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X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。

  • A、粒度效应
  • B、吸收
  • C、增强
  • D、矿物效应

参考答案

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考题 X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。
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考题 采用玻璃熔片X荧光仪分析球团，应称取（）钴共熔体。A、0.5gB、0.6gC、0.7gD、0.8g
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考题 采用玻璃熔片法X荧光仪分析转炉渣，在熔制玻璃熔片时，需要加入（）A、四硼酸锂B、碳酸锂C、碘化铵D、钴共熔体
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考题 采用玻璃熔片X荧光仪分析中酸性中包低碳覆盖剂中氧化钙含量，在熔制玻璃片应称取（）A、0.10gB、0.21gC、0.35gD、0.70g
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考题 X荧光分析法可以分析下列哪些样品类型（）。A、固体B、气体C、粉末D、液体
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考题 粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时，将试样颗粒在粉碎机内粉碎制成粒度约（）的粉末试样。A、100目B、120目C、150目D、180目
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考题 采用玻璃熔片X荧光仪分析铁矿时，应准确称取（）混合熔剂。A、5gB、6gC、7gD、8g
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考题 单选题原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）A 原子荧光分析法B X射线荧光分析法C X射线吸收分析法D X射线发射分析法
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