考题
锻件超声波探伤中,荧光屏上出现“淋状波”时,是由于()。
A、工件中有大面积倾斜缺陷B、工件材料晶粒粗大C、工件中有密集缺陷D、以上全部
考题
锻件探伤中，荧光屏上出现”林状(丛状)波“时，是由于()A.工件中有小而密集缺陷
B.工件材料中有局部晶粒粗大区域
C.工件中有疏松缺陷
D.以上都有可能
考题
在检查工件时，只要无缺陷回波，就可判为合格品。
考题
在超声波检测法测量缺陷大小中，将工件中的自然缺陷回波与试块上的人工缺陷回波进行比较来对缺陷定量的方法被称作当量AVG曲线法。
考题
在检验工件时，虽无缺陷回波，但底波高度剧烈下降，这可能是由于工件内的缺陷大而平且与入射声束取向不良，或存在疏松，晶粒粗大。
考题
在锻件检测中，显示屏上的反射波可分为单个、分散、密集、游动缺陷反射波及底面回波。
考题
对于超声波检测中的脉冲反射法，若工件内存在缺陷，超声波会在缺陷处反射，仪器显示屏上会有发射脉冲T、底面回波B和缺陷回波F。
考题
锻件探伤中，荧光屏上出现“林状（丛状）波”时，是由于（）A、工件中有小而密集缺陷B、工件材料中有局部晶粒粗大区域C、工件中有疏松缺陷D、以上都有可能
考题
焊缝中的气孔缺陷常见的主要分布形态是（）。A、孤立B、密集、链状C、虫状D、以上都是
考题
在锻件探伤中，出现草状回波的原因主要是由于（）A、工件内有大缺陷B、灵敏度过高C、晶粒粗大和树枝状结晶
考题
锻件探伤中，荧光屏上出现“林状波”时，是由于（）A、工件中有大面积倾斜缺陷B、工件材料晶粒粗大C、工件中有密集缺陷D、以上全部
考题
在锻件探伤中，出现草状回波的原因很有可能是由于（）A、工件内有大缺陷B、灵敏度过高C、晶粒粗大和树枝状结晶
考题
在确定缺陷当量时，通常在获得缺陷的最高回波时加以测定，这是因为：（）A、只有当声束投射到整个缺陷发射面上才能得到反射回波最大值B、只有当声束沿中心轴线投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值C、只有当声束垂直投射到工件内缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值D、人为地将缺陷信号的最高回波规定为测定基准
考题
锻件超声检测中，常见的非缺陷回波分为三角反射波、迟到波、密集缺陷反射波。
考题
在轴件探伤中，出现草状回波的原因很有可能是由于（）。A、工件内有大缺陷B、灵敏度过高C、晶粒粗大和树枝状结晶D、以上都不对
考题
直探头接触法探伤时，发现缺陷回波较低，且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈（）。
考题
单探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是：（）。A、来自工件表面的杂波B、来自探头的噪声C、工件上近表面缺陷的回波D、耦合剂噪声
考题
单选题在锻件探伤中，出现草状回波的原因主要是由于（）A
工件内有大缺陷B
灵敏度过高C
晶粒粗大和树枝状结晶
考题
判断题在超声波检测法测量缺陷大小中，将工件中的自然缺陷回波与试块上的人工缺陷回波进行比较来对缺陷定量的方法被称作当量AVG曲线法。A
对B
错
考题
判断题对于超声波检测中的脉冲反射法，若工件内存在缺陷，超声波会在缺陷处反射，仪器显示屏上会有发射脉冲T、底面回波B和缺陷回波F。A
对B
错
考题
判断题在检验工件时，虽无缺陷回波，但底波高度剧烈下降，这可能是由于工件内的缺陷大而平且与入射声束取向不良，或存在疏松，晶粒粗大。A
对B
错
考题
单选题单斜探头检测时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是（）。A
来自工件表面的杂波B
来自探头的噪声C
工件上近表面缺陷的回波D
耦合剂噪声
考题
判断题在锻件检测中，显示屏上的反射波可分为单个、分散、密集、游动缺陷反射波及底面回波。A
对B
错
考题
单选题锻件探伤中，荧光屏上出现“林状波”时，是由于（）A
工件中有大面积倾斜缺陷B
工件材料晶粒粗大C
工件中有密集缺陷D
以上全部
考题
判断题锻件超声检测中，常见的非缺陷回波分为三角反射波、迟到波、密集缺陷反射波。A
对B
错
考题
单选题在锻件探伤中，出现草状回波的原因很有可能是由于（）A
工件内有大缺陷B
灵敏度过高C
晶粒粗大和树枝状结晶