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X射线测厚仪是利用被测带钢对射线的（），测量出带材的厚度。
参考答案
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考题
关于X线照片影像形成的叙述，错误的是（）A、X线被被照体吸收与散射后经屏/片体系转换形成B、利用了X线透射线的直进性C、透过被照体的透射线和散射线形成照片影像D、照片接受的散射线不形成影像E、利用了X线的穿透性
考题
关于经射线照片图像的形成，正确的说法是（）。A、X射线透过被照体之后的透射线和散射线，照射到胶片上形成照片图像。B、X射线照片图像是X射线被投照体吸收与散射后形成的C、X射线照片图像是利用了X射线的直进性D、X射线胶片接受的散射线不形成图像
考题
隔离开关镀银层厚度检测使用X射线荧光镀层测厚仪，通过从被检件上反射的二次X射线强度测量镀银层厚度，检测范围可达（）μm。A、0.1-5B、0.01-5C、0.1-50D、0.01-50
考题
国网公司《2017年输变电设备金属专项技术监督工作方案》中规定，对构支架镀锌层厚度抽检时，建议采用（）进行镀锌层厚度测量。A、磁性镀层测厚仪B、超声波镀层测厚仪C、涡流镀层测厚仪D、X射线荧光镀层检测仪
考题
用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（）A、内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近B、内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近C、内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大D、两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大
考题
单选题用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（）A
内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近B
内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近C
内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大D
两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大
考题
多选题关于经射线照片图像的形成，正确的说法是（）。AX射线透过被照体之后的透射线和散射线，照射到胶片上形成照片图像。BX射线照片图像是X射线被投照体吸收与散射后形成的CX射线照片图像是利用了X射线的直进性DX射线胶片接受的散射线不形成图像
考题
填空题压延机中使用的同位素测厚仪是利用放射性同位素的β射线透过橡胶等被测物的强度与被测物厚度按一定关系衰减的原理而设计的，有（）和（）两种形式。
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