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靠近探头的缺陷不一定都能探测到，因为有（）

  • A、声束扩散
  • B、材质衰减
  • C、仪器阻塞效应
  • D、折射

参考答案

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考题 由于声束扩散原因引起的声衰减，可以克服的方法是A、降低帧频B、提高帧频C、变换探头频率D、声束聚焦E、降低探头频率
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考题 由于声束扩散原因引起的声衰减，可以克服的方法是A.降低帧频 B.变换探头频率 C.降低探头频率 D.提高帧频 E.声束聚焦
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考题 单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（）A、近场干扰B、材质衰减C、盲区D、折射
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考题 靠近探头的缺陷不一定都能探测到，因为超声波检测仪器存在有仪器（）效应
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考题 衰减的原因主要有（）。A、吸收B、散射C、声束扩散D、热效应E、生物学效应
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考题 探头晶片面积相同，高频率探头的声束扩散角要比低频率探头的声束扩散角大。
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考题 70°探头探测钢轨伤损时，回波有位移是因为（）。A、声程不同B、声束扩散C、探头位移D、频率变化
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考题 靠近滩头的长条形缺陷并不一定都能检测到，是应为（）。
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考题 单选题测定材质衰减时所得结果除材料本身衰减外，还包括：（）A 声束扩散损失B 耦合损耗C 工件几何形状影响D 以上都是
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考题 单选题靠近探头的长条形缺陷并不一定都能测到，因为（）。A 声束扩散B 材质衰减C 仪器阻塞效应D 折射
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考题 多选题衰减的原因主要有（）。A吸收B散射C声束扩散D热效应E生物学效应
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