（　）道工序算起。A、最开始第四B、任意C、中间第三D、最后一” 相关考题
考题 ()是在工序图上，用来确定本工序所加工表面加工后的尺寸、形状、位置的基准，即工序图上的基准。A.设计基准B.定位基准C.工序基准D.工艺基准
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考题 当工序基准，定位基准与设计基准重合，表面多次加工时，工序尺寸及公差的计算只需考虑各工序的加工余量所能达到的精度，其计算顺序是由什么开始向前推进？（）A、最后一道工序B、最开始一道工序C、第二道工序D、倒数第二道工序
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考题 当工艺基准与设计基准不重合时，需进行尺寸链计算，确定工序尺寸及公差．
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考题 当工序基准，定位基准与设计基准重合，表面多次加工时，工序尺寸及公差的计算只需考虑各工序的加工余量所能达到的精度，计算的第二步是（）A、确定各工序余量和毛坯总加工余量B、确定工序尺寸C、求工序基本尺寸D、标注工序尺寸公差
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考题 工件以外圆柱面在V型块上定位，产生定位误差最小的是（）。A、工序基准在下母线时B、工序基准与定位基准重合时C、工序基准在上母线时
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考题 数控加工的批量生产中，当本道工序定位基准与上道工序已加工表面不重合时，就难以保证本道工序将要加工表面与上道工序已加工表面之间的（）。A、表面质量B、位置精度C、尺寸精度D、形状精度
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考题 基准重合时工序尺寸采取由后向前逐个工序推算的办法确定。
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考题 数控加工的批量生产中，当本道工序定位基准与上道工序基准不重合时，就难以保证本道工序将要加工表面与上道工序已加工表面之间的（）。A、形状精度B、表面质量C、尺寸精度D、位置精度
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考题 计算机械加工余量时，应从粗加工到精加工的顺序确定各工序的工序尺寸。
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考题 （）重合时，定位尺寸既是工序尺寸。A、设计基准与工序基准B、定位基准与设计基准C、定位基准与工序基准D、测量基准与设计基准
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考题 工艺尺寸链用于定位基准与（）不重合时尺寸换算、工序尺寸计算及工序余量解算等。A、工序基准B、工艺基准C、装配基准D、设计基准
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考题 在机械制造中，当零件的设计基准与工艺基准不重合时，常采用工艺尺寸链的原理来确定工序尺寸，并通过保证工序尺寸来间接保证零件的设计尺寸要求，而生产实践中的工序尺寸超差很可能引起“假废品”现象。
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考题 定位尺寸是指（）之间的联系尺寸。A、工序基准和定位基准B、工序基准和设计基准C、平面基准和设计基准D、平面基准和工序基准
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考题 由于工序基准与定位基准不重合引起的工序基准相对于定位基准的变动量在工序尺寸方向上的投影值为（）。
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考题 基准制造不准确误差大小与（）有关。A、本道工序要保证的尺寸大小和技术要求；B、只与本道工序设计（或工序）基准与定位基准之间位置误差；C、定位元件和定位基准本身的制造误差。
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考题 机械加工中定位基准与设计基准不重合时，工序尺寸及其偏差一般可利用（）进行计算获得。
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考题 工序基准是指在工序图上用来确定本工序加工表面尺寸、形状和位置所依据的基准。
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考题 基准不重合误差的大小与（）有关。A、本道工序要保证的尺寸大小和技术要求B、本道工序的设计基准与定位基准之间的位置误差C、定位元件和定位基准本身的制造误差
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考题 工序尺寸计算错误或公差大，直接造成本工序和下道工序（）。A、尺寸超差B、衔接不上C、精度低D、积累误差
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考题 判断题在被加工零件工序图中，加工部位的位置尺寸应由定位基准算起。A 对B 错
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考题 单选题基准不重合误差大小与有（）关。A 本道工序要保证的尺寸大小和技术要求；B 只与本道工序设计〔或工序〕基准与定位基准之间位置误差；C 定位元件和定位基准本身的制造误差。D 以上都不对
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考题 判断题当基准不重合时，各工序尺寸的确定只能由最后一道工序向前推算至毛坯尺寸。A 对B 错
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考题 单选题工序余量公差等于（）。A 上道工序尺寸公差与本道工序尺寸公差之和B 上道工序尺寸公差与本道工序尺寸公差之差C 上道工序尺寸公差与本道工序尺寸公差之和的二分之一D 上道工序尺寸公差与本道工序尺寸公差之差的二分之一
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考题 单选题基准制造不准确误差大小与（）有关。A 本道工序要保证的尺寸大小和技术要求；B 只与本道工序设计（或工序）基准与定位基准之间位置误差；C 定位元件和定位基准本身的制造误差。
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考题 填空题机械加工中定位基准与设计基准不重合时，工序尺寸及其偏差一般可利用（）进行计算获得。
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考题 单选题基准不重合误差的大小与（）有关。A 本道工序要保证的尺寸大小和技术要求B 本道工序的设计基准与定位基准之间的位置误差C 定位元件和定位基准本身的制造误差
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考题 单选题基准不重合误差大小与（）有关。A 本道工序要保证的尺寸大小和技术要求；B 只与本道工序设计〔或工序）基准与定位基准之间位置误差；C 定位元件和定位基准本身的制造误差；D 本道工序测量误差。
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