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在使用照相法对缺陷迹痕进行照相记录时,下面哪个内容是不重要的?()

  • A、照相日期或检验时间
  • B、照相所用底片的品牌
  • C、缺陷的相关位置
  • D、比例尺

参考答案

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考题 常用的记录磁痕方法是()A、胶带粘贴法B、照相法C、图示法D、以上都是

考题 当采用下列哪种方法时,几乎所有的曝光均需要使用铅箔增感屏?()A、荧光屏观察法B、高KV值射线照相法C、低KV值射线照相法D、干板射线照相法

考题 当缺陷显示迹痕中最短的迹痕长度小于2mm而间距小于显示迹痕时,则可看作()缺陷显示迹痕A、单独的B、连续的C、分散的D、密集型的

考题 按ZBJ 04005-87标准规定,圆状缺陷显示迹痕指除了()缺陷显示迹痕之外的其他缺陷均为圆状缺陷显示迹痕

考题 由于渗透检测检出的缺陷是开口缺陷,因此只要-出现显示迹痕就可断定显示迹痕必是缺陷。

考题 对射线照相法的优点描述正确的是()。A、检测结果有直接记录,可长期保存B、可以获得缺陷的直观图像C、定性准确D、对长度、宽度尺寸的定量比较准确

考题 利用照相法进行射线探伤,底片上缺陷的形状和大小与真实缺陷是完全一样的。

考题 按ZBJ04005-87标准,当缺陷显示迹痕中最短的迹痕长度小于2mm而间距大于显示迹痕时,则可看作()缺陷显示迹痕A、单独的B、连续的C、以两缺陷显示迹痕长度之和计算D、以两缺陷显示迹痕长度与间距之和计算

考题 缺陷显示迹痕可根据需要分别用()、()或()等方法记录

考题 分散状缺陷显示迹痕,指在一定区域内存在几个缺陷显示迹痕,按ZBJ04005-87标准,在评定缺陷显示迹痕等级时,要考虑在2500mm2()面积内长度超过1mm缺陷显示迹痕的总和A、圆形B、正方形C、三角形D、矩形

考题 在观察过程中发现可疑缺陷磁痕时,使用粉笔在车轴上画出缺陷磁痕的位置,并详细记录缺陷磁痕的()。A、位置B、方向C、大小D、尺寸大小

考题 在射线检测中,利用照相机从荧光板上拍摄试验物体影像的方法称为()。A、直接照相法B、间接照相法C、透过照相法D、荧光照相法

考题 与射线照相法相比,荧光屏观察法的优点是检测速度快,可即时判别,但灵敏度较低,难以将缺陷永久记录保存。

考题 观察磁痕过程中发现可疑缺陷磁痕时,使用粉笔在车轴上画出缺陷磁痕的位置,并详细记录缺陷磁痕的()。A、位置B、方向C、尺寸大小D、磁痕特征

考题 现场照相的一般方法有()?A、相向照相法B、多向照相法C、分段连续照相法D、回转连续照相法E、比例照相法

考题 与射线照相法相比,荧光屏观察法的优点是(),可即时判别,但灵敏度较低,难以将缺陷永久记录保存。

考题 单选题按ZBJ04005-87标准,当缺陷显示迹痕中最短的迹痕长度小于2mm而间距大于显示迹痕时,则可看作()缺陷显示迹痕A 单独的B 连续的C 以两缺陷显示迹痕长度之和计算D 以两缺陷显示迹痕长度与间距之和计算

考题 判断题由于渗透检测检出的缺陷是开口缺陷,因此只要-出现显示迹痕就可断定显示迹痕必是缺陷。A 对B 错

考题 单选题常用的记录磁痕方法是()A 胶带粘贴法B 照相法C 图示法D 以上都是

考题 单选题当采用下列哪种方法时,几乎所有的曝光均需要使用铅箔增感屏?()A 荧光屏观察法B 高KV值射线照相法C 低KV值射线照相法D 干板射线照相法

考题 单选题在射线检测中,利用照相机从荧光板上拍摄试验物体影像的方法称为()A 直接照相法B 间接照相法C 透过照相法D 荧光照相法

考题 多选题现场照相的一般方法有()?A相向照相法B多向照相法C分段连续照相法D回转连续照相法E比例照相法

考题 单选题当缺陷显示迹痕中最短的迹痕长度小于2mm而间距小于显示迹痕时,则可看作()缺陷显示迹痕A 单独的B 连续的C 分散的D 密集型的

考题 单选题在使用照相法对缺陷迹痕进行照相记录时,下面哪个内容是不重要的?()A 照相日期或检验时间B 照相所用底片的品牌C 缺陷的相关位置D 比例尺

考题 判断题长宽比大于等于3的缺陷显示为线性缺陷迹痕,长宽比不大于3的缺陷显示为圆形缺陷迹痕。A 对B 错

考题 单选题分散状缺陷显示迹痕,指在一定区域内存在几个缺陷显示迹痕,按ZBJ04005-87标准,在评定缺陷显示迹痕等级时,要考虑在2500mm2()面积内长度超过1mm缺陷显示迹痕的总和A 圆形B 正方形C 三角形D 矩形

考题 填空题按ZBJ 04005-87标准规定,圆状缺陷显示迹痕指除了()缺陷显示迹痕之外的其他缺陷均为圆状缺陷显示迹痕