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判断题
在检验工件时,虽无缺陷回波,但底波高度剧烈下降,这可能是由于工件内的缺陷大而平且与入射声束取向不良,或存在疏松,晶粒粗大。
A

B


参考答案

参考解析
解析: 暂无解析
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考题 用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响),它们的当量()。A、面积大的,当量也一定大B、面积大的,当量不一定比面积小的大C、面积大的,当量反而比面积小的小D、它们的当量相等

考题 在检验零件时,若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波高度的剧烈下降,引起 这种情况的原因( )。A.可能是疏松B.可能是大晶粒C.可能是大而平的缺陷与入射声束取向不良D.上述三种都可能

考题 锻件探伤中,荧光屏上出现”林状(丛状)波“时,是由于()A.工件中有小而密集缺陷 B.工件材料中有局部晶粒粗大区域 C.工件中有疏松缺陷 D.以上都有可能

考题 在检验工件时若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波,若底面回波的高度剧烈下降,引起这种情况的原因可能是():A.大而平的缺陷与入射声束取向不良 B.疏松 C.晶粒粗大 D.以上都是

考题 在检验工件时,虽无缺陷回波,但底波高度剧烈下降,这可能是由于工件内的缺陷大而平且与入射声束取向不良,或存在疏松,晶粒粗大。

考题 方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向可能是()A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面

考题 在直接接触法直探头探伤时,底波消失的原因可能有()A、耦合不良B、存在与声束不垂直的平面缺陷C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、工件材料衰减过大

考题 在检验零件时,若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波高度的剧烈下降,引起这种情况的原因可能是()A、在而平的缺陷与入射声束取向不良B、疏松C、大晶粒D、上述三种都可能引起这种情况

考题 锻件探伤中,荧光屏上出现“林状(丛状)波”时,是由于()A、工件中有小而密集缺陷B、工件材料中有局部晶粒粗大区域C、工件中有疏松缺陷D、以上都有可能

考题 在锻件探伤中,出现草状回波的原因主要是由于()A、工件内有大缺陷B、灵敏度过高C、晶粒粗大和树枝状结晶

考题 锻件探伤中,荧光屏上出现“林状波”时,是由于()A、工件中有大面积倾斜缺陷B、工件材料晶粒粗大C、工件中有密集缺陷D、以上全部

考题 在锻件探伤中,出现草状回波的原因很有可能是由于()A、工件内有大缺陷B、灵敏度过高C、晶粒粗大和树枝状结晶

考题 在检验工件时,若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波,若底面回波的高度剧烈下降,引起这种情况的原因可能是()A、大而平的缺陷与入射声束取向不良B、疏松C、晶粒粗大D、以上都是

考题 在轴件探伤中,出现草状回波的原因很有可能是由于()。A、工件内有大缺陷B、灵敏度过高C、晶粒粗大和树枝状结晶D、以上都不对

考题 用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响),它们的当量()。A、面积大的,当量也一定大B、面积大的,当量不一定比面积小的大C、面积大的,当量反而比面积小的小D、相等

考题 在检验零件时,若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波高度的剧烈下降,引起这种情况的原因()。A、可能是疏松B、可能是大晶粒C、可能是大而平的缺陷与入射声束取向不良D、上述三种都可能

考题 方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一游动缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷取向可能是()。A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面

考题 检验工件时若无缺陷波显示,工作者应注意底面回波高度的剧烈下降,引起这种情况的原因可能是什么?

考题 单选题在检验工件时,引起底波明显降低或消失的因素有:()A 工件内部存在倾斜的大缺陷B 工件内部存在疏松缺陷C 工件内部存在材质衰减大的部位D 以上都是

考题 单选题在检验零件时,若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波高度的剧烈下降,引起这种情况的原因可能是()A 在而平的缺陷与入射声束取向不良B 疏松C 大晶粒D 上述三种都可能引起这种情况

考题 单选题方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一游动缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷取向可能是()。A 平行且靠近探测面B 与声束方向平行C 与探测面成较大角度D 平行且靠近底面

考题 单选题在检验零件时,若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波高度的剧烈下降,引起这种情况的原因()。A 可能是疏松B 可能是大晶粒C 可能是大而平的缺陷与入射声束取向不良D 上述三种都可能

考题 单选题在检验工件时,若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波,若底面回波的高度剧烈下降,引起这种情况的原因可能是()A 大而平的缺陷与入射声束取向不良B 疏松C 晶粒粗大D 以上都是

考题 单选题方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向可能是()A 平行且靠近探测面B 与声束方向平行C 与探测面成较大角度D 平行且靠近底面

考题 单选题锻件探伤中,荧光屏上出现“林状波”时,是由于()A 工件中有大面积倾斜缺陷B 工件材料晶粒粗大C 工件中有密集缺陷D 以上全部

考题 问答题检验工件时若无缺陷波显示,工作者应注意底面回波高度的剧烈下降,引起这种情况的原因可能是什么?

考题 单选题在锻件探伤中,出现草状回波的原因很有可能是由于()A 工件内有大缺陷B 灵敏度过高C 晶粒粗大和树枝状结晶