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半闭环进给伺服系统只能采用增量式检测装置。

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考题 数控机床进给伺服系统的负载不大,加工精度不高时,可采用()控制。 A、全闭环B、半闭环C、开环
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考题 闭环伺服系统与半闭环伺服系统的位置检测装置可以分别采用()。 A、闭环：绝对式脉冲编码器;半闭环：感应同步器B、闭环：光栅;半闭环：增量式脉冲编码器C、闭环：增量式脉冲编码器;半闭环：光栅D、闭环：光栅;半闭环：感应同步器
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考题 闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统主要区别在于（）A、位置控制器；B、检测单元；C、伺服驱动器；D、控制对象。
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考题 数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制。A、全闭环B、半闭环C、开环D、混合闭环
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考题 半闭环进给伺服系统数控机床，其定位精度主要取决于（）A、伺服单元B、检测装置的精度C、机床传动机构的精度D、控制系统E、数控装置
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考题 闭环进给伺服系统与开环进给伺服系统主要区别在于（）。A、是否安装位置检测装置B、是否采用交流伺服电机C、是否具备刀具补偿功能D、是否采用不同的数控系统
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考题 对于闭环的进给伺服系统。可采用（）作为检测装置。A、增量式编码B、绝对式编码C、圆光栅D、长光栅
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考题 对于半闭环的进给伺服系统，可采用（）、（）、（）作为检测装置。
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考题 带有位置检测装置的进给系统一定是半闭环进给伺服系统。
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考题 （）的位置检测点直接对工作台的实际位置进行检测。A、开环数控系统B、半闭环数控机床进给伺服系统C、闭环进给伺服系统D、开环进给伺服系统
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考题 半闭环进给伺服系统
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考题 半闭环伺服系统数控机床中带有检测装置。
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考题 闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统主要区别在于（）。A、位置控制器B、检测单元C、伺服单元D、控制对象
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考题 半闭环进给伺服系统的检测元件是（）。
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考题 开环进给伺服系统比闭环进给伺服系统多一个反馈装置。
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考题 闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统的主要区别在于（）。A、检测单元B、伺服单元C、位置控制器D、控制对象
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考题 对于闭环的进给伺服系统，可采用作为检测装置（　）。A、增量式编码器B、绝对式编码器C、旋转式感应同步器D、长光栅
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考题 在（）数控机床安装有检测反馈装置用。A、半闭环伺服系统中B、开闭环伺服系统中C、半闭环和全闭环伺服系统中D、只用在全闭环伺服系统中
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考题 （）进给伺服系统不需要测量装置。A、开环B、半闭环C、全闭环D、以上都需要
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考题 闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统主要区别在于（）。A、数控单元B、检测单元C、伺服单元D、控制对象
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考题 闭环进给伺服系统必须采用绝对式检测装置。
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考题 判断题闭环进给伺服系统必须采用绝对式检测装置。A 对B 错
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考题 单选题（）进给伺服系统不需要测量装置。A 开环B 半闭环C 全闭环D 以上都需要
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考题 单选题在（）数控机床安装有检测反馈装置用。A 半闭环伺服系统中B 开闭环伺服系统中C 半闭环和全闭环伺服系统中D 只用在全闭环伺服系统中
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考题 判断题半闭环进给伺服系统只能采用增量式检测装置。A 对B 错
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考题 填空题增量式光电脉冲编码器在数控机床检测装置的应用方面有（）、（）、手动位置检测和半闭环进给位置检测等功能。
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考题 单选题闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统主要区别在于（）。A 位置控制器B 控制对象C 伺服单元D 检测单元
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