考题
磁压力式氧分析仪的薄膜电容检测器动片一般采用（）膜。A、钛B、镍C、铬D、铂
考题
红外线气体分析仪的基本元件有：（）A、光源B、气室C、检测器D、切光器
考题
薄膜电容检测器是红外气体分析仪长期使用的传统检测器，通常定片与薄膜间电容量为（）pF。A、2～10B、2.5～25C、10～50D、40～100
考题
双光路红外分析仪通常采用薄膜检测器，其接受气室要充有（）气体。A、待测气B、氮气C、参比气体D、少量惰性气体
考题
下列选项中，（）会造成红外线气体分析仪灵敏度下降。A、测量气室漏气B、检测器电容短路C、检测器漏气D、测量气室被污染
考题
双光路红外分析仪通常采用（）。A、薄膜电容检测器B、半导体检测器C、光电检测器D、微电流检测器
考题
红外线气体分析仪薄膜电容检测器漏气会造成仪表（）。A、指示回零B、指示满度C、零点连续正漂D、灵敏度下降
考题
红外线分析仪常用的检测器有（）、半导体和微流量检测器三种。A、电阻式B、薄膜电容C、电感式D、电解式
考题
采用薄膜电容检测器的红外线分析仪切光频率的选择与（）有关。A、检测器的灵敏度B、切光片的几何尺寸C、光源强度D、切光马达
考题
以下气体不能用红外分析仪测量的是（）。A、氯气B、乙烯C、甲烷D、二氧化碳
考题
红外线分析仪检测器内封装（）气体。A、被测气体B、干扰组分C、中性气体D、参比气体
考题
采用电容式检测器的红外线气体分析仪，如果检测室漏气将会引起仪表（）。A、示值零点升高B、示值零点降低C、灵敏度升高D、灵敏度降低
考题
热导检测器式分析仪是通过测量混合气体热导率的变化量来实现对被测组分的测量的，对混合气体热导率的变化量是通过（）进行测量的。A、微电流检测器B、光电检测器C、不平衡电桥D、薄膜电容检测器
考题
薄膜电容检测器当接收气室内的气体（）受红外辐射能的影响而变化时，推动电容动片相对于定片移动，把被测组分浓度变化转变成电容量变化。A、温度B、压力C、流量D、传热能力
考题
磁压力式氧分析仪通被测气体时指示为零，可能产生此种故障的原因有（）。A、电源未接通B、气路不通C、薄膜电容器短路D、薄膜电容器开路
考题
红外线气体分析仪薄膜电容检测器电容短路会造成仪表（）。A、指示回零B、指示满度C、零点连续正漂D、灵敏度下降
考题
薄膜电容检测器是红外气体分析仪长期使用的传统检测器，通常定片与薄膜间绝缘电阻要大于（）MΩ。A、105B、40C、10D、5
考题
下列选项中，（）会造成红外线气体分析仪指示回零。A、切光片松动B、检测器电容短路C、测量气室漏气D、光路透镜污染
考题
可能导致红外线分析仪指示满刻度的原因是（）。A、连接电缆断路B、电源电压不稳C、光路透镜污染D、检测器电容短路
考题
红外气体分析仪电容式检测器的输出信号大小是与检测电容的（）成正比。A、大小B、变化量C、耐压值D、容量
考题
红外线气体分析仪红外光源经切光装置分别进入工作气室和参比气室进行比较，参比气室中充入对红外线不吸收的（）。A、氧气B、氮气C、一氧化碳D、二氧化碳
考题
红外分析仪的结构型式较多；分类方法各异，从采用的检测器类型来划分可分为（）。A、分光型和不分光型B、单光路和双光路C、色散型和非色散型D、薄膜电容检测器、半导体检测器和微流量检测器
考题
红外线分析仪常使用的薄膜电容器的优点有（）。A、调制频率不会提高B、薄膜不易受振动影响C、选择性好D、灵敏度高
考题
测定环境空气和废气中一氧化碳时，所用非分散红外吸收分析器的常用光检测器有薄膜电容（）。
考题
红外成像检漏测试前，设备本体及相关管路安装完毕并已充入（）气体。A、氮气B、六氟化硫C、二氧化碳D、氧气
考题
填空题测定环境空气和废气中一氧化碳时，所用非分散红外吸收分析器的常用光检测器有薄膜电容（）。