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采用薄膜电容检测器的红外线分析仪切光频率的选择与()有关。

  • A、检测器的灵敏度
  • B、切光片的几何尺寸
  • C、光源强度
  • D、切光马达

参考答案

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考题 磁压力式氧分析仪的薄膜电容检测器动片一般采用()膜。A、钛B、镍C、铬D、铂

考题 红外线气体分析仪的基本元件有:()A、光源B、气室C、检测器D、切光器

考题 薄膜电容检测器是红外气体分析仪长期使用的传统检测器,通常定片与薄膜间电容量为()pF。A、2~10B、2.5~25C、10~50D、40~100

考题 双光路红外分析仪通常采用薄膜检测器,其接受气室要充有()气体。A、待测气B、氮气C、参比气体D、少量惰性气体

考题 红外线分析仪指示为零的原因有()。A、样品压力小B、切光马达启动力矩不足C、光路透镜污染D、检测器电容短路

考题 下列选项中,()会造成红外线气体分析仪灵敏度下降。A、测量气室漏气B、检测器电容短路C、检测器漏气D、测量气室被污染

考题 双光路红外分析仪通常采用()。A、薄膜电容检测器B、半导体检测器C、光电检测器D、微电流检测器

考题 红外线气体分析仪薄膜电容检测器漏气会造成仪表()。A、指示回零B、指示满度C、零点连续正漂D、灵敏度下降

考题 红外线分析仪常用的检测器有()、半导体和微流量检测器三种。A、电阻式B、薄膜电容C、电感式D、电解式

考题 采用薄膜电容器作为检测器的线外线气体分析器,其光学系统的灵敏度与切光片的调制频率之间的关系是()A、增加调制频率的改变不会影响其灵敏度B、适当减少调制频率会提高其灵敏度C、增加调制频率会增加其灵敏度D、调制频率的改变不会影响其灵敏度

考题 红外线分析仪的()应频率稳定,波动不能超过0.5HZ,波形不能有畸变。A、同步电机B、供电电源C、光源D、检测器

考题 红外线分析仪切光片的作用是()。A、对红外光进行调制B、对红外光进行滤波C、对红外光进行放大D、对红外光进行分解

考题 采用电容式检测器的红外线气体分析仪,如果检测室漏气将会引起仪表()。A、示值零点升高B、示值零点降低C、灵敏度升高D、灵敏度降低

考题 热导检测器式分析仪是通过测量混合气体热导率的变化量来实现对被测组分的测量的,对混合气体热导率的变化量是通过()进行测量的。A、微电流检测器B、光电检测器C、不平衡电桥D、薄膜电容检测器

考题 红外线气体分析仪切光频率增高时,响应增快,仪器灵敏度()。A、上升B、下降C、不变D、无法比较

考题 红外线气体分析仪产生回程的原因是()。A、检测器故障B、测量室污染C、测量光路比参比光路的光强D、参比光路比测量光路的光强

考题 红外线分析仪指示出现摆动干扰可能的原因是()。A、晶片上有尘埃B、检测器漏气C、切光片松动D、元件老化

考题 红外线气体分析仪薄膜电容检测器电容短路会造成仪表()。A、指示回零B、指示满度C、零点连续正漂D、灵敏度下降

考题 薄膜电容检测器是红外气体分析仪长期使用的传统检测器,通常定片与薄膜间绝缘电阻要大于()MΩ。A、105B、40C、10D、5

考题 下列选项中,()会造成红外线气体分析仪指示回零。A、切光片松动B、检测器电容短路C、测量气室漏气D、光路透镜污染

考题 可能导致红外线分析仪指示满刻度的原因是()。A、连接电缆断路B、电源电压不稳C、光路透镜污染D、检测器电容短路

考题 可能导致红外线分析仪灵敏度下降的原因有()。A、样品流量大B、检测器漏气C、光路透镜污染D、元件老化

考题 红外二氧化碳分析仪中的薄膜电容检测器内应充入()气体.A、H2B、N2C、CO2D、隋性气体

考题 对采用薄膜电容器作为检测器的红外线分析器,其光学系统的灵敏度与切光片的调制频率之间的关系是:()A、调制频率的改变不会影响其灵敏度B、增加调制频率会提高其灵敏度C、适当减少调制频率会提高其灵敏度

考题 红外分析仪的结构型式较多;分类方法各异,从采用的检测器类型来划分可分为()。A、分光型和不分光型B、单光路和双光路C、色散型和非色散型D、薄膜电容检测器、半导体检测器和微流量检测器

考题 红外线分析仪常使用的薄膜电容器的优点有()。A、调制频率不会提高B、薄膜不易受振动影响C、选择性好D、灵敏度高

考题 采用薄膜电容检测器的红外线气体分析器,其光学系统的灵敏度与切光片的调制频率之间的关系是()。A、调制频率的改变不会影响其灵敏度B、调制频率提高灵敏度也提高C、适当降低调制频率会提高其灵敏度D、提高调制频率越高越好