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关于铜屏蔽层电阻比的试验方法说法正确的是（）
- A、用双臂电桥测量在同温下的铜屏蔽和导体的直流电阻
- B、当铜屏蔽和导体的直流电阻之比与投运前相比增加时，表明铜屏蔽层的直流电阻增大，铜屏蔽可能被腐蚀
- C、当铜屏蔽和导体的直流电阻之比与投运前相比减少时，表明附件中导体接点的接触电阻有增大的可能
- D、用单臂电桥测量在同温下的铜屏蔽和导体的直流电阻
参考答案
更多 “关于铜屏蔽层电阻比的试验方法说法正确的是（）A、用双臂电桥测量在同温下的铜屏蔽和导体的直流电阻B、当铜屏蔽和导体的直流电阻之比与投运前相比增加时，表明铜屏蔽层的直流电阻增大，铜屏蔽可能被腐蚀C、当铜屏蔽和导体的直流电阻之比与投运前相比减少时，表明附件中导体接点的接触电阻有增大的可能D、用单臂电桥测量在同温下的铜屏蔽和导体的直流电阻” 相关考题
考题
下列说法正确的是（ ）。A.短导线的电阻比长导线的电阻小
B.粗导线的电阻比细导线的电阻小
C.同等条件下，铜导线的电阻比铁导线的电阻小
D.同种材料长度相等，粗导线的电阻比细导线的电阻小
考题
下列关于利用半价层计算屏蔽层厚度的说法，正确的是（）A、只要有散射线存在，其半价层就不是固定值B、根据半价层计算出的屏蔽层厚度是准确的C、半价层厚度随屏蔽层的厚度增加而增加D、屏蔽层厚度很大时，半价层厚度不再随屏蔽层的厚度增加而增加
考题
电力电缆的试验项目，“强制性条文”中应包括哪些内容？（）A、测量绝缘电阻；B、直流耐压试验及泄漏电流测量；C、交流耐压试验；D、测量金属屏蔽层电阻和导体电阻比；E、检查电缆线路两端的相位
考题
下列关于导线电阻的说法中，正确的是（）。A、长导线的电阻比短导线的电阻大B、粗导线的电阻比细导线的电阻大C、铁导线的电阻比铜导线的电阻大D、长短和粗细相同的导线和铁导线，铜导线电阻小（温度相同的情况下）
考题
关于工业热电阻的电阻比R100/R0，正确的是（）。A、铜热电阻A级为1.3850±0.0006B、铂热电阻B级为1.3850±0.0012C、铂热电阻A级1.3850±0.0010D、铜热电阻为1.4820±0.0020
考题
要使电缆屏蔽层有良好的屏蔽效果，需对电缆的屏蔽进行接地，下面说法错误的是（）。A、电缆屏蔽层须有一个接地电阻较小的接地极B、电缆屏蔽接地不得与电气接地合用C、保证电缆屏蔽层单点接地D、屏蔽接地应尽量选择足够多的接地点接地
考题
下列关于有铠装橡塑电缆中间接头金属层接地正确的做法是（）。A、中间接头内铜屏蔽层的接地和铠装层连在一起；B、铠装层必须与铜屏蔽层绝缘；C、如接头的原结构中无内衬层时，可以不在铜屏蔽层外增加内衬层；D、中间接头内铜屏蔽层的接地和铠装层不得连接，对接头两侧的铠装层必须用另一根接线相连。
考题
下列关于利用半价层计算屏蔽层厚度的说法，不正确的是（）A、只要有散射线存在，其半价层就不是固定值B、根据半价层计算出的屏蔽层厚度是准确的C、半价层厚度随屏蔽层的厚度增加而增加D、屏蔽层厚度很大时，半价层厚度不再随屏蔽层厚度增加而增加
考题
关于电阻，下列说法中不正确的是（）。A、电阻跟电压成正比，跟电流成反比B、电阻率越小，说明导电性能越好C、由电阻率的大小可知，铜导线的电阻比铝导线的电阻小D、导线越细，电阻越小E、导线越粗，电阻越大
考题
关于电阻，下列说法中正确的是（）。A、电阻跟电压成正比，跟电流成反比B、电阻率越小，说明导电性能越好C、由电阻率的大小可知，铜导线的电阻比铝导线的电阻小D、导线越细，电阻越小E、导线越粗，电阻越大
考题
关于电力电缆铜屏蔽层电阻和导体电阻比测试的说法正确的是（）。A、能够判断屏蔽层是否出现腐蚀B、比值增大，屏蔽层可能腐蚀C、比值减少，可能是附件中的导体连接点的电阻增大D、正常情况下，比值应无明显改变
考题
单选题下列关于导线电阻的说法中，正确的是（）。A
长导线的电阻比短导线的电阻大B
粗导线的电阻比细导线的电阻大C
铁导线的电阻比铜导线的电阻大D
长短和粗细相同的导线和铁导线，铜导线电阻小（温度相同的情况下）
考题
多选题下列关于利用半价层计算屏蔽层厚度的说法，正确的是（）A只要有散射线存在，其半价层就不是固定值B根据半价层计算出的屏蔽层厚度是准确的C半价层厚度随屏蔽层的厚度增加而增加D屏蔽层厚度很大时，半价层厚度不再随屏蔽层的厚度增加而增加
考题
单选题下列关于利用半价层计算屏蔽层厚度的说法，不正确的是（）A
只要有散射线存在，其半价层就不是固定值B
根据半价层计算出的屏蔽层厚度是准确的C
半价层厚度随屏蔽层的厚度增加而增加D
屏蔽层厚度很大时，半价层厚度不再随屏蔽层厚度增加而增加
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