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一般说来,试件表面状态例如表面缺陷,产生的显示是()成分,试件尺寸及材质变化产生的显示是().


参考答案

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考题 RT、UT主要用于检测试件内部缺陷,MT、PT主要用于检测试件表面缺陷。此题为判断题(对,错)。

考题 无损检测中,关于磁粉探伤特点的正确表述为( )。A.操作容易.检验迅速.探伤灵敏度较低 B.受到试件大小和形状的限制 C.可以检测材料和构件的表面和近表面缺陷 D.试件表面的油脂不对磁粉探伤产生影响

考题 芯样试件表面有裂缝或有其他较大缺陷、芯样试件内含有钢筋、芯样试件平均直径大于2倍表观混凝土粗骨料最大粒径时,均不能作为抗压试件。

考题 渗透检测用于()。A、检查和评定试件中的各种缺陷B、检查和确定试件中缺陷的长度,宽度和深度C、确定试件的抗拉强度D、检查表面开口的缺陷

考题 渗透检测用于检测表面开口缺陷,几乎适用于所有材质的试件和各种形状表面

考题 沥青防水卷材低温柔性以下的判定()是合格的。A、上表面五个试件均无裂缝,下表面试件五个均无裂缝B、上表面五个试件有两个有裂缝,下表面五个试件均无裂缝C、上表面五个试件有一个有裂缝,下表面五个试件有一个试件有裂缝D、上表面五个试件有一个试件有裂缝,下表面五个试件有两个试件有裂缝

考题 磁粉探伤中,为有效地检出试件表面缺陷,宜采用()电流磁化试件;为了有效地检出近表面缺陷,宜采用()电流磁化试件

考题 对渗透显示的分辨力有影响的因素是()。A、使用渗透材料系统的灵敏度B、试件表面状态C、试件和或渗透液的温度D、以上都有影响

考题 磁粉探伤中,为有效地检出试件表面缺陷,宜采用交流电流磁化试件

考题 下面叙述的句子中正确的是()A、渗透探伤对试件表面上的开口缺陷,不管什么缺陷度能探出B、渗透探伤对试件表面上的开口缺陷,有时不能探出C、渗透探伤除了被检工件表面之外,对内部缺陷也能探出

考题 下列关于漏磁场的叙述,正确的是()。A、内部缺陷处的漏磁场比同样大小的表面缺陷漏磁场大B、缺陷的漏磁场通常与试件上的磁场强度成反比C、表面缺陷的漏磁场,随离开表面的距离增大而急剧下降D、有缺陷的试件,才会产生漏磁场

考题 渗透检测前试件予清洗是()。A、不需要的B、很重要的,因为如果试件不干净,就不能正确地施加显像剂C、必需的,因为表面污染可能阻止渗透液渗入缺陷中D、为了防止产生不相关显示

考题 ()是指施加于探头和试件表面之间,使超声能量传入试件的液态介质。A、 耦合剂B、 探头线C、 仪器D、 缺陷

考题 下列有关漏磁通的叙述正确的是()。A、内部缺陷处的漏磁通,比同样大小的表面缺陷为大B、缺陷的漏磁通通常同试件上的磁通密度成反比C、表面缺陷的漏磁通密度,随着离开表面距离的增加而急剧减弱D、用有限线圈磁化长的试件,不需进行分段磁化

考题 磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷,而不能探测近表面缺陷

考题 磁粉探伤中为了有效地检出试件的表面缺陷,宜采用()电流磁化试件。

考题 多选题沥青防水卷材低温柔性以下的判定()是合格的。A上表面五个试件均无裂缝,下表面试件五个均无裂缝B上表面五个试件有两个有裂缝,下表面五个试件均无裂缝C上表面五个试件有一个有裂缝,下表面五个试件有一个试件有裂缝D上表面五个试件有一个试件有裂缝,下表面五个试件有两个试件有裂缝

考题 单选题下列关于漏磁场的叙述,正确的是:()A 内部缺陷处的漏磁场比同样大小的表面缺陷漏磁场大B 缺陷的漏磁场通常与试件上的磁场强度成反比C 表面缺陷的漏磁场,随离开表面的距离增大而急剧下降D 有缺陷的试件,才会产生漏磁场

考题 单选题下面叙述的句子中正确的是()A 渗透探伤对试件表面上的开口缺陷,不管什么缺陷度能探出B 渗透探伤对试件表面上的开口缺陷,有时不能探出C 渗透探伤除了被检工件表面之外,对内部缺陷也能探出

考题 单选题渗透检测用于()。A 检查和评定试件中的各种缺陷B 检查和确定试件中缺陷的长度,宽度和深度C 确定试件的抗拉强度D 检查表面开口的缺陷

考题 单选题渗透检测前试件予清洗是()。A 不需要的B 很重要的,因为如果试件不干净,就不能正确地施加显像剂C 必需的,因为表面污染可能阻止渗透液渗入缺陷中D 为了防止产生不相关显示

考题 单选题对渗透显示的分辨力有影响的因素是()。A 使用渗透材料系统的灵敏度B 试件表面状态C 试件和或渗透液的温度D 以上都有影响

考题 填空题一般说来,试件表面状态例如表面缺陷,产生的显示是()成分,试件尺寸及材质变化产生的显示是().

考题 填空题磁粉探伤中,为有效地检出试件表面缺陷,宜采用()电流磁化试件;为了有效地检出近表面缺陷,宜采用()电流磁化试件

考题 填空题磁粉探伤中为了有效地检出试件的表面缺陷,宜采用()电流磁化试件。

考题 单选题渗透检测是一种非破坏性检验方法,这种方法可用于()A 检测和评定试件中的各种缺陷B 检测和评定试样表面开口缺陷的长度和深度C 确定试样表面开口缺陷的长度和宽度D 检测试件表面的开口缺陷

考题 判断题磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷,而不能探测近表面缺陷。A 对B 错