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电气设备整体绝缘下降将形成（）缺陷。

  • A、过热
  • B、局部
  • C、贯穿性
  • D、分布性

参考答案

更多 “电气设备整体绝缘下降将形成（）缺陷。A、过热B、局部C、贯穿性D、分布性” 相关考题
考题 电气设备的绝缘缺陷一般有集中性缺陷和分布性缺陷两种此题为判断题(对，错)。
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考题 关于电气设备的基本试验，错误的是（　）。A.绝缘电阻试验中，绝缘电阻值的大小能有效地反映绝缘的整体受潮.污秽以及严重过热老化等缺陷 B.直流耐压试验电压较高，对发现绝缘某些局部缺陷具有特殊的作用 C.交流耐压试验能有效地发现较危险的集中性缺陷 D.三倍频及工频感应耐压试验能检验电气设备承受雷电压和操作电压的绝缘性能和保护性能
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考题 测量绝缘电阻的作用是（）。测量绝缘电阻可以检查产品是否达到设计的绝缘水平;通过测量绝缘电阻，可以判断电气设备绝缘有无局部贯穿性缺陷、绝缘老化和受潮现象;由所测绝缘电阻能发现电气设备导电部分影响绝缘的异物，绝缘油严重劣化、绝缘击穿和严重热老化等缺陷;是检查其绝缘状态最简便的辅助方法
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考题 测量绝缘电阻对下列哪种绝缘缺陷较灵敏（ ）。A.局部缺陷 B.绝缘老化 C.局部受潮 D.贯穿性导电通道
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考题 测量绝缘电阻不能有效发现的缺陷是（ ）。A.绝缘整体受潮 B.存在贯穿性的导电通道 C.绝缘局部严重受潮 D.绝缘中的局部缺陷
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考题 测量绝缘电阻对下列哪种绝缘缺陷较灵敏（）。A局部缺陷B绝缘老化C局部受潮D贯穿性导电通道
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考题 测量绝缘电阻不能有效发现的缺陷是（）。A绝缘整体受潮B存在贯穿性的导电通道C绝缘局部严重受潮D绝缘中的局部缺陷
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考题 当绝缘内的缺陷不是整体分布性的，而是集中在某一小点，介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应不够灵敏。A对B错
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考题 测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）A、贯穿性缺陷B、整体受潮C、贯穿性受潮或脏污D、局部缺陷
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考题 测量绝缘电阻的作用包括（）。A、测量绝缘电阻可以检查产品是否达到设计的绝缘水平B、通过测量绝缘电阻，可以判断电气设备绝缘有无局部贯穿性缺陷、绝缘老化和受潮现象C、由所测绝缘电阻能发现电气设备导电部分影响绝缘的异物，绝缘油严重劣化、绝缘击穿和严重热老化等缺陷D、是检查其绝缘状态最简便的辅助方法
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考题 电力电缆的分布性缺陷是指由于受潮、过热、动力负荷及长时间过电压的作用导致的电气设备局部绝缘性能下降（）。
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考题 根据测得设备绝缘电阻的大小，可以初步判断设备绝缘是否有贯穿性缺陷、整体受潮、贯穿性受潮或脏污。
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考题 tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。
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考题 电气设备的绝缘电阻阻值的大小能灵敏地反应绝缘状况，有效地发现设备局部或整体受潮和脏污，以及有无过热老化甚至存在击穿短路等情况。
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考题 测量电气设备的绝缘电阻是检查电气设备（）状态的最简便方法。由所测得绝缘电阻值能发现绝缘的局部或整体（），绝缘油严重老化，绝缘击穿和绝缘（）等缺陷。
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考题 按绝缘缺陷存在的形态而言，绝缘缺陷可分为（）两大类。A、整体缺陷B、局部缺陷C、集中性缺陷D、分散性缺陷
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考题 测试设备的绝缘电阻主要为了发现设备是否局部受潮或存在局部的，非贯穿性缺陷。（）
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考题 当绝缘内的缺陷不是整体分布性的，而是集中在某一小点，介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应（）。A、不够灵敏B、较灵敏C、与整体分布性缺陷具有同样的灵敏度
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考题 测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常能发现的设备绝缘缺陷是（）。A、贯穿性缺陷B、整体受潮C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷
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考题 绝缘电阻的测量只能检测贯穿性绝缘缺陷，而不能检测局部缺陷。
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考题 测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）。A、贯穿性缺陷；B、整体受潮；C、贯穿性受潮或脏污；D、整体老化及局部缺陷。
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考题 当绝缘内的缺陷不是整体分布性的，而是集中在某一小点，介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应不够灵敏。
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考题 单选题测量绝缘电阻不能有效发现的缺陷是（）。A 绝缘整体受潮B 存在贯穿性的导电通道C 绝缘局部严重受潮D 绝缘中的局部缺陷
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考题 判断题当绝缘内的缺陷不是整体分布性的，而是集中在某一小点，介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应不够灵敏。A 对B 错
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考题 单选题测量绝缘电阻对下列哪种绝缘缺陷较灵敏（）。A 局部缺陷B 绝缘老化C 局部受潮D 贯穿性导电通道
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考题 单选题测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）。A 贯穿性缺陷B 整体受潮C 贯穿性受潮或脏污D 整体老化及局部缺陷。
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考题 判断题根据测得设备绝缘电阻的大小，可以初步判断设备绝缘是否有贯穿性缺陷、整体受潮、贯穿性受潮或脏污。A 对B 错
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